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基于硅基G-T腔的光纤温度传感系统

摘要

一种基于硅基G-T腔的光纤温度传感系统,包括依次连接的光源、硅基G-T腔光纤温度传感器和光谱分析单元,所述硅基G-T腔光纤温度传感器包括具有空腔的固定套管、双光纤头、硅传感芯片和填充物,所述硅传感芯片粘接于所述空腔内壁之间,所述双光纤头粘接于所述空腔的一端与所述硅传感芯片的一侧相对,所述硅传感芯片的另一侧相对的所述空腔以所述填充物填充。系统采用硅传感芯片,传感器各部件间采用胶进行粘接,传感器内部整体呈固体填充状态,在保持结构简单、成本低、抗电磁干扰等优点的同时,具备受外界压力干扰小、测量精度高、长期可靠性高。

著录项

  • 公开/公告号CN104697663A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-06-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳先进技术研究院;

    申请/专利号CN201310649066.9

  • 申请日2013-12-04

  • 分类号G01K11/32(20060101);

  • 代理机构44237 深圳中一专利商标事务所;

  • 代理人张全文

  • 地址 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号

  • 入库时间 2023-12-18 09:13:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-25

    授权

    授权

  • 2015-07-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01K11/32 申请日:20131204

    实质审查的生效

  • 2015-06-10

    公开

    公开

说明书

技术领域

本发明属于光纤传感技术,尤其涉及一种基于硅基G-T(Gires-Tournois) 腔的光纤温度传感系统。

背景技术

目前,温度作为一个重要的物理参量在工程应用和科学研究中占有十分重 要的地位,以热电偶、铂合金和半导体等为代表的传统温度传感器,以其原理 简单,测量精度高,成本低等优点而广泛应用在国民经济、国防建设等各个领 域,但在有强电磁干扰或易燃易爆的场合下,基于电信号测量的传统温度传感 器便显得束手无策,而光纤温度测量技术本身不带电、体积小、质量轻、易弯 曲、抗电磁干扰、抗辐射、不产生电火花和绝缘性好等特性,使得光纤温度传感 器成为存在电磁干扰、空间受限、易燃、易爆等恶劣环境下的有效温度测量手 段。已广泛应用于电力系统的开关、变压器等内部“热点”的在线监测,微波 加热、微波化学辅助仪器、微波食品加工等过程中被加热物质温度的在线测量, 射频、微波热疗仪、磁共振成像仪等医疗设备的在线安全监控,以及大电机定 子、轴瓦等关键部位温度的监测。

目前,有提出一种《光纤Fabry-Perot(法布里-珀罗,F-P)干涉式温度测 量》,基于F-P腔白光干涉原理的新型光纤温度传感器,将两根端面镀膜的多 模光纤插入空芯光纤中形成F-P干涉腔,整体再封装进铜管中进行增敏。另外, 提出了《基于非本征Fabry-Perot腔的干涉/强度调制型光纤温度传感器》,亦采 用上述类同的空腔结构,其原理皆是通过温度变化改变连接两光纤的增敏材料 的长度,进而改变了F-P腔体的长度,通过适当的解调设备实现温度信息的测 量。而上述结构中,F-P腔内为未填充状态,增敏材料与光纤间的连接易变化, 且难于控制,测量精度和长期可靠性都难以保证,使用中易受外界压力的干扰。

发明内容

基于此,有必要提供一种受外界压力干扰小、长期可靠的基于硅基G-T腔 的光纤温度传感系统。

一种基于硅基G-T腔的光纤温度传感系统,包括依次连接的光源、硅基 G-T腔光纤温度传感器和光谱分析单元,所述硅基G-T腔光纤温度传感器包括 具有空腔的固定套管、双光纤头、硅传感芯片和填充物,所述硅传感芯片粘接 于所述空腔内壁之间,所述双光纤头粘接于所述空腔的一端与所述硅传感芯片 的一侧相对,所述硅传感芯片的另一侧相对的空腔以所述填充物填充。

