一种材料性能参数获取装置及粘弹谱仪

摘要

本发明提供了一种材料性能参数获取装置及系统，所述装置包括微波分频器、第一数据采集器和第一数据处理器，其中，所述第一数据处理器，用于依据所述微波分频器对预定频率的微波信号进行分频处理获取的分频数据，和所述第一数据采集器利用所述微波信号获取被测试材料在预定外力作用下反应数据，获取所述被测试材料处于所述微波信号中的应力值及损耗角值。所述装置还包括预处理器、第二数据采集器和第二数据处理器获取被测试材料的应变值。通过本发明实施例能够准确获取被测试材料的应力值、损耗角值及应变值，从而依据得到的应力值、损耗角值及应变值得到弹性模量和损耗模量等材料的动态力学及热力学性能参数，进而对被测试材料的用途进行判断。

说明书

技术领域

本发明涉及材料性能检测及数据处理领域，特别涉及一种材料性能参数获取装置及粘弹谱仪。 

背景技术

在对材料特别是高端材料进行应用前，需要对其材料性能进行测试依据材料性能参数来判断材料的实际用途，其中，材料性能参数一般有应力值、应变值、损耗角值、弹性模量、损耗模量、损耗因子、杨氏模量、柔量、储能模量、剪切模量和黏度等。 

当材料处于一定温度、一定频率中在外力作用下不能产生位移时，它的几何形状和尺寸将发生形变，这种形变称为应变。材料发生形变时内部产生了大小相等但方向相反的作用力抵抗外力，单位面积上的这种反作用力称为应力。而应变滞后应力，两者之间存在相位差，这种相位差即损耗角。 

但目前，没有一种材料性能参数获取装置能够在较高频宽(如1000hz)条件下准确获取高端材料如应力值、应变值及损耗角值等性能参数，从而根据应力值、应变值及损耗角值等参数进行数据处理后可得到弹性模量、损耗模量、损耗因子、杨氏模量、柔量、储能模量、剪切模量和黏度等材料的动态力学及热力学性能参数，来判断该高端材料的实际用途。 

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种材料性能参数获取装置及粘弹谱仪，用以解决现有技术中无法实现在较高频宽条件下对高分子材料如应力值、应变值及损耗角值等性能参数，从而获取弹性模量、损耗模量、损耗因子、杨氏模量、柔量、储能模量、剪切模量和黏度等材料的 动态力学及热力学性能参数的准确获取的技术问题。 

本发明提供了一种材料性能参数获取装置，该装置包括： 

微波分频器，用于对预定频率的微波信号进行分频处理，生成与所述微波信号的频率相对应的分频数据； 

第一数据采集器，用于利用所述微波信号获取被测试材料在预定外力作用下的反应数据； 

第一数据处理器，用于依据所述分频数据和所述反应数据获取所述被测试材料处于所述微波信号中的应力值及损耗角值。 

上述装置，优选地，所述装置还包括： 

预处理器，用于获取预设的与所述预定外力相对应的位移控制值，以及用于依据所述位移控制值与标准应变值的关系得出与所述位移控制值相对应的标准应变值； 

第二数据采集器，用于获取所述被测试材料在所述预定外力作用下的测试应变值； 

第二数据处理器，用于对所述位移控制值、所述标准应变值及所述测试应变值进行计算，得出实际应变值。 

上述装置，优选地，所述装置还包括： 

力生成器，用于生成预定外力，并将所述预定外力施加于被测试材料。 

上述装置，优选地，所述第一数据处理器包括： 

第一数据提取器，用于提取所述反应数据的中间数据，获取中间数据数组； 

第二数据提取器，用于对所述中间数据数组进行第偶数个数据和第奇数个数据提取，分别得到第一中间数据数组和第二中间数据数组； 

第一数据计算器，用于对所述分频数据、所述第一中间数据数组及所述第二中间数据数组进行计算，获取应力值及损耗角值。 

上述装置，优选地，所述第二数据处理器包括： 

数据标记器，用于将所述位移控制值、所述标准应变值及所述测试应变值分别记为um、by及cy； 

第二数据计算器，用于获取所述测试应变值cy与所述标准应变值by的偏差cy-by，并依据所述偏差cy-by及所述标准应变值by获取偏差率 

依据$>\mathrm{wy}=\mathrm{um}+\frac{\mathrm{cy}-\mathrm{by}}{\mathrm{by}}\times \mathrm{um}$>获取实际应变值； 

