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公开/公告号CN104946151A
专利类型发明专利
公开/公告日2015-09-30
原文格式PDF
申请/专利权人 日东电工株式会社;
申请/专利号CN201510147698.4
发明设计人 大西谦司;三隅贞仁;村田修平;宍户雄一郎;木村雄大;
申请日2015-03-31
分类号C09J7/02(20060101);H01L21/683(20060101);H01L21/78(20060101);
代理机构北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人刘新宇;李茂家
地址 日本大阪府
入库时间 2023-12-18 11:09:35
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-03-15
实质审查的生效 IPC(主分类):C09J7/02 申请日:20150331
实质审查的生效
2015-09-30
公开
机译: 芯片接合薄膜,切割/芯片接合薄膜,制造芯片接合薄膜的方法以及具有芯片接合薄膜的半导体装置
机译: 热固性芯片接合膜,具有切割片的芯片接合膜,热固性芯片接合膜的制造方法以及半导体装置的制造方法
机译: 芯片接合膜,具有切割片的芯片接合膜,半导体装置及半导体装置的制造方法
机译:中国的光学薄膜制造商石英光敏电力对应于LED,医疗装置,半导体器件半导体薄膜膜形成技术,以及半导体的半导体薄膜膜形成技术
机译:通过蓝色半导体激光器在柔性面板上制造Si结晶薄膜的方法,并用作功能装置
机译:通过无水氢氟酸气体预期在下一代半导体制造 - 天然薄膜去除技术中预期的干洗装置
机译:具有集成微流体冷却功能的3D芯片堆叠的图案化的芯片对芯片薄膜接合
机译:光电卤化物半导体薄膜和装置的新型制造方法
机译:基于带有微芯片的过渡掺杂半导体纳米结构材料的智能化学传感器的制造
机译:双梁显微镜作为改进和表征的有机半导体精细薄膜的工具和装置的制造
机译:用于冷却半导体集成电路芯片封装的装置和方法。