首页> 中国专利> 用于在通过弯液面进行的晶片表面处理中相对临近头的基本上均匀的流体流率的设备

用于在通过弯液面进行的晶片表面处理中相对临近头的基本上均匀的流体流率的设备

摘要

为输送到晶片表面的流体提供调节的进入临近头的流体流。连接到多个下流孔的上部稳压室由主孔提供。该下流孔将流体提供进该上部稳压室,阻抗器孔连接到该上部稳压室。该阻抗器孔容纳阻抗器,其形状限制该流体流经该阻抗器孔。连接到该阻抗器孔的下部稳压室构造为接收来自该阻抗器孔的、受到该阻抗器限制的流体,用以流到在该下部稳压室和该头表面的各表面之间延伸多个出口端口。通过该上部稳压室、具有该阻抗器的阻抗器孔和该下部稳压室流动的流体被大体上调节以限定纵贯该临近头的宽度、基本上一致的离开该多个出口端口流体出流。

著录项

  • 公开/公告号CN101971299A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-02-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 朗姆研究公司;

    申请/专利号CN200980104907.X

  • 申请日2009-02-07

  • 分类号H01L21/304(20060101);H01L21/30(20060101);

  • 代理机构31263 上海胜康律师事务所;

  • 代理人周文强;李献忠

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-12-18 01:52:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-03-20

    授权

    授权

  • 2011-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/304 申请日:20090207

    实质审查的生效

  • 2011-02-09

    公开

    公开

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