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提升不良检出率的像素结构及检测方法

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摘要

本发明提供一种提升不良检出率的像素结构及检测方法。该提升不良检出率的像素结构包括主像素(10)和次像素(20)两个区域，次像素(20)内具有电荷共享薄膜晶体管(T3)、与电荷共享电容(C

著录项

  • 公开/公告号CN104460148A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市华星光电技术有限公司;

    申请/专利号CN201410668375.5

  • 发明设计人 王醉;

    申请日2014-11-20

  • 分类号G02F1/1362;G02F1/1368;G02F1/13;

  • 代理机构深圳市德力知识产权代理事务所;

  • 代理人林才桂

  • 地址 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9—2号

  • 入库时间 2023-12-18 08:05:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-09-01

    授权

    授权

  • 2015-04-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02F1/1362 申请日:20141120

    实质审查的生效

  • 2015-03-25

    公开

    公开

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