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一种基于边缘结构的背景杂波度量方法

摘要

本发明涉及一种基于边缘结构的背景杂波度量方法,将背景图像分割成大小与目标图像大小相同的单元;建立图像结构特征空间上的目标图像与单元背景杂波图像之间的相似性度量;通过梯度直方图的方法建立目标图像与单元背景杂波图像的边缘结构特征描述,并选用巴氏系数计算图像边缘结构的相似性度量;以目标图像与单元背景杂波图像的边缘结构相似性度量对目标图像和单元背景杂波图像的结构相似性度量进行加权作为单元背景图像的杂波度量,所有单元背景图像杂波度量的平均值,作为整幅背景图像的杂波度量。本发明充分体现人眼视觉在目标识别中主要关注物体结构的特性,提高对成像系统外场性能预测和评估的准确度。

著录项

  • 公开/公告号CN105654452A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-06-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院沈阳自动化研究所;

    申请/专利号CN201410628060.8

  • 申请日2014-11-10

  • 分类号G06T7/00(20060101);

  • 代理机构21002 沈阳科苑专利商标代理有限公司;

  • 代理人许宗富

  • 地址 110016 辽宁省沈阳市南塔街114号

  • 入库时间 2023-12-18 15:46:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-21

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06T7/00 申请公布日:20160608 申请日:20141110

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2016-07-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06T7/00 申请日:20141110

    实质审查的生效

  • 2016-06-08

    公开

    公开

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