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提高ZnO防雷芯片边缘工频耐受能力的方法

摘要

本发明公开了一种提高ZnO防雷芯片边缘工频耐受能力的方法,属于压敏电阻陶瓷芯片制备方法;它包括压敏电阻陶瓷芯片生坯制作和排胶工序,是在经过排胶工艺处理的压敏电阻陶瓷芯片生坯侧面涂覆一层浆料,保证烘干后浆料层厚度为0.2~0.3mm,然后加热至烧结温度,保温3~5小时随炉冷却;所述浆料由下列重量百分比的原料制备而成:ZnO50~70%、Bi

著录项

  • 公开/公告号CN102276249A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-12-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 贵阳高新益舸电子有限公司;

    申请/专利号CN201110122032.5

  • 发明设计人 庞驰;费自豪;张雷;施斌;

    申请日2011-05-12

  • 分类号C04B35/453;C04B35/622;

  • 代理机构贵阳东圣专利商标事务有限公司;

  • 代理人杨云

  • 地址 550004 贵州省贵阳市国家高新技术产业区金阳科技园标准厂房2幢4层

  • 入库时间 2023-12-18 03:51:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-01-06

    专利权质押合同登记的生效 IPC(主分类):C04B35/453 专利号:ZL2011101220325 登记号:Y2022980028308 登记生效日:20221219 出质人:贵阳高新益舸电子有限公司 质权人:贵阳银行股份有限公司白云支行 发明名称:提高ZnO防雷芯片边缘工频耐受能力的方法 申请日:20110512 授权公告日:20131016

    专利权质押合同登记的生效、变更及注销

  • 2013-10-16

    授权

    授权

  • 2012-02-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):C04B35/453 申请日:20110512

    实质审查的生效

  • 2011-12-14

    公开

    公开

说明书

技术领域:本发明涉及一种防雷元器件的制作方法,尤其涉及一种ZnO 防雷芯片的制作方法。

背景技术:众所周知,ZnO防雷芯片是由压敏电阻陶瓷芯片、分别固 定在该压敏电阻陶瓷芯片表面和背面的上电极片和下电极片构成。压敏电 阻陶瓷芯片具有良好的非线性性能和大通流能力等优点,它作为雷电浪涌 保护元件在电子电路和电力系统中得到了广泛的应用。压敏电阻陶瓷芯片 是以ZnO为主要原料,添加少量Bi2O3、Co3O4、MnO2、Sb2O3、Cr2O3等 原料,采用陶瓷烧结工艺制备而成;由于Bi、Sb等元素熔点较低,烧结 过程中容易挥发,从而致使压敏电阻陶瓷芯片边缘的致密度下降而影响 ZnO防雷芯片电性能。由于陶瓷芯片边缘缺陷较多,在长时间过电压作用 下易被击穿、喷火而引发事故;因此,如何提高压敏电阻陶瓷芯片边缘的 工频耐受能力,使工频击穿点转移至压敏电阻陶瓷芯片的中心区域,利用 上电极片和下电极片来遮盖喷火点、进而消除事故隐患,是目前业界正在 努力探索的一个重要课题。

发明内容:为了克服现有技术中存在的缺陷,本发明旨在提供一种提 高ZnO防雷芯片边缘工频耐受能力的方法,利用该方法能够提高压敏电阻 陶瓷芯片边缘的工频耐受能力,使工频击穿点转移至压敏电阻陶瓷芯片的 中心区域,从而可利用上电极片和下电极片来遮盖喷火点、进而消除事故 隐患。

为了实现上述目的,本发明采用以下技术方案:它包括压敏电阻陶瓷 芯片生坯制作和排胶工序,在经过排胶工艺处理的压敏电阻陶瓷芯片生坯 侧面涂覆一层浆料,保证烘干后浆料层厚度为0.2~0.3mm,然后加热至烧 结温度,保温3~5小时随炉冷却;所述浆料由下列重量百分比的原料制备 而成:ZnO50~70%、Bi2O312~19%、Sb2O310~16%、SiO24~7%、Y2O32~ 4%、硼玻璃2~4%,其制备方法如下:

1)将上述各原料与2~2.5倍重量的去离子水混合均匀,球磨20~24 小时,烘干后过120~250目筛,得生料;

2)将所述生料在800~900℃下煅烧2~3小时,随炉冷却得熟料;

3)将所述熟料粉碎后与2~2.5倍重量的去离子水混合均匀,球磨8~ 10小时,烘干后过200~500目筛,得熟粉料;

4)向所述熟粉料中加入重量为3~10%的酒精-乙基纤维素溶液,调和 均匀;所述酒精-乙基纤维素溶液由无水乙醇与乙基纤维素按3∶7的重量比 配制而成。

所述浆料由下列重量百分比的原料制备而成:ZnO58~63%、Bi2O314~ 17%、Sb2O312~14%、SiO25%、Y2O33%、硼玻璃3%。

所述浆料由下列重量百分比的原料制备而成:ZnO60%、Bi2O316%、 Sb2O313%、SiO25%、Y2O33%、硼玻璃3%。

与现有技术比较,本发明由于采用了上述技术方案,在经过按传统排 胶工艺处理的压敏电阻陶瓷芯片生坯侧面涂覆一层浆料,因此通过高温烧 结能够使浆料与压敏电阻陶瓷芯片牢固地结合为一体;由于涂覆的浆料能 够补充芯片边缘易挥发的Bi、Sb等元素,芯片边缘的致密度得以提高、 减少了缺陷,因此增强了压敏电阻陶瓷芯片边缘的工频耐受特性、降低了 芯片边缘被工频击穿的概率,从而使工频击穿点转移至压敏电阻陶瓷芯片 的中心区域。

