基于X射线衍射全谱的多晶材料残余应力测量方法

摘要

一种基于X射线衍射全谱的多晶材料残余应力测量方法，是利用一张X射线衍射谱线，在考虑了多晶体晶粒取向的基础上，获得多晶体材料平面应变，在此基础上结合多晶体材料应力应变关系，最终计算出多晶体材料残余应力值。本发明在计算材料应变过程中考虑了多晶体材料晶粒取向，避免了由于多晶体材料的择优取向对传统X射线衍射应力分析方法的影响，为多晶体材料残余应力测量提供了一种方便快捷的方法。