首页> 中国专利> 相位信息的分析方法、相位信息的分析程序、存储介质和X射线成像装置

相位信息的分析方法、相位信息的分析程序、存储介质和X射线成像装置

摘要

一种用于通过分析云纹的周期性图案导出相位信息的分析方法包括以下的步骤:通过窗口函数使云纹的周期性图案的至少一部分经受窗口傅立叶变换;基于经受窗口傅立叶变换的云纹解析地计算承载相位信息的第一光谱的信息和在第一光谱的信息上叠加的第二光谱的信息;和使第一光谱的信息与第二光谱的信息分离,以导出相位信息。

著录项

  • 公开/公告号CN102753935A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-10-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 佳能株式会社;

    申请/专利号CN201180009110.9

  • 发明设计人 长井健太郎;

    申请日2011-01-21

  • 分类号G01B11/25(20060101);G01B15/00(20060101);G21K7/00(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人曹瑾

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2023-12-18 07:11:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-06-29

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B11/25 申请公布日:20121024 申请日:20110121

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-12-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/25 申请日:20110121

    实质审查的生效

  • 2012-10-24

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号