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宇航级VMOS管功能性完好的测试方法

摘要

本发明提供了一种宇航级VMOS管功能性完好的测试方法,采用MF500型指针式万用表,具体地,用调至R×1K档位的MF500型指针式万用表欧姆档,测量VMOS管的源极和漏极之间、栅极和源极之间、栅极和漏极之间的电阻值;MF500型指针式万用表采用内部1.5V电池供电,该电池电压值低于VMOS管的阈值电压VGS(th)。本发明可对宇航级VMOS管的极间阻抗进行测试并给出功能性好坏的结论。

著录项

  • 公开/公告号CN105467290A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海卫星装备研究所;

    申请/专利号CN201510819911.1

  • 发明设计人 谢永权;柳金生;

    申请日2015-11-23

  • 分类号G01R31/26;G01R27/02;

  • 代理机构上海汉声知识产权代理有限公司;

  • 代理人郭国中

  • 地址 200240 上海市闵行区华宁路251号

  • 入库时间 2023-12-18 15:20:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-07

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R31/26 申请公布日:20160406 申请日:20151123

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-05-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20151123

    实质审查的生效

  • 2016-04-06

    公开

    公开

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