首页> 中国专利> 薄膜集成电路及制造该薄膜集成电路、CPU、存储器、电子卡和电子设备的方法

薄膜集成电路及制造该薄膜集成电路、CPU、存储器、电子卡和电子设备的方法

摘要

薄膜集成电路及制造该薄膜集成电路、CPU、存储器、电子卡和电子设备的方法对薄膜集成电路施以硅化物自对准工艺,而不必担心对玻璃基底的损害,因此能够实现电路的高速运行。在玻璃基底上形成金属基膜、氧化物和绝缘基膜。在绝缘基膜上形成具有侧壁的TFT,形成覆盖TFT的金属膜。通过RTA等,在不引起基底收缩的温度进行退火,在源和漏区中形成高电阻金属硅化物层。去除未反应的金属膜之后,进行第二次退火的激光照射,因此发生硅化物反应,高电阻金属硅化物层变成低电阻金属硅化物层。在第二次退火中,金属基膜吸收并且积累激光照射的热量,除了激光照射的热量之外,还向半导体层提供金属基膜的热量,从而提高源和漏区中的硅化物反应的效率。

著录项

  • 公开/公告号CN1722448B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-12-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社半导体能源研究所;

    申请/专利号CN200510076233.0

  • 发明设计人 山口哲司;矶部敦生;斋藤晓;

    申请日2005-04-22

  • 分类号

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人韦欣华

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 09:12:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-05

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 27/12 授权公告日:20121212 终止日期:20180422 申请日:20050422

    专利权的终止

  • 2012-12-12

    授权

    授权

  • 2012-12-12

    授权

    授权

  • 2007-05-16

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-05-16

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-01-18

    公开

    公开

  • 2006-01-18

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号