采用分布式偏振串扰分析仪全面评判保偏光纤特性的方法和装置

摘要

公开了测量双折射材料的偏振相关参数的方法和装置，该方法包括：沿一段长度的双折射材料预设一系列已知距离周期的偏振串扰峰；引入探测光进入双折射材料，并检测从双折射材料出来的探测光；处理检测到的探测光，来确定感应到的已知距离周期的偏振串扰峰位置和宽度；并使用得到的已知距离周期的偏振串扰峰的位置和宽度，来提取双折射材料的一个或多个偏振相关参数。