附图说明:

图1是采用本发明制作的压敏电阻陶瓷芯片被击穿时的图片;

图2是采用本发明制作的压敏电阻陶瓷芯片被击穿时的第二幅图片;

图3是采用本发明制作的压敏电阻陶瓷芯片被击穿时的第三幅图片;

图4是采用传统方法制作的压敏电阻陶瓷芯片被击穿时的图片。

图中:压敏电阻陶瓷芯片1    工频击穿点2

具体实施方式:下面结合具体的实施例对本发明作进一步说明:

实施例1

1)按常规方法制作压敏电阻陶瓷芯片生坯;

2)按常规方法将所述压敏电阻陶瓷芯片生坯缓慢加热至500℃进行排 胶处理;

3)将ZnO50千克、Bi2O319千克、Sb2O316千克、SiO27千克、Y2O34 千克、硼玻璃4千克放入球磨机中,加入200千克的离子水混合均匀,球 磨20小时,在100℃下烘干,过120目筛,得生料;

4)将上述生料送入电炉中加热至800℃,煅烧2小时随炉冷却至常温, 得熟料;

5)将上述熟料粉碎后放入球磨机中,加入两倍重量去离子水混合均匀, 球磨8小时,在100℃下烘干,过200目筛,得粒径小于75μm的熟粉料;

6)向上述熟粉料中加入重量为熟粉料3%的酒精-乙基纤维素溶液,调 和均匀制成浆料;所述酒精-乙基纤维素溶液由无水乙醇与乙基纤维素按 3∶7的重量比配制而成;

7)将上述浆料均匀地涂覆在步骤2)中压敏电阻陶瓷芯片生坯的四周 侧面,在100℃下烘干,保证烘干后浆料层厚度为0.2~0.3mm;

8)将涂覆有浆料的压敏电阻陶瓷芯片生坯送入电炉中,按常规方法加 热至1150℃,保温3小时,然后随炉冷却至常温。

实施例2

各步骤同实施例1,其中步骤3)中ZnO为70千克、Bi2O312千克、 Sb2O310千克、SiO24千克、Y2O32千克、硼玻璃2千克,球磨时间为24 小时,过250目筛;步骤4)中煅烧温度为900℃,煅烧时间3小时;步骤 5)中球磨时间为10小时,过500目筛;步骤6)中酒精-乙基纤维素溶液 加入量为7%;步骤8)中烧结温度为1200℃,保温时间为5小时。

实施例3

各步骤同实施例1,其中步骤3)中ZnO为58千克、Bi2O317千克、 Sb2O314千克、SiO25千克、Y2O33千克、硼玻璃3千克,球磨时间为22 小时,过140目筛;步骤4)中煅烧温度为850℃,煅烧时间2.5小时;步 骤5)中球磨时间为9小时,过350目筛;步骤6)中酒精-乙基纤维素溶 液加入量为5%;步骤8)中烧结温度为1170℃,保温时间为4小时。

实施例4

各步骤同实施例1,其中步骤3)中ZnO为63千克、Bi2O314千克、 Sb2O312千克、SiO25千克、Y2O33千克、硼玻璃3千克,球磨时间为23 小时,过180目筛;步骤4)中煅烧温度为870℃,煅烧时间2.5小时;步 骤5)中球磨时间为9小时,过400目筛;步骤6)中酒精-乙基纤维素溶 液加入量为4%;步骤8)中烧结温度为1170℃,保温时间为4小时。

实施例5

各步骤同实施例1,其中步骤3)中ZnO为60千克、Bi2O316千克、 Sb2O313千克、SiO25千克、Y2O33千克、硼玻璃3千克,球磨时间为23 小时,过220目筛;步骤4)中煅烧温度为870℃,煅烧时间2.5小时;步 骤5)中球磨时间为9小时,过400目筛;步骤6)中酒精-乙基纤维素溶 液加入量为6%;步骤8)中烧结温度为1170℃,保温时间为4小时。

实施例6

各步骤同实施例1,其中步骤3)中ZnO为59千克、Bi2O316千克、 Sb2O313千克、SiO26千克、Y2O33千克、硼玻璃3千克,球磨时间为22 小时,过200目筛;步骤4)中煅烧温度为850℃,煅烧时间2.5小时;步 骤5)中球磨时间为9小时,过300目筛;步骤6)中酒精-乙基纤维素溶 液加入量为4%;步骤8)中烧结温度为1180℃,保温时间为4小时。 比较图1~3与图4可以发现,图1~3中工频击穿点2与压敏电阻陶 瓷芯片1边缘的距离明显大于图4中工频击穿点2与压敏电阻陶瓷芯片1 边缘的距离,这说明采用本发明制作的压敏电阻陶瓷芯片1的边缘工频耐 受能力明显提高,工频击穿点2向压敏电阻陶瓷芯片1中心区域转移。

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