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一种基于准光学谐振腔的介质材料介电性能变温测量装置

摘要

一种基于准光学谐振腔的介质材料介电性能变温测量装置,属于微波、毫米波介电材料介电性能测试领域。包括准光学谐振腔、感应加热控制装置、感应加热圈、真空炉腔、循环水冷系统和矢量网络分析仪;准光学谐振腔为由球面镜和平面镜组成的平凹腔,准光学谐振腔通过两个耦合孔,经波导、同轴电缆和矢量网络分析仪连接,形成测试回路。本发明综合运用感应加热技术、循环水冷技术和真空技术,使得本发明在采用准光学谐振腔测试法对介质材料介电性能进行变温测量时,具有加热效率高、可变温度范围宽(测量温度可达2000℃以上),且在保证测量精度条件下能够长期稳定工作而不会造成光学谐振腔的氧化或其他损伤。

著录项

  • 公开/公告号CN102435863A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-05-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201110344372.2

  • 申请日2011-11-04

  • 分类号G01R27/26(20060101);

  • 代理机构51203 电子科技大学专利中心;

  • 代理人葛启函

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2023-12-18 04:59:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-05-14

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R27/26 申请公布日:20120502 申请日:20111104

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-06-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/26 申请日:20111104

    实质审查的生效

  • 2012-05-02

    公开

    公开

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