公开/公告号CN105259196A
专利类型发明专利
公开/公告日2016-01-20
原文格式PDF
申请/专利权人 日本株式会社日立高新技术科学;
申请/专利号CN201510393954.8
发明设计人 佐久田昌博;
申请日2015-07-07
分类号G01N23/223;
代理机构北京三友知识产权代理有限公司;
代理人李辉
地址 日本东京都
入库时间 2023-12-18 13:47:49
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-11-29
发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N23/223 申请公布日:20160120 申请日:20150707
发明专利申请公布后的驳回
2017-07-25
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20150707
实质审查的生效
2016-01-20
公开
公开
机译: 荧光X射线分析方法,荧光X射线分析程序以及荧光X射线分析装置
机译: 用于样品架的X射线荧光分析以及使用该X射线荧光分析的荧光X射线分析方法和装置
机译: 全反射荧光X射线分析方法,全反射荧光X射线分析预处理装置以及全反射荧光X射线分析仪