首页> 中国专利> 一种高灵敏度光阱测量装置及其测量方法

一种高灵敏度光阱测量装置及其测量方法

摘要

本发明公开了一种高灵敏度光阱测量装置及其测量方法。它包括样品池模块、初始捕获光阱模块、悬浮测量光阱模块、位置探测模块。首先利用初始捕获光将微粒捕获在光阱平衡点处并快速稳定,再打开悬浮测量光、同时撤去初始捕获光,使微粒稳定在悬浮测量光形成的光阱平衡点处,然后进行位移、加速度信号的高灵敏度测量。该方法在空气或真空等低阻尼条件下,可有效提高捕获效率,并使微粒快速稳定,避免了低刚度光阱捕获微粒后长时间振荡而影响测量应用的缺陷。本发明消除了一般光阱测量装置的缺点,既能高效捕获和快速稳定微粒,又对位移、加速度信号具有高的测量灵敏度。

著录项

  • 公开/公告号CN105785071A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN201610124770.6

  • 申请日2016-03-07

  • 分类号G01P15/00(20060101);G01B11/04(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人林松海

  • 地址 310027 浙江省杭州市西湖区浙大路38号

  • 入库时间 2023-06-19 00:05:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-07

    授权

    授权

  • 2016-08-17

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01P15/00 申请日:20160307

    实质审查的生效

  • 2016-07-20

    公开

    公开

说明书

技术领域

本发明涉及应用于光学工程领域的光阱测量装置,尤其是利用光学悬浮进行精密 测量的光阱测量装置及其测量方法。

背景技术

根据量子理论,光束是一群以光速运动的、既有质量又有动量的光子。当光子入射 到介质表面发生折射和反射,光子的速度和方向改变,导致其动量矢量的变化。由动量守恒 定律就可以推出,当光束入射微粒,光子的动量变化量就是微粒的动量变化量。所以光束对 微粒存在力的作用,称为光辐射压。光辐射压包括了沿光束传播方向的散射力和总是指向 光强较强处的梯度力。在这两个力的作用下,光束能在一定区域内对微粒进行捕捉,即令其 稳定在某特定位置,该区域称为光阱。

刚度在物理上的定义是指物体抵抗形变的能力,光阱测量装置的刚度(即光阱线 性系数)可以理解为在光阱某一位置处,对微粒的束缚能力。刚度越大,对微粒的束缚能力 越大;刚度越小,对微粒的束缚能力越小。也就是说,要使微粒被快速稳定捕获,需要使用刚 度较大的光阱,那么外界扰动将不易对微粒位置产生影响,导致光阱测量装置的灵敏度变 小;若要提高装置的灵敏度,则需减小光阱刚度,这又不利于微粒的捕获和快速稳定。

光阱测量装置可以用在很多领域,如光阱加速度计(陈晶,胡慧珠,白剑,舒晓武, 刘承.利用双光束悬浮光阱测量加速度的装置,CN101320049A)。

一般情况下,加速度测量的灵敏度指的是能够测量的最小加速度值。在不考虑硬 件设备限制的前提下,系统的灵敏度最终是由相同加速度下微粒的位移变化大小决定的。 假设只要微粒能对加速度做出位移上的变化,位置探测器就能探测到相应的量。

普通的光阱测量装置,若要实现对微粒的快速稳定捕获,则需使用刚度较大的光 阱,这样必然导致相同加速度下测得的微粒的位移变化小,导致其灵敏度降低;若想要提高 灵敏度,就需要提高减小光阱刚度,那么就会降低对微粒的捕获效率,增加微球被稳定捕获 的时间。

发明内容

本发明的目的是针对现有光阱测量装置的不足,提出了一种高灵敏度光阱测量装 置及其测量方法,既能高效捕获和快速稳定微粒,又对位移、加速度信号具有高的测量灵敏 度。

一种高灵敏度光阱测量装置,包括四个模块:样品池模块、初始捕获光阱模块、悬 浮测量光阱模块、位置探测模块;

样品池模块设有样品池和微粒;

初始捕获光阱模块用来将微粒首次稳定捕获在光阱平衡点处,由一束激光经过准直扩 束和聚焦后形成强梯度力光阱模块,使得样品池中的微粒被捕获和稳定;

悬浮测量光阱模块用来在撤去初始捕获光阱模块的光路的同时,利用悬浮光形成的光 阱再次将微粒稳定捕获在光阱平衡点处,是由另一束共光路的高斯光束进入样品池形成的 低刚度光阱模块,用于对位移、加速度信号的高灵敏度测量;

位置探测模块用来观察微粒的捕获效果和探测微粒的位移信号。

所述的初始捕获光阱模块包括激光器、隔离器、准直透镜L1、反射镜M1、反射镜M2、 透镜L2、透镜L3、反射镜M3、物镜OBJ、分色镜D;激光器发出激光,即初始捕获光束,经准直透 镜L1准直,经反射镜M1、反射镜M2后,经透镜L2、透镜L3扩束,经反射镜M3反射,进入物镜OBJ 后,通过分色镜D在样品池内高效捕获微粒。

所述的悬浮测量光阱模块包括激光器、分色镜D;激光器发出高斯光,通过分色镜D 在样品池内形成光阱,并稳定捕获微粒,形成对位移、加速度信号具有高灵敏度的单光束悬 浮测量光阱。