在其中一个实施例中,所述硅基G-T腔光纤温度传感器包括串联连接的多 个。

在其中一个实施例中,所述硅传感芯片包括硅片及设置于所述硅片相对两 侧的第一反射膜和第二反射膜,所述第一反射膜与所述双光纤头相对。

在其中一个实施例中,所述第一反射膜的反射率低于第二反射膜的反射率。

在其中一个实施例中,所述双光纤头的两根光纤之间夹角小于4度。

在其中一个实施例中,所述双光纤头为双光纤G-Lens准直器。

在其中一个实施例中,所述固定套管为金属毛细管、陶瓷套管或玻璃管。

在其中一个实施例中,所述填充物单模光纤、多模光纤或塑胶。

在其中一个实施例中,所述光源可为白光源、ASE光源、SLED光源、LED 光源或LD光源。

上述基于硅基G-T腔的光纤温度传感系统采用硅传感芯片,传感器各部件 间采用胶进行粘接,传感器内部整体呈固体填充状态,在保持结构简单、成本 低、抗电磁干扰等优点的同时,具备受外界压力干扰小、测量精度高、长期可 靠性高。

附图说明

图1是一个实施例中的基于硅基G-T腔的光纤温度传感系统的模块图;

图2是另一个实施例中基于硅基G-T腔的光纤温度传感系统的模块图;

图3是硅基G-T腔光纤温度传感器结构示意图;

图4是硅传感芯片的结构示意图;

图5是同一个硅基G-T腔的光纤温度传感器的在不同温度情况下的反射光 强光谱图;

图6是在不同参考频率和不同反射率情况下,四个硅基G-T腔的光纤温度 传感器的反射光强光谱图。

具体实施方式

为了使本发明要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白,以 下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述 的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。

G-T腔的介绍:G-T腔是F-P腔的一种,它与一般F-P腔的不同之处在于 它的腔的一个反射面接近完全反射,反射率接近1,另一个反射面为部分反射, 反射率小于1。光从部分反射面进入腔内,在腔内多次反射振荡后,从同一侧 射出,插入损耗小。在传感器应用中,这种反射式的结构使得传感器安装方便, 同时由于光源和光谱分析单元在同一侧,利于现场的操作和调试。

如图1所示,一种基于硅基G-T腔的光纤温度传感系统,包括沿光路方向 设置的光源100、与光源100通过光纤连接的硅基G-T腔光纤温度传感器200 和与硅基G-T腔光纤温度传感器200通过光纤连接的光谱分析单元300。

在进一步的实施例中,参考图2,硅基G-T腔光纤温度传感器200包括串 联连接的多个,实现多个传感器的复用,进行多个传感器信息的同时测量。由 此可知,该系统可以是具有一个或多个串联连接的硅基G-T腔光纤温度传感器 200。

如图3所示,硅基G-T腔光纤温度传感器200包括具有空腔的固定套管210、 双光纤头220、硅传感芯片230和填充物240,硅传感芯片230通过胶250粘接 于空腔内壁之间,双光纤头220通过胶250粘接于空腔的一端与硅传感芯片230 的一侧相对,硅传感芯片230的另一侧相对的空腔以填充物240填充。

结合图3、4,硅传感芯片230包括硅片231及设置于硅片231相对两侧的 第一反射膜232和第二反射膜233,第一反射膜232与双光纤头220相对,第 二反射膜233与填充物240相对。采用硅片231作为温度传感单元,不同于传 统的通过改变F-P腔长的方式,由于无外部增敏材料的需求,固定套管210仅 起保护功能,结构简单、成本低、长期可靠性高。

第一反射膜232的反射率低于第二反射膜233的反射率。第一反射膜232 为部分反射率反射膜,反射率小于1;第二反射膜233为高反射率反射膜,接 近完全反射,反射率接近1。硅传感芯片230本质上是一个G-T腔。硅片231 两侧采用镀不同反射率的反射膜,制备不同反射曲线的传感器,硅片231的厚 度决定温度测量的范围。

参考图3,双光纤头220的两根光纤之间夹角小于4度,即其取值范围: 大于0小于4度。优选地,双光纤头220为双光纤G-Lens(自聚焦透镜)准直 器。

固定套管210为金属毛细管、陶瓷套管或玻璃管。填充物240单模光纤、 多模光纤或塑胶。光源100可为白光源、ASE(自发辐射)光源、SLED(超辐 射发光二极管)光源、LED(Light Emitting Diode,发光二极管)光源或LD(Laser  Diode,激光二极管)光源。

