用于标识出对嵌入式系统的至少一个处理单元的外部影响的装置和方法

摘要

本发明涉及标识出对嵌入式系统中的一定数量的处理单元中的至少一个处理单元的外部影响。在此，为此配置的装置具有：数据生成器，其被配置为生成数据，所述数据被构造为标识出对所述一定数量的处理单元中的至少一个处理单元的外部影响；传感器电路，其具有一定数量的电子元件，其中所述电子元件被配置为存储数据，其中所述传感器电路通过顺序地将所述数据暂存在所述电子元件中来将所述数据传送给数据检查器；数据检查器，其被配置为检查所述数据的正确性。通过本发明，实现对嵌入式系统的至少一个处理单元的外部影响的经改善的标识。本发明可以与嵌入式系统有关地应用。