首页> 中国专利> 超低温环境下进行光学应变场测量的试片拉伸试验系统

超低温环境下进行光学应变场测量的试片拉伸试验系统

摘要

本发明属于结构低温静力试验技术领域,具体涉及一种超低温环境下进行光学应变场测量的试片拉伸试验系统。液氮槽固定在承力地轨上,在液氮槽的侧面承力板上连接固定法兰,固定法兰与第一个试片夹头连接,再依次连接拉伸试片和第二个试片夹头,第二个试片夹头与转接工装连接;滑轮支架固支连接在液氮槽的固定承力底板上,定滑轮安装在滑轮支架上;在液氮槽的外部,搭建承力龙门架,龙门架包括承力梁、直立柱、底座;力传感器依次与连接拉杆、作动筒连接形成拉力载荷施加系统,钢丝绳一端与转接工装进行连接,通过定滑轮转向,钢丝绳的另一端与拉力载荷施加系统的力传感器连接;作动筒通过调节板与承力梁连接;液氮槽的上方设置有CCD照相机和LED光源。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-07

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N3/18 申请公布日:20160518 申请日:20141024

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-06-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N3/18 申请日:20141024

    实质审查的生效

  • 2016-05-18

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号