一种测试DDR2数据有效窗口的方法和装置

摘要

本发明提供了一种测试DDR2数据有效窗口的方法，先计算出DDR2的数据有效窗口大小，再根据窗口大小设置读数据采样时钟的相位。本发明提供的测试DDR2数据有效窗口的方法，可在对DDR2内存的硬件设计之后，通过所述测试DDR2数据有效窗口的方法和装置测试出数据有效窗口大小，然后在DDR2控制器设计中直接根据测试得到的窗口大小设置读时钟采样点位置，提高了硬件设计的效率，降低了PCB的布局布线难度。