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用于合成孔径雷达点目标成像质量评估的自适应二维插值方法

摘要

本发明公开了一种用于合成孔径雷达点目标成像质量评估的自适应二维插值方法,该方法利用二维快速傅里叶变换将点目标成像结果变换到二维频域中,自适应地确定二维谱矩阵中的每行和每列的插值位置,然后利用二维快速傅里叶逆变换将频域补零后的数据变换到二维时域矩阵,即得到插值结果。该方法在合成孔径雷达工作于任意斜视角度、并且无论成像处理是否补偿由参考距离引入的固定相位的情况下,都能够对点目标成像结果进行正确地插值,有助于获取更加精确的点目标成像质量评估结果。

著录项

  • 公开/公告号CN101806893A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-08-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201010133577.1

  • 发明设计人 于泽;张岩;刘敏;李春升;

    申请日2010-03-25

  • 分类号G01S13/90(20060101);

  • 代理机构11121 北京永创新实专利事务所;

  • 代理人李有浩

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2023-12-18 00:39:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-09-05

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01S13/90 公开日:20100818 申请日:20100325

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-11-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01S13/90 申请日:20100325

    实质审查的生效

  • 2010-08-18

    公开

    公开

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