首页> 中国专利> X射线分析用试样板以及荧光X射线分析装置

X射线分析用试样板以及荧光X射线分析装置

摘要

本发明提供X射线分析用试样板以及荧光X射线分析装置,在荧光X射线分析中能够提高试样测定的作业性并且能够抑制差错的发生。该X射线分析用试样板(1),其固定有利用荧光X射线分析装置进行分析时的试样(S),该X射线分析用试样板具备试样和支承试样的板状主体(2),板状主体具有代码显示部(3),其是至少对关于试样的信息进行编码后显示的。另外,该荧光X射线分析装置具备:X射线管球,其对试样照射一次X射线;检测器,其检测由被照射了一次X射线的试样发生的荧光X射线;试样台,其设置X射线分析用试样板;摄像单元,其对代码显示部进行摄像;以及代码处理部,其对摄像单元所摄像的、基于代码显示部编码的代码显示部的信息进行解码。

著录项

  • 公开/公告号CN105259196A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本株式会社日立高新技术科学;

    申请/专利号CN201510393954.8

  • 发明设计人 佐久田昌博;

    申请日2015-07-07

  • 分类号G01N23/223;

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人李辉

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-18 13:47:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-29

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N23/223 申请公布日:20160120 申请日:20150707

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-07-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20150707

    实质审查的生效

  • 2016-01-20

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号