嵌入式系统中的自动再现测试装置及自动再现测试方法

摘要

本发明提供一种连接有外部设备(10)的嵌入式系统中的自动再现测试装置，包括：历史存贮单元(信息存贮部20)，该历史存贮单元将嵌入式系统的操作事件、以及包括外部设备的状态变化的事件按照时间序列存贮；以及再现测试单元(再现测试装置2)，该再现测试单元基于来自外部的再现指示，读出历史存贮单元中存贮的内容，按照读出的内容再现嵌入式系统的内部状态，并重复执行规定次数的嵌入式系统的再现测试。