法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2013-03-20
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B11/26 申请公布日:20110907 申请日:20110124
发明专利申请公布后的视为撤回
2011-11-16
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/26 申请日:20110124
实质审查的生效
2011-09-07
公开
公开
机译: 光电方法来测量物体的位移-使用带有光电二极管矩阵的差分自准直仪,在其上形成返回图像
机译: 光电方法来测量物体的位移-使用带有光电二极管矩阵的差分自准直仪,在其上形成返回图像
机译: 平板电子X射线成像仪中的光电二极管和其他传感器结构,以及基于薄膜电子的改善平板X射线成像仪中光电二极管和其他传感器结构的拓扑均匀性的方法