首页> 中国专利> 用于磁位置测量系统的射线可透过的发射器

用于磁位置测量系统的射线可透过的发射器

摘要

提供了用于磁位置测量系统的射线可透过的发射器。其中,用于在磁位置测量系统中使用的设备包括发射器。发射器包括具有低X射线横截面的场生成元件。场生成元件包括布置在片材或板材中的至少一个导电螺旋体。该至少一个螺旋体是平面的。发射器还包括围绕场生成元件的非场生成区域。

著录项

  • 公开/公告号CN105167787A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-12-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 阿森松技术公司;

    申请/专利号CN201510053382.9

  • 发明设计人 韦斯特利·S·阿舍;

    申请日2015-02-02

  • 分类号A61B6/00;A61B19/00;

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人杜诚

  • 地址 美国佛蒙特州

  • 入库时间 2023-12-18 13:04:21

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-03

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):A61B6/00 申请公布日:20151223 申请日:20150202

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-01-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/00 申请日:20150202

    实质审查的生效

  • 2015-12-23

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号