光信息记录介质、光信息记录介质重放装置、光信息记录介质重放装置的控制方法、光信息记录介质重放装置控制程序以及记录有该程序的记录介质

摘要

超分辨率介质(1)设有信息信号区域(11)和测试引导区域(12)，信息信号区域(11)记录有视频或音频等内容；测试引导区域(12)记录有用于调整设定值的重放设定值调整信息，其中，该设定值是用于进行重放的设定值。形成在信息信号区域(11)的第1预坑列的最短标记长度小于重放装置所具有的光学系统分辨极限长度。记录于测试引导区域(12)的、用以调整设定值的第2预坑列中的标记长度种类与第1预坑列的一部分或全部标记长度种类相同。第2预坑列含有、标记长度低于重放装置之光学系统分辨极限长度的预坑。第1预坑列以及第2预坑列中的标记长度有3种以上。由此，对于超分辨率介质(1)，能够根据各介质进行最佳的重放。

说明书

技术领域

本发明涉及记录有信息的光信息记录介质、光信息记录介质重放装置、光信息记录介质重放装置的控制方法、光信息记录介质重放装置的控制程序以及记录有该程序的记录介质。

背景技术

近年，为了高速处理视频等大量的信息，要求提高进行记录或重放的光信息记录介质的信息密度。对此，提出了一种对信息进行记录，并对该已记录的信息进行重放的超分辨率技术。在该技术中，利用了记录标记(mark)列或预坑(prepit)列来进行记录或重放，该些记录标记列或预坑列的最短标记长度小于重放装置所具有的光学系统分辨极限(以下称“分辨极限”)。

在本申请中，预坑呈“凹状”或“凸状”。另外，将利用上述超分辨率技术才可进行重放的光信息记录介质称之为“超分辨率介质”或“超分辨率光信息记录介质”。并将无需使用上述超分辨率技术便能够进行重放的光信息记录介质，即，将通过记录标记列或预坑列的最短标记长度大于重放装置之分辨极限的预坑来进行信息记录的光信息记录介质称为“一般介质”或“一般光信息记录介质”。另外，上述分辨极限由重放装置的重放激光的波长λ以及物镜的开口率NA所决定，其在理论上表示为λ/4NA。

特别是，主要应用于重放专用光信息记录介质的超分辨率技术，其开发正受到瞩目。在该类超分辨率技术中，记录标记列或预坑列所具有的最短标记长度小于重放装置之分辨极限，通过该些记录标记列或预坑列来记录和重放信息。

另外，在本申请中，“标记长度”是指，在轨道方向上的预坑长度或/及轨道方向上的相邻预坑间的长度。另外，标记长度大致是信道位(channel-bit)长度的整数倍。例如，在重放专用式DVD(Digital VersatileDisc)中，最短标记长度为0.4μm，其大致为信道位长度的3倍，另外，标记长度的种类数为9种。另外，在重放专用式CD(Compact Disc)中，最短标记长度为0.83μm，其大致为信道位长度的3倍，另外，标记长度的种类数为9种。另外，记录式光信息记录介质中也存在呈“凹”或/及“凸”状的预坑列，其中一部分被用作地址坑，因此，上述超分辨率技术也能够应用于上述记录式光信息记录介质。

目前，提出了使用热致变色性膜的超分辨率技术以及使用光致变色性膜的超分辨率技术等这些对上述预坑列进行重放的超分辨率技术。

例如，在专利文献1所示的超分辨率介质中，热致变色性色素层作为掩膜层被设置于反射层的重放光入射面上，该热致变色性色素层的透射率等光学特性会随温度而发生变化。另外，上述掩膜层引发上述激光聚点的模拟性缩小等这些超分辨率现象。

在专利文献1所示的超分辨率介质中，通过上述重放光入射面附近的重放层上的、上述激光聚点内所发生的温度分布来控制透射率的分布。该温度分布因光强度分布而发生变化。例如，若上述重放层中使用了随温度的升高而使透射率升高的材料时，那么，透射率仅在温度较高部分被提高。所以，上述反射层面上的上述激光聚点会被模拟性地缩小，因此，能够对最短标记长度低于重放装置之分辨极限的预坑列的信号进行重放。

较之于一般介质，对于超分辨率介质，一般需要有高功率的重放光。这是因为需要利用高功率的重放光在薄膜上发生的热及/或高功率重放光的光量来模拟性地缩小激光聚点的缘故。另外，由超分辨率介质的重放功率值、伺服偏移值、球面像差校正值、倾角等这些重放设定值(为重放所记录的信息而需要的设定值)的变化所带来的超分辨率介质特性(例如误码率(误差发生率))的变化要比一般介质大。这是因为，由于重放光在薄膜上发生的热及/或重放光光量的变化，被模拟性缩小了的激光聚点的光强度分布也会随之发生变化的缘故。

