首页> 中国专利> 半导体激光装置、光放大器及检测突发故障的迹象的方法

半导体激光装置、光放大器及检测突发故障的迹象的方法

摘要

半导体激光装置、光放大器及检测突发故障的迹象的方法。一种半导体激光装置包括:半导体激光器,该半导体激光器在有源层中包含铝或砷化镓;检测器,该检测器检测来自半导体激光器的发射光的波长向短波长侧的偏移;以及判断器,该判断器基于通过检测器的检测结果做出关于所述半导体激光器的突发故障的迹象的判断。

著录项

  • 公开/公告号CN104713704A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-06-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号CN201410721355.X

  • 发明设计人 尾中美纪;

    申请日2014-12-02

  • 分类号

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人吕俊刚

  • 地址 日本神奈川县川崎市

  • 入库时间 2023-12-18 09:23:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-02-22

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01M11/02 申请公布日:20150617 申请日:20141202

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-07-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20141202

    实质审查的生效

  • 2015-06-17

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号