荧光粉温度特性的测量装置

摘要

本发明公开了一种荧光粉温度特性的测量装置，包括激发光源、第一透镜、单色仪、测光装置、温控装置、设有通光孔的基壳和置于基壳内的密封的测试样品室，测试样品室设有荧光粉槽、恒温底座和透光的密封罩，荧光粉槽置于恒温底座上且荧光粉槽正对基壳的通光孔，恒温底座上开有抽真空孔，密封罩和恒温底座密封联接；第一透镜位于激发光源和单色仪之间，单色仪的出光口对准通光孔；基壳的侧壁上安装有导光管，由通光孔入射的激发光的主光轴与导光管中心轴线成45°角，测试样品室与导光管的入光口之间设有第二透镜，导光管的出光口与测光装置之间通过光纤连接；温控装置与恒温底座电连接。本发明可准确、方便地测量荧光粉在不同温度下的各种特性参数。