因此，对于超分辨率介质，优选是在介质中记录有预先设定的最佳重放设定值。

例如，专利文献2所示的超分辨率介质中，预先含有最佳重放功率的信息，所以，仅依据焦距伺服便能够随时保持规定的有效聚点径。

专利文献1：日本国专利申请公开特开平6-162564号公报；1994年6月10日公开。

专利文献2：日本国专利申请公开特开平7-73506号公报；1995年3月17日公开。

发明内容

然而，上述超分辨率介质中，预先记录的最佳重放设定值仅仅是使得制造时的超分辨率介质特性成为最佳的值。例如，对最短标记长度低于重放装置之分辨极限的预坑列，仅使该预坑列的误码率达到最佳时的值。

因此，关于将超分辨率介质设置于重放装置时的错位及/或实际可动因素所导致的错位(温度、温度分布、振动、冲击等导致的机械性错位)，当发生上述这些错位时，此时的重放设定值的最佳值会不同于上述超分辨率介质中预先所记录的最佳重放设定值。另外，因实际要进行重放的重放装置的特性不均，重放设定值的最佳值也会不同于上述超分辨率介质中预先所记录的最佳重放设定值。因此，会出现最佳误码率的恶化、散焦容限等容限(范围)的减小等问题。

以下说明发生上述问题的原因。

超分辨率介质是通过高于重放一般介质的激光功率来进行重放的，所以，可利用激光聚点中的重放光的、光量分布及温度分布来模拟性地缩小激光聚点。由此，能够对具有低于重放装置之分辨极限的最短标记长度的预坑列进行重放。此时，若重放设定值的最佳值发生偏差，激光聚点中重放光的光量分布及温度分布便会偏离其各自最佳值时的状态。因此，上述问题的原因在于，激光聚点的模拟缩小状态从各最佳值状态发生变化的缘故。以下，将重放时所需的激光功率称为“重放功率”。

另外，上述超分辨率介质中预先记录的最佳重放设定值并不分别对应超分辨率介质所具有的多个最佳值。例如，同类超分辨率介质的最佳值会按生产批次或超分辨率介质制造公司的不同而不同地预先记录在超分辨率介质中。即，上述超分辨率介质中并没有记录有与超分辨率介质制造不均对应的、每一超分辨率介质的最佳重放设定值。这是由于若要对每一超分辨率介质进行重放设定值的测试并介由预坑来记录每一超分辨率介质的最佳值，则需花费庞大的成本和劳力。

因此，即使使用超分辨率介质中预先所记录的最佳重放设定值来对该超分辨率介质进行重放，也会因该超分辨率介质制造时所发生的不均，导致重放设定值不同于最佳值。进而，会出现最佳误码率的恶化、散焦容限等容限的减小等问题。

而且，现有技术是在记录有内容(contents)的信息信号区域中，通过上述方法来求取重放功率的最佳值。

此时，如以上所述，由于需要以高于重放一般介质的重放功率来对超分辨率介质进行重放，所以，要先以较高的重放功率来调整出所要的重放功率。在该调整中，当施加了高于最佳重放功率的重放功率时，很有可能会发生薄膜的氧化、及/或因基板溶解所致的超分辨率介质损坏，从而发生无法再次对信息信号区域中的内容(contents)进行重放的问题。

本发明是鉴于上述问题而开发的，目的在于提供对每一介质均能实现最佳重放的超分辨率光信息记录介质即光信息记录介质。

为解决上述问题，本发明光信息记录介质通过由形状为凸状和凹状的至少一者形成的预坑来记录信息，该信息通过光信息记录介质重放装置向上述预坑照射光来进行重放，该光信息记录介质的特征在于：被设置有信息信号区域和测试引导区域，该信息信号区域中记录有内容，该测试引导区域中记录有用于调整设定值的重放设定值调整信息，该设定值是在上述光信息记录介质重放装置进行上述重放时所使用的设定值；由多个形成于上述信息信号区域的预坑所构成的第1预坑列的最短标记长度低于上述光信息记录介质重放装置所具有的光学系统分辨极限长度；由多个记录于上述测试引导区域的预坑即多个用于进行上述调整的预坑所构成的第2预坑列中的标记长度的种类与上述第1预坑列中的标记长度的一部分种类或所有种类相同；上述第2预坑列中含有标记长度低于上述光信息记录介质重放装置所具有的光学系统分辨极限长度的预坑；上述第1预坑列以及上述第2预坑列中的标记长度有3种以上。

根据上述结构，本发明的光信息记录介质具备信息信号区域和测试引导区域。在信息信号区域中，通过预坑而记录有内容，预坑的形状为凸和凹的至少一方。另外，由多个形成于信息信号区域的预坑所构成的第1预坑列的、最短标记长度低于重放装置所具有的光学系统分辨极限长度。在本申请中，“重放装置所具有的光学系统分辨极限”即、“分辨极限”是由重放光信息记录介质的光信息记录介质重放装置的重放激光波长λ以及该重放装置的物镜的开口率NA所决定的，其理论上可表示为λ/4NA。另一方面，所设定的测试引导区域是用于调整重放装置在进行重放时所需的设定值。另外，由多个记录于测试引导区域的预坑所构成的第2预坑列中的标记长度的种类与第1预坑列中的标记长度的一部分种类或所有种类相同，其中，第2预坑列被用以进行上述调整。