其中， 为所述测试应变值的偏差率相对于所述位移控制值的偏差值，计算得出的wy为所述实际应变值。 

上述装置，优选地，所述第一数据采集器包括力传感器。 

上述装置，优选地，所述第二数据采集器包括位移传感器和/或加速度传感器。 

上述装置，优选地，所述装置还包括： 

温度控制器，用于对被测试材料的测试环境提供温度控制。 

上述装置，优选地，所述装置还包括： 

信号发生器，用于产生所述预定频率的微波信号。 

本发明还提供了一种材粘弹谱仪，包括如上述任意一项所述的材料性能参数获取装置。 

本发明提供的一种材料性能参数获取装置及粘弹谱仪通过对预定频率的微波信号进行分频处理，并利用所述微波信号获取被测试材料在预定外力作用下的反应数据，依据所述分频数据和所述反应数据获取所述被测试材料处于所述微波信号中的应力值及损耗角值，同时，获取与所述预定外力相对应的位移控制值，依据所述位移控制值与标准应变值的关系得出与所述位移控制值相对应的标准应变值并获取所述被测试材料在所述预定外力作用下的测试应变值，对所述位移控制值、所述标准应变值及所述测试应变值进行计算，得出实际应变值。从而依据所述应力值、所述损耗角值及所述应变值，进行数据处理后得到弹性模量、损耗模量、损耗因子、杨氏模量、柔量、储能模量、剪切模量和黏度等材料的动态力学及热力学性能参数，进而对被测试材料的用途进行判断。 

当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。 

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述 中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。 

图1为本发明提供的一种材料性能参数获取装置实施例一的结构示意图； 

图2为本发明提供的一种材料性能参数获取装置实施例一的另一结构示意图； 

图3为本发明提供的一种材料性能参数获取装置实施例二的结构示意图； 

图4为本发明提供的一种材料性能参数获取装置实施例二的另一结构示意图； 

图5为本发明提供的一种材料性能参数获取装置实施例三的结构示意图； 

图6为本发明提供的一种粘弹谱仪的结构示意图。 

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。 

参考图1，其示出了本发明提供的额一种材料性能参数获取装置的结构示意图，所述装置包括： 

微波分频器101，用于对预定频率的微波信号进行分频处理，生成与所述微波信号的频率相对应的分频数据。 

其中，本发明提供的装置实施例一用于被测试材料的性能参数获取，被测试材料的性能参数包括：处于某一特定频率的微波信号作用下，对被测试材料施加预定外力但被测试材料位移不变，其几何形状及尺寸会发生形变，此时被测试材料的形变称为应变；被测试材料在发生形变时，被测试材料内部会产生大小相等但方向相反的作用力抵抗该预定外力， 单位面积上的这种力为应力；应变滞后应力，两者之间存在相位差，该相位差即损耗角。 

其中，在对被测试材料进行材料性能参数获取之前，对其所处的环境数据信息进行采集，即对预施加于被测试材料的高频微波信号进行分频处理得到与该微波信号的频率相对应的分频数据。 

第一数据采集器102，用于利用所述微波信号获取被测试材料在预定外力作用下的反应数据。 

其中，将所述微波信号作用于被测试材料，同时对被测试材料施加预定外力，由所述第一数据采集器102利用所述微波信号获取被测试材料在预定外力作用下的反应数据。 

其中，所述第一数据采集器102可以包括力传感器，用于获取处于所述微波信号下在预定外力作用下的反应数据。 

第一数据处理器103，用于依据所述分频数据和所述反应数据获取所述被测试材料处于所述微波信号中的应力值及损耗角值。 

其中，所述第一数据处理器103可以包括计算机系统，用于依据所述微波分频器101发送的分频数据和所述第一数据采集器102发送的反应数据进行数据计算处理获取所述被测试材料处于所述预定频率微波信号中的应力值及损耗角值。 

由上述方案可知，本发明提供的一种材料性能参数获取装置实施例一通过对预定频率的微波信号进行分频处理，并利用所述微波信号获取被测试材料在预定外力作用下的反应数据，依据所述分频数据和所述反应数据获取所述被测试材料处于所述微波信号中的应力值及损耗角值，从而依据所述应力值及所述损耗角值进行数据处理后得到弹性模量、损耗模量、损耗因子、杨氏模量、柔量、储能模量、剪切模量和黏度等材料的动态力学及热力学性能参数，对被测试材料的用途进行判断。 