所述的样品池内设有密闭腔,密闭腔采用薄片打孔或挖槽工艺,样品池内可以是 液体、空气或真空,最后用盖玻片密封以阻隔气流扰动引入误差。

所述的位置探测模块依次包括成像透镜L4、CCD。

所述的微粒为尺寸在um到mm量级的光学均匀透明微粒,满足在相应环境中被捕获 光稳定捕获,材料是聚苯乙烯或二氧化硅。

所述的样品池是光学均匀介质,激光器发出的激光能均匀通过。

一种根据所述的装置进行高灵敏度光阱测量的方法,首先利用初始捕获光阱模块 将微粒稳定捕获在光阱平衡点处,再打开悬浮测量光阱光路、同时撤去初始捕获光阱光路, 利用悬浮光形成的光阱重新将微粒稳定捕获在光阱平衡点处,用位置探测模块来观察微粒 的捕获效果和探测微粒的位移信号。

本发明的有益效果,具有一般的光阱测量装置所不具有的优势:

兼顾捕获效率和测量灵敏度,提出了一种高灵敏度光阱测量装置及其测量方法,既能 提高捕获效率和缩短捕获后的稳定时间,又对位移、加速度信号具有高的测量灵敏度。

附图说明

图1是本发明高灵敏度光阱测量装置的一个结构示意图;

图2是本发明高灵敏度光阱测量装置实现的一个光路图。

具体实施方式

参照图1,一种高灵敏度光阱测量装置,包括四个模块:样品池模块、初始捕获光阱 模块、悬浮测量光阱模块、位置探测模块;

样品池模块设有样品池和微粒,将光路准直,使初始捕获光和悬浮光形成的光阱平衡 点重合。首先利用初始捕获光阱模块将微粒稳定捕获在光阱平衡点处,再打开悬浮测量光 阱光路、同时撤去初始捕获光阱光路,利用悬浮光形成的光阱重新稳定捕获微粒,用位置探 测模块来观察微粒的捕获效果和探测微粒的位移信号。

参照图2,所述的初始捕获光阱模块包括激光器、隔离器、准直透镜L1、反射镜M1、 反射镜M2、透镜L2、透镜L3、反射镜M3、物镜OBJ、分色镜D;激光器发出激光,即初始捕获光 束,经准直透镜L1准直,经反射镜M1、反射镜M2后,经透镜L2、透镜L3扩束,经反射镜M3反射, 进入物镜OBJ后,通过分色镜D进入样品池内,此时的初始捕获光的刚度较大,对微粒的束缚 作用强,微粒对外界的位移、加速度信号不敏感。

所述的悬浮测量光阱模块包括激光器、分色镜D;激光器发出高斯光,通过分色镜D 进入样品池内,此时未经聚焦的高斯光的刚度较小,对微粒的束缚作用较弱,微粒能对外界 的位移、加速度信号做出快速反应。

在进行测量前,进行光路对准,分别观察CCD图像中的初始捕获光和悬浮光形成的 光斑,使它们重合,从而使初始捕获光和悬浮光形成的光阱平衡点重合。

所述的样品池模块包括样品池以及微粒,样品池内设有密闭腔,密闭腔采用薄片 打孔或挖槽工艺,样品池内可以是液体、空气或真空,最后用盖玻片密封以阻隔气流扰动引 入误差。

所述的位置探测模块依次包括成像透镜L4、CCD。CCD输出的微粒被捕获的图像信 号可以通过计算机进行观察。

实验时利用初始捕获光阱模块将微粒首次稳定捕获在光阱平衡点处,再打开悬浮 测量光阱光路、同时撤去初始捕获光阱光路,利用悬浮光形成的光阱再次稳定捕获微粒,用 位置探测模块来观察微粒的捕获效果和探测微粒的位移信号(通过计算机观察CCD输出的 微粒被捕获的图像信号)。

假设位移量为x,线性系数为k,微粒的质量为m,由于光阱力在一定范围内是线性 的,系统加速度可以表示为:

由于加速度计的输出为微粒的位移,可以得出加速度计的灵敏度是由系统所能检测到 的最小位移决定的。由上式可看出,微粒的位移与光阱线性范围内的线性系数k成反比,这 就是说,同一个加速度下,光阱线性系数越小(即光阱的刚度越小),微粒位移越大,加速度 计的灵敏度越高;光阱线性系数越大(即光阱的刚度越大),微粒位移越小,加速度计的灵敏 度越低。

综上所述,由于初始捕获光的刚度较大,悬浮光的刚度较小,这样既能实现微粒快 速稳定捕获,而且基于LFA原理,又具有较高的测量灵敏度。并且在空气或真空等低阻尼条 件下,这种装置在提高捕获效率的同时,可以使微粒位置快速稳定,避免了低刚度光阱捕获 后微粒位置长时间振荡的现象,有益于测量应用。

所述的微粒为尺寸在um到mm量级的光学均匀透明微粒,满足在相应环境中被捕获 光稳定捕获,材料是聚苯乙烯或二氧化硅。

所述的样品池是光学均匀介质,激光器发出的激光能均匀通过。

最后所应说明的是,以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制。尽管参 照实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,对本发明的技术方 案进行修改或者等同替换,都不脱离本发明技术方案的精神和范围,其均应涵盖在本发明 的权利要求范围当中。

去获取专利,查看全文>

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号