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利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法及装置

摘要

本发明一种利用一坏扇区记录表来模拟测试逻辑硬盘的方法及装置,其包含有:一选项只读存储器,接收且执行一实体要求指令;一坏扇区记录表,设置于该选项只读存储器中,执行该选项只读存储器的实体要求指令,提供坏扇区设置信息给该选项只读存储器;一硬盘固件,于坏扇区设置信息范围之外,提供一硬盘数据读写的指令来读写硬盘。利用该坏轨扇区记录表来模拟坏扇区的区块内的数据,不必真实对硬盘写入任何数据及制作真实坏扇区的区块,故可提高逻辑磁盘的测试速度。

著录项

  • 公开/公告号CN102044278A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-05-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英业达股份有限公司;

    申请/专利号CN200910204317.6

  • 发明设计人 陈重江;

    申请日2009-10-12

  • 分类号G11B20/18;

  • 代理机构北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人孙皓晨

  • 地址 中国台湾台北市

  • 入库时间 2023-12-18 02:05:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-10-30

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G11B20/18 申请公布日:20110504 申请日:20091012

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2011-06-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11B20/18 申请日:20091012

    实质审查的生效

  • 2011-05-04

    公开

    公开

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