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一种NAND闪存的差错控制码结构及其差错码控制方法

摘要

本发明公开了一种NAND闪存的差错控制码结构,包括码率为0.4~0.9的ECC编码器、码率为0.4~0.9的ECC译码器和NAND闪存控制器。本发明还公开了一种NAND闪存的差错控制码结构的差错码控制方法,包括以下步骤:1、根据不同工艺下的NAND闪存,获取闪存原始误码率与擦写次数的关系;2、计算当UBER低于10-15时可接受的RBER;3、根据前面获取的不同工艺下闪存擦写次数与原始误码率的关系,可以计算得出不同原始误码率RBER下闪存的擦写次数;4、计算闪存无误码积分信息容量;5、选取ECC的码率。本发明具有能够使得无误码积分容量最大和有效保证NAND闪存的长期稳定性等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN104932952A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-09-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201510098970.4

  • 发明设计人 姜小波;谭雪青;

    申请日2015-03-05

  • 分类号G06F11/10(20060101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人罗观祥

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2023-12-18 11:00:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-05-25

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06F11/10 申请公布日:20150923 申请日:20150305

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-10-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F11/10 申请日:20150305

    实质审查的生效

  • 2015-09-23

    公开

    公开

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