基于上述实施例，参考图2，其示出了本发明提供的一种材料性能参数获取装置实施例一的另一结构示意图，所述第一数据处理器103包括第一数据提取器131、第二数据提取器132和第一数据计算器133，其中： 

所述第一数据提取器131，用于提取所述反应数据的中间数据，获取中间数据数组。 

其中，在对所述分频数据和所述反应数据进行计算之前，为提高数据计算的准确性，需要所述第一数据提取器131对所述反应数据进行数据提取，可以依据预设的提取规则，提取所述反应数据的中间数据，并由所述提取的中间数据组成中间数据数组，其数组大小依据所述提取规则而定。 

例如，所述反应数据组成的数组由1000个数据项组成，在对中间数据提取时，提取所述反应数据数组中第301个数据项至第700个数据项，作为中间数据数组。 

所述第二数据提取器132，用于对所述中间数据数组进行第偶数个数据和第奇数个数据提取，分别得到第一中间数据数组和第二中间数据数组。 

其中，对由所述反应数据提取到的中间数据数组进行再次数据提取，分成两组，即对所述中间数据数组进行第偶数个数据提取，得到由第偶数个数据组成的第一中间数据数组，将所述中间数据数组中剩余的第奇数个数据组成第二中间数据数组。 

例如，对由上述反应数据数组中第301个数据项至第700个数据项组成的中间数据数组进行再次数据提取，提取所述第301个数据项至第700个数据项中第偶数个数据，组成第一中间数据数组，提取所述第301个数据项至第700个数据项中第奇数个数据，组成第二中间数据数组。 

第一数据计算器133，用于对所述分频数据、所述第一中间数据数组及所述第二中间数据数组进行计算，获取应力值及损耗角值。 

其中，所述第一数据计算器133分别将所述分频数据及所述第一中间数据数组分为多个数组，对所述分频数据及所述第一中间数据数组分组后的数据进行计算，得到第一应力数据数组。 

例如，将所述分频数据、所述第一中间数据数组、所述第二中间数据数组分别记为w[n1]、y1Data[n3]及y2Data[n4]，其中，n1、n3及n4分别为所述分频数据、所述第一中间数据数组及所述第二中间数据数组中数据 个数。 

由所述第一数据计算器133分别将w[n1]和y1Data[n3]分为多个数组，对w[n1]和y1Data[n3]分组后的数据进行计算，得到第一应力数据数组，可以记为deg yi[n8]，其中，n8为所述第一应力数据数组中数据个数。 

例如，所述第一数据计算器133分别将wt[n1]与y1Data[n3]分为多个数组，形成多个分别由两个数组组成的数组组合集合，例如将wt[n1]与y1Data[n3]分为10个数组，提取其中一组数组组合wt1[n5]和yData1[n6]； 

其中，n5和n6分别为数组wt1[n5]和数组yData1[n6]中数据个数； 

依据$>x1\left[i\right]=\cos \left(\mathrm{\omega t}1\right[i\left]\right)-\frac{\underset{i=0}{\overset{n5-1}{\Sigma }}\cos \left(\mathrm{\omega t}1\right[i\left]\right)}{n5},$>$>x2\left[i\right]=\sin \left(\mathrm{\omega t}1\right[i\left]\right)-\frac{\underset{i=0}{\overset{n5-1}{\Sigma }}\sin \left(\mathrm{\omega t}1\right[i\left]\right)}{n5}$>及 分别获取第一中间数x1[n5]、第二中间数组x2[n5]及第三中间数组y[n6]； 

其中，i∈[0，n5-1]，wt[i]为wt[n1]的第i个数据，yData1[ni]为yData1[n6]的第i个数据； 

依据$>a=\frac{N2\times k2-N3\times k1}{N2\times N2-N1\times N3},$>$>b=\frac{N2\times k1-N1\times k2}{N2\times N2-N1\times N3}$>由x1[n5]、x2[n5]及y[n6]获取第一中间变量a及第二中间变量b； 