由此，对应于信息信号区域的最佳设定值和对应于测试引导区域的最佳设定值便成为相同。光信息记录介质重放装置对测试引导区域中的预坑进行读取以求取设定值的最佳值，然后根据所求取的最佳值来对信息信号区域中的预坑进行读取，因此能够对每一介质，最佳地重放信息信号区域中的内容。

在本申请中，标记长度是指下述两者中的至少一者，即：在轨道方向上的预坑的长度、轨道方向上的相邻的预坑之间的间隔。

另外，根据上述结构，上述第2预坑列中含有、标记长度低于重放装置所具有的光学系统分辨极限长度的预坑。在第2预坑列中，最会对重放设定值(特别是重放功率值)的确定产生影响的预坑就是，标记长度低于重放装置之光学系统分辨极限长度的预坑。由于第2预坑列中含有标记长度低于重放装置所具有的光学系统分辨极限长度的预坑，因此，能够通过读取测试引导区域的预坑来求取得到适于信息信号区域的最佳设定值。

当信息信号区域的标记长度的种类数在2种以下时，编码效率会发生恶化，因此，实质上信息密度会下降。另外，例如CD以及DVD一般有9种标记长度，因此，并不实用于将标记长度设定为2种以下的情况。因此，信息信号区域的标记长度的种类优选为3种以上。另外，测试引导区域的第2预坑列优选具有信息信号区域的第1预坑列中的所有种类标记长度，其中，第1预坑列的标记长度的种类有多种。根据以上所述，信息信号区域和测试引导区域分别优选有3种以上的标记长度。由此，能够分别求取出1个最佳的设定值(重放功率值、焦距伺服偏移值、球面像差校正值、倾角中的至少一者)。在此，“倾角”是指，上述光信息记录介质重放装置所重放的光信息记录介质的记录面的法线方向与照射向该记录面的光的行进方向之间的角度(倾斜角)。

因此，能够对应每一介质进行最佳的重放。

另外，较之于信息信号区域，可知测试引导区域的跟踪伺服较为不稳定。这是由于，在对测试引导区域进行重放时，为改变焦距伺服偏移值等的重放设定值，而需使跟踪误差信号变小。

另外，比起一般介质，可知超分辨率介质的跟踪伺服对于重放设定值的变化较为不稳定。

其理由如下。

如前所述，在超分辨率介质中，重放功率值、伺服偏移值、球面像差校正值、倾角的变化会使重放光在薄膜上产生的热发生变化及/或重放光的光量发生变化，所以被模拟性缩小了的激光聚点的强度分布也会发生变化。因此，在超分辨率介质中，随着重放功率值等的变化所产生的跟踪误差信号的变化会比一般介质大。

在超分辨率介质的测试引导区域中，对最短标记长度低于重放装置之分辨极限长度的预坑列进行重放，同时改变重放设定值。例如，当在求取使误码率的值成为最佳的重放设定值时，跟踪伺服则会出现不稳定，所以，可能会导致无法求出最佳的重放设定值。并且会发生误码率恶化、散焦容限等的容限变小等问题。

另外，还会发生以下问题。即，因跟踪伺服的不稳定，可能会以高于最佳值的重放功率来对信息信号区域的内容进行重放，从而导致超分辨率介质损坏的问题发生。

进一步还会发生以下等问题。即，因跟踪伺服的不稳定而导致跟踪伺服的失控，同时焦距伺服也同样失控，从而导致重放装置的光拾取器与超分辨率介质发生接触，使超分辨率介质受到损坏并无法用于再次进行信息的重放。此外，还可能导致光拾取器发生故障，致使重放装置无法使用。

对此，本发明的光信息记录介质还具有以下特征，即，上述测试引导区域的跟踪误差信号的振幅大于上述信息信号区域的跟踪误差信号的振幅。

根据上述结构，无论对本发明的光信息记录介质进行重放的光信息记录介质重放装置的、跟踪误差检测方式是DPD方式(Differential PhaseDetection；差分方式或相位差方式)还是推挽方式，与跟踪伺服的稳定性相关联的、测试引导区域的跟踪误差信号的振幅都大于信息信号区域的跟踪误差信号的振幅，所以，测试引导区域的跟踪伺服比信息信号区域的跟踪伺服更稳定。因此，在求取重放时所需的设定值(重放功率值、焦距伺服偏移值、球面像差校正值、倾角中至少一者)的最佳值时，能够更大地改变设定值。

在此，信息信号区域的跟踪误差信号的振幅不可过大。其理由在于，若使信息信号区域的跟踪误差信号的振幅过大，虽然跟踪伺服较稳定，但该振幅超过某一定的值时，信息信号区域的重放信号的误码率会出现恶化。

与之相比，测试引导区域的目的在于求取重放设定值的最佳值。因此，对于测试引导区域而言，虽然跟踪误差信号的振