触控面板的触摸位置探测方法、触控面板检测方法及触控面板检测装置

摘要

本发明提供可以提高触摸位置的探测精密度的触控面板的触摸位置探测方法、触控面板检测方法及触控面板检测装置。所述触控面板的触摸位置探测方法，包含：探测处理工序，获取在触控面板的各感应区域探测到的静电容量值；校正工序，基于相关值，校正各静电容量值，从而计算各相关校正值；最大值搜寻工序，在各相关校正值中搜寻最大值；以及触摸位置获取工序，将对应于最大值的感应区域作为最大区域，对包含该最大区域和相邻该最大区域之其它感应区域的区域，计算基于相关校正值的重心位置，将所述算出的重心位置作为触摸位置而获取。