首页> 中国专利> 一种用于三维测量的光栅条纹相位求解方法

一种用于三维测量的光栅条纹相位求解方法

摘要

本发明提出一种用于三维测量的光栅条纹相位求解方法,使用计算机生成四幅光栅条纹;使用投影仪将生成的四幅光栅条纹透射到待测物表面,使用摄像机同步拍摄经待测物调制的四幅条纹图像;根据四幅条纹图像求解四幅光栅条纹中包含的两个不同的相位,然后相位去包裹获得用于三维重建的绝对相位。本发明只需使用四幅结构光条纹就能进行相位求解与去包裹。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-12-14

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B11/25 申请公布日:20151111 申请日:20150724

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2015-12-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/25 申请日:20150724

    实质审查的生效

  • 2015-11-11

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号