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双频激光光栅干涉测量方法及测量系统

摘要

一种双频激光光栅干涉测量方法及测量系统,该测量方法为先利用双频激光器输出双频激光,使普通光栅干涉测量的直流信号系统转变为交流信号系统,然后让双频激光通过一分光镜以形成参考光路和测量光路,再通过光栅的运动使测量光路光学拍干涉场的拍频发生变化,最后用数字相位测量法将各光学拍干涉场得到的高倍数光学细分信号进行高倍数电子细分,完成测量。本发明的测量系统包括双频激光器和第一分光镜;经第一分光镜后的反射、透射光束分别形成参考、测量光路,参考光路上设有检偏器和光电探测器,测量光路上设有光栅衍射干涉系统,光栅衍射干涉系统后的输出光路上设光电探测器。本发明具有抗干扰能力强、稳定性好、使用方便、测量精度高等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN102353327A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国人民解放军国防科学技术大学;

    申请/专利号CN201110174869.4

  • 申请日2011-06-27

  • 分类号G01B11/00(20060101);

  • 代理机构43008 湖南兆弘专利事务所;

  • 代理人赵洪;杨斌

  • 地址 410073 湖南省长沙市砚瓦池正街47号中国人民解放军国防科学技术大学机电工程与自动化学院

  • 入库时间 2023-12-18 04:34:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-06-04

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B11/00 申请公布日:20120215 申请日:20110627

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-03-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/00 申请日:20110627

    实质审查的生效

  • 2012-02-15

    公开

    公开

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