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用于测量试样长度变化的接触式位移传感器及其使用方法

摘要

本发明涉及一种在机械地测量试样的由于伸长而发生的长度变化时所使用的接触式位移传感器。本发明还涉及利用这种接触式位移传感器来测量试样的长度变化的方法、利用这种接触式位移传感器来测量试样的长度变化的系统以及这种接触式位移传感器的用于测量试样长度变化的用途。该接触式位移传感器包括与试样接触的主体。根据本发明,主体可转动地被支撑并经过设置,从而在试样拉断时该试样使得主体旋转。试样在拉断时使得主体旋转,由此仅有少量能量传递到接触式位移传感器上,该接触式位移传感器因而不会过载或受损。

著录项

  • 公开/公告号CN102066870A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-05-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 拜尔材料科学股份公司;

    申请/专利号CN200980122867.1

  • 发明设计人 N·达莱姆;J·库恩克;

    申请日2009-06-16

  • 分类号G01B5/30(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人李永波;梁冰

  • 地址 德国莱沃库森

  • 入库时间 2023-12-18 02:26:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-04-23

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B5/30 申请公布日:20110518 申请日:20090616

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-12-12

    著录事项变更 IPC(主分类):G01B5/30 变更前: 变更后: 申请日:20090616

    著录事项变更

  • 2011-08-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B5/30 申请日:20090616

    实质审查的生效

  • 2011-05-18

    公开

    公开

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