其中，$>k1=\underset{i=0}{\overset{n5-1}{\Sigma }}\left(y\right[i]\times x1[i\left]\right),$>$>k2=\underset{i=0}{\overset{n5-1}{\Sigma }}\left(y\right[i]\times x2[i\left]\right),$>$>N1=\underset{i=0}{\overset{n5-1}{\Sigma }}\left(x1\right[i]\times x1[i\left]\right),$>$>N2=\underset{i=0}{\overset{n5-1}{\Sigma }}\left(x1\right[i]\times x2[i\left]\right),$>$>N3=\underset{i=0}{\overset{n5-1}{\Sigma }}\left(x2\right[i]\times x2[i\left]\right),$>x1[i]、x2[i]及y[i]分别为x1[n5]、x2[n5]及y[n6]的第I个数据； 

依据 对a的平方与b的平方进行加和后取该加和值的平方根，获取第三中间变量A1； 

判断a和b的值，依据a和b获取第五中间变量degree1作为deg yi[n8]的第一数据； 

其中，如果a＞0且b＜0，则第四中间变量 如果a＞0且b＞0，$>\mathrm{angle}=2\pi -\arcsin \left(\frac{b}{A1}\right),$>如果a＜0且b＜0，$>\mathrm{angle}=\pi -\arcsin \left(\frac{-b}{A1}\right),$>如果a＜0且b＞0，$>\mathrm{angle}=\pi +\arcsin \left(\frac{b}{A1}\right);$>

依据 获取第五中间变量degree1作为deg yi[n8]的第一数据； 

对所述数组组合集合中其他数组组合依据上述方法进行计算，获取deg yi[n8]中的其他数据。 

所述第一数据计算器133在获取到所述第一应力数据数组的同时，分别将所述分频数据及所述第二中间数据数组分为多个数组，对所述分频数据及所述第二中间数据数组分组后的数据进行计算，得到第二应力数据数组和第三应力数据数组。 

其中，分别将wt[n1]与yData2[n4]进行计算得到第二应力数据数组Ali[n7]。 

其中，分别将wt[n1]与yData2[n4]进行计算得到第三应力数据数组deg li[n8]。 

所述第一数据计算器133对所述第二应力数据数组中的各项数据进行排序，获取应力值。 

例如，对Ali[n7]中的各项数据进行排序，其排序规则可以选择由大至小的排序规则，并对所述排序后的第四个数据进行计算获取所述被测试材料的应力值。 

所述第一数据计算器133在获取应力值的同时，依据所述第一应力数据数组和所述第三应力数据数组获取中间应力数据数组。 

例如，依据degi[j]＝|deg li[j]-deg yi[j]|对deg li[n8]和deg yi[n8]进行计算，获取deg i[n8]，其中，j∈[0，n8-1]，degi[j]为degi[n8]中第j个数据，deg li[j]为deg li[n8]中第j个数据，deg yi[j]为deg yi[n8]中第j个数据。 

所述第一数据计算器133在依据所述第一应力数据和所述第三应力数据数组获取到所述中间应力数据数组时，判断所述中间应力数据数组中各项数据是否大于270度，如果是，获取所述数据大于270度的数据项与360度的差值绝对值，并将所述绝对值作为中间应力数据数组中与所述数据项相对应的数据项，否则，将所述数据项作为所述中间应力数据数组中与所述数据项相对应的数据项。 

例如，判断degi[n8]中各项数据是否大于270度，如果是，则获取所述数据大于270度的数据项与360度的差值绝对值，并将所述绝对值作为deg[n8]中数据项，否则，将所述数据项作为deg[n8]中与所述数据项相对应的数据项。 

所述第一数据计算器133获取到所述中间应力数据数组后，对所述中间应力数据数组中的各项数据进行排序，获取损耗角值。 

其中，对deg[n8]中的各项数据进行排序，其排序规则可以选择由大至小的排序规则，并选取排序后的第四个数据作为被测试材料的损耗角值。 

由上述方案可知，本发明提供的一种材料性能参数获取装置实施例一通过对预定频率的微波信号进行分频处理，生成与所述微波信号的频率相对应的分频数据，利用所述微波信号获取被测试材料在预定外力作用下的反应数据，并对所述反应数据进行数据提取，依据所述分频数据及提取的反应数据获取应力值和损耗角值，保证了应力值和损耗角值的准确性。从而依据所述应力值和所述损耗角值进行数据处理，得到弹性模量、损耗模量、损耗因子、杨氏模量、柔量、储能模量、剪切模量和黏度等材料的动态力学及热力学性能参数，进而对被测试材料的用途进行判断。 

参考图3，其示出了本发明提供的一种材料性能参数获取装置实施例二的结构示意图，基于本发明装置实施例一，所述装置还包括预处理器104、第二数据采集器105和第二数据处理器106，其中： 

