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光偏折检测模块及使用其检测及误差校正的方法

摘要

本发明关于一种光偏折检测模块,包含一检测载台、一面光源、至少两个扫描摄影机及一矫正标准面。检测载台用以承载待测物,面光源设置于检测载台上方,提供一平面光朝检测载台照射。至少两个扫描摄影机设置于面光源的相对侧。矫正标准面邻设于检测载台。其中,当面光源朝检测载台照射平面光后,平面光将会被待测物的表面及矫正标准面反射,至少两个扫描摄影机在接收被待测物的表面及矫正标准面所反射的平面光后,适于由一处理器进行一数值分析,以获得相关检测数据并进行误差校正作业。

著录项

  • 公开/公告号CN105373788A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-03-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 政美应用股份有限公司;

    申请/专利号CN201510446795.3

  • 发明设计人 蔡政道;

    申请日2015-07-27

  • 分类号G06K9/03;G06K9/32;

  • 代理机构上海一平知识产权代理有限公司;

  • 代理人须一平

  • 地址 中国台湾新竹县竹北市台元一街8号4楼-9

  • 入库时间 2023-12-18 14:35:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-11

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06K9/03 申请公布日:20160302 申请日:20150727

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2016-03-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/03 申请日:20150727

    实质审查的生效

  • 2016-03-02

    公开

    公开

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