光源100发出的光进入硅基G-T腔光纤温度传感器200,在硅基G-T腔内 经过多次反射振荡,然后从出射光纤输出,进入光谱分析单元300。

基于多模光束干涉理论,G-T腔的反射光强分布可表示如下:

IR(R1,R2)=R1-2R1.R2.cosδ+R21-2R1.R2.cosδ+R1.R2

其中:IR(R1,R2)为反射光强,R1为入射面的部分反射率,R2为反射面的接近 全反射的反射率,δ为相位。

G-T腔的自由光谱程FSR可表示如下:

FSR=c2.DFSR.n(v0,T0)

其中:DFSR为与自由光谱程FSR相对应的硅片231厚度。

硅的折射率和长度随温度发生变化,光程和相位亦随温度发生变化,进而 引起反射光强光谱的漂移。

硅的折射率与波长的关系可表示为:

n0(ν)=0.54147.λ(ν)5-4.09542.λ(ν)4+12.25821..λ(ν)3-18.0485..λ(ν)2+12.8941..λ(ν)

其中:波长与频率的关系可表示为:

λ(v)=cv

其中:c=299792.458um.GHz为光速,ν为频率,λ(ν)为频率ν对应的波长。

硅在温度T时的折射率可表示为:

n(ν,T)=n0(ν).[1+η(ν).(T-T0)]

其中:η(ν)为折射率温度系数,n0(ν)为参考波长对 应的折射率,T0为参考温度。

硅在温度T时的厚度可表示为:

D(T)=(1+CTE(T-T0)).DFSR

其中:CTE为硅的热膨胀温度系数,CTE=2.6×10-6/K。

硅在温度T时的光程可表示为:

OD(FSR,ν,T)=n(ν,T).D(T)

硅在温度T时的相位可表示为:

δ(FSR,v,T)=2πλ(v).2.n(v,T).D(T)

因此,基于硅基G-T腔的光纤温度传感器的反射光强分布可表示如下:

IR(FSR,v,T,R1,R2)=R1-2R1.R2.cosδ(FSR,v,T)+R21-2R1.R2.cosδ(FSR,v,T)+R1.R2

如图5所示,其为同一个硅基G-T腔光纤温度传感器200的在不同温度情 况下的反射光强光谱图。参考条件设为ν0=194000GHz,T0=23℃,在上述参考条 件下,硅的折射率n0(ν)=3.478。FSR为1000GHz时,相对应的硅片231厚度DFSR为 43um。两端面反射率分别设定R1=90%,R2=99%,图5中,温度T0分别为23℃, 30.925℃,38.85℃,46.775℃和54.7℃条件下的反射光强光谱,在温度变化范围 ΔT=31.7℃情况下,反射光强光谱的中心波长从1537.67nm变化到1543.25nm,温 度波长变化系数约为0.24nm/℃,因此采用较低波长分辨率的光谱分析单元300, 即可实现高精度的温度测量。

如图6所示,其为在不同参考频率和不同反射率情况下,四个硅基G-T腔 光纤温度传感器200的反射光强光谱图,其对应的反射系数分别为 R11=90%,R2=99%、R12=80%,R2=99%、R13=70%,R2=99%和R14=60%,R2=99%。由于 每个光谱形状存在较大的差异,这可通过后续算法提取光谱信息的特征值,实 现各光谱的分离,允许多个不同反射光强光谱的传感器进行串联,实现多个传 感器温度的同时测量。

结合图2和图6,采用三个基于硅基G-T腔光纤温度器200串联的传感系 统,其中采用部分反射率R11的硅基G-T腔光纤温度传感器200、采用部分反射 率R12的硅基G-T腔光纤温度传感器200、采用部分反射率R13的硅基G-T腔光纤 温度传感器200。基于反射率R11,R12,R13互不相同,实际应用中可串联多个反 射率不同的基于硅基G-T腔的光纤温度器,实现传感器的复用和多点传感器的 同时测量。

以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发 明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明 的保护范围之内。

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