所述预处理器104，用于获取预设的与所述预定外力相对应的位移控制值，以及用于依据所述位移控制值与标准应变值的关系得出与所述位移控制值相对应的标准应变值。 

其中，预先设定对被测试材料施加的外力与其预设置位移控制值的对应关系，在对处于所述微波信号中的被测试材料施加所述预定外力时，由所述预处理器104获取与所述预定外力相对应的位移控制值。 

其中，在进行所述被测试材料的材料性能参数获取之前，设定所述位移控制值与标准应变值之间的关系。而设定所述位移控制值与标准应变值之间的关系时，可以依据对被测试材料的进行参数获取的历史数据进行设定。由此，由所述预处理器104依据所述位移控制值与标准应变值的关系得出与所述位移控制值相对应的标准应变值。 

例如，制定欲控制的位移大小即位移控制值与标准应变值的关系， 如：数值600对应5μm，在获取到与所述预定外力相对应的位移控制值后，依据上述两者关系得出标准应变值，600*位移控制值/5μm即与所述位移控制值相对应的标准应变值。 

其中，在本发明装置实施例中，参考形变范围为：-1000μm～+1000μm 

所述第二数据采集器105，用于获取所述被测试材料在所述预定外力作用下的测试应变值。 

其中，所述第二数据采集器105包括位移传感器和/或加速度传感器，用于对被测试材料处于所述预定外力作用下产生的应变进行数据获取，其中，所述位移传感器用于获取被测试材料处于低频的微波信号作用下的测试应变值，所述加速度传感器用于获取被测试材料处于高频的微波信号作用下的测试应变值。 

其中，加速度传感器是一种能够测量加速力的电子设备，可以测量预定外力产生的加速度。在本发明装置实施例中所述加速度传感器采用压电式加速度传感器，其频率范围50Hz～2KHz，对应位移灵敏度±1mv/μm。 

所述第二数据处理器106，用于对所述位移控制值、所述标准应变值及所述测试应变值进行计算，得出实际应变值。 

其中，参考图4，其示出了本发明装置实施例二的另一种结构示意图，基于上述本发明装置实施例，所述第二数据处理器106包括数据标记器161和第二数据计算器162，其中： 

所述数据标记器161，用于将所述位移控制值、所述标准应变值及所述测试应变值分别记为um、by及cy。 

所述第二数据计算器162，用于获取所述测试应变值cy与所述标准应变值by的偏差cy-by，并依据所述偏差cy-by及所述标准应变值by获取偏差率 并依据$>\mathrm{wy}=\mathrm{um}+\frac{\mathrm{cy}-\mathrm{by}}{\mathrm{by}}\times \mathrm{um}$>获取实际应变值； 

其中， 为所述测试应变值的偏差率相对于所述位移控制值的偏差值，计算得出的wy为所述实际应变值。 

由上述方案可知，本发明提供的一种材料性能参数获取装置实施例二通过获取与所述预定外力相对应的位移控制值，依据所述位移控制值与标准应变值的关系得出与所述位移控制值相对应的标准应变值并获取 所述被测试材料在所述预定外力作用下的测试应变值，对所述位移控制值、所述标准应变值及所述测试应变值进行计算，得出实际应变值。从而依据所述应力值和所述损耗角值进行数据处理，得到弹性模量、损耗模量、损耗因子、杨氏模量、柔量、储能模量、剪切模量和黏度等材料的动态力学及热力学性能参数，进而对被测试材料的用途进行判断。 

参考图5，其示出了本发明提供的一种材料性能参数获取装置实施例三的结构示意图，基于本发明装置实施例二，所述装置还可以包括力生成器107、信号发生器108和温度控制器109，其中： 

所述力生成器107，用于生成预定外力，并将所述预定外力施加于被测试材料。 

其中，所述力生成器107对被测试材料施加所述预定外力的激励方式为拉伸、压缩、剪切或三点弯曲等方式。 

所述信号发生器108，用于生成预定频率的微波信号，并将所述微波信号发送至所述微波分频器101。 

其中，所述微波信号的频率范围为：1～1000Hz，可以设置50个频率测试点，即由所述信号发生器108生成所述1～1000Hz频率范围内的50个频率点的微波信号，由所述微波分频器101分别对所述微波信号进行分频处理，获取对应的分频数据。 

