首页> 中国专利> 一种EPON中光模块长发光检测及克服方法和装置

一种EPON中光模块长发光检测及克服方法和装置

摘要

本发明提供了一种EPON中光模块长发光检测及克服方法,该方法利用逻辑编程模块完成光模块的长发光检测,同时产生控制信号,控制光模块发送电源复位,该装置,包括光网络单元,所述的光网络单元包括光模块、光模块电源控制单元、CPU和逻辑控制单元。本发明技术方案应多数应用于带逻辑器件(FPGA或CPLD)的MDU产品中,相对于传统的模拟电路实现方法,使用逻辑编程的方法实现光模块长发光检测及发送电源关断具有节约成本、性能稳定可靠、长发光时间门限可调、长发光保护和流量无关,保护不受温度、器件参数变化等影响。

著录项

  • 公开/公告号CN102832996A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-12-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市共进电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201210322004.2

  • 发明设计人 徐雷;刘小勇;郭小东;邓永坚;

    申请日2012-09-04

  • 分类号H04B10/08;

  • 代理机构深圳市智科友专利商标事务所;

  • 代理人孙子才

  • 地址 518000 广东省深圳市南山区蛇口南海大道1019号百盈医疗器械园二楼

  • 入库时间 2023-12-18 07:46:04

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-07-06

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H04B10/07 申请公布日:20121219 申请日:20120904

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2013-02-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):H04B10/08 申请日:20120904

    实质审查的生效

  • 2012-12-19

    公开

    公开

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