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变质基板体系、其制备方法以及III-氮化物半导体器件

摘要

本发明提供了一种层压基板体系,所述层压基板体系含有变质过渡区(2),所述变质过渡区(2)由多个交替的AlxGa1-xN(5)和支撑基板材料(4)(或者与支撑基板具有相同的一般化学组成的材料)层制成。在层压基板体系之上形成具有低位错密度的III-氮化物半导体器件(2)。变质过渡区的多个层(4,5)形成超晶格结构,该超晶格结构的晶格常数和结构沿其生长方向从支撑基板(1)的(在支撑基板附近的)晶格常数和结构变化为器件(3)的(器件附近的)晶格常数和结构。

著录项

  • 公开/公告号CN102610719A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 夏普株式会社;

    申请/专利号CN201210012118.7

  • 申请日2012-01-16

  • 分类号H01L33/02(20100101);H01L33/00(20100101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人陈平

  • 地址 日本国大阪府

  • 入库时间 2023-12-18 06:11:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-01-07

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L33/02 申请公布日:20120725 申请日:20120116

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-09-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L33/02 申请日:20120116

    实质审查的生效

  • 2012-07-25

    公开

    公开

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