所述温度控制器109，用于对被测试材料的测试环境提供温度控制，保证被测试材料的性能参数获取过程中的温度需求。 

其中，所述温度控制器109可以由温度传感器、电热丝、控温仪、液氮罐、保温炉、空气压缩机等组成。被测试材料的被测温度控制范围为：-150℃～450℃，在进行温度控制过程中，温度的升降速率为：1～10℃/min。 

基于上述实施例，本发明装置实施例三还可以包括保护系统，用于对本装置实施例的其他组成进行多方面保护，例如：力过载保护、振幅保护、左右限位保护、过电压保护、欠电压保护等。 

上述实施例在实际应用中，可以通过集成于电路控制系统实现，所述电路控制系统包括力检测电路系统、形变检测电路系统、高温控制电 路系统、低温控制电路系统、频率驱动控制电路系统和计算机接口电路等。 

其中，电路控制系统包括滤波器，所述滤波器用于对电路控制的精度进行调整，而本发明装置实施例在现有滤波器的基础上通过调整电路参数，使得所述滤波器具有输入信号幅值和输出信号幅值基本相等、频带窄、输入信号频率和输出信号频率相同且输入信号相位和输出信号相位一致等优点。 

在集成有所述第一处理器103的计算机系统中可以通过设置功能控制器实现被测试材料的性能参数采集控制，即控制所述第一数据采集器102对被测试材料的反应数据进行控制。 

本发明提供的一种材料性能参数获取装置实施例三通过对信号发生器产生的预定频率的微波信号进行分频处理，并利用所述微波信号获取被测试材料在所述力生成器产生的预定外力作用下的反应数据，依据所述分频数据和所述反应数据获取所述被测试材料处于所述微波信号中的应力值及损耗角值，同时，获取与所述预定外力相对应的位移控制值，依据所述位移控制值与标准应变值的关系得出与所述位移控制值相对应的标准应变值并获取所述被测试材料在所述预定外力作用下的测试应变值，对所述位移控制值、所述标准应变值及所述测试应变值进行计算，得出实际应变值。进一步的，通过温度控制器和保护系统对被测试材料性能参数的获取过程进行温度控制及安全保护。从而依据所述应力值和所述损耗角值进行数据处理，得到弹性模量、损耗模量、损耗因子、杨氏模量、柔量、储能模量、剪切模量和黏度等材料的动态力学及热力学性能参数，进而对被测试材料的用途进行判断。 

参考图6，其示出了本发明提供的一种粘弹谱仪的结构示意图，基于上述各实施例，所述粘弹谱仪包括材料性能参数获取装置601、驱动装置602和支撑装置603，其中： 

所述材料性能参数装置601的功能请参阅上述装置实施例的具体说明，对此不再加以阐述； 

所述驱动装置602，用于对所述材料性能参数装置的功能进行驱动，从而实现被测试材料的性能参数获取。 

其中，所述驱动装置包括激振器、功率放大器、传动杆和各种夹具等。 

其中，所述激振器的振幅精度为1μm，最大振幅为±10mm，使用频率范围为：0～2KHz。 

其中，所述支撑装置603包括仪器外壳、支架等，用于保持本发明粘弹谱仪的整体性。 

本发明提供的一种粘弹谱仪通过对预定频率的微波信号进行分频处理，并利用所述微波信号获取被测试材料在预定外力作用下的反应数据，依据所述分频数据和所述反应数据获取所述被测试材料处于所述微波信号中的应力值及损耗角值，同时，获取与所述预定外力相对应的位移控制值，依据所述位移控制值与标准应变值的关系得出与所述位移控制值相对应的标准应变值并获取所述被测试材料在所述预定外力作用下的测试应变值，对所述位移控制值、所述标准应变值及所述测试应变值进行计算，得出实际应变值。从而依据所述应力值和所述损耗角值进行数据处理，得到弹性模量、损耗模量、损耗因子、杨氏模量、柔量、储能模量、剪切模量和黏度等材料的动态力学及热力学性能参数，进而对被测试材料的用途进行判断。 

需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。 

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他 性的包含，从而使得包括一系列要素的物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个......”限定的要素，并不排除在包括所述要素的物品或者设备中还存在另外的相同要素。 

当然，在实施本发明时可以把各部分的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。 

通过以上的实施方式的描述可知，本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可借助软件加必需的自研制的硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品和硬件平台中部分关键技术的形式体现出来。 

以上对本发明所提供的一种材料性能参数获取装置及粘弹谱仪进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。