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微纳米三坐标测量机接触式扫描探头

摘要

本发明公开了一种微纳米三坐标测量机接触式扫描探头,其特征是在探头壳体中设置测头单元和测量单元;测头单元是以悬浮片(5a)在底座(6)的内腔中形成悬浮结构,在悬浮片的中心通孔中固定安装带有测球的探针,探针自底座的底部端口中探出,并且能够不受底座的底部端口的干扰而摆动;测量单元是设置在悬浮片的各悬臂上的电容传感器;本发明利用电容传感器的输出信号作为探头的检测信号,能够获得高精度、高灵敏度和小测力的探测效果,同时具有高稳定性和低成本的优势。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-11-09

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B7/012 申请公布日:20160622 申请日:20160307

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2016-07-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B7/012 申请日:20160307

    实质审查的生效

  • 2016-06-22

    公开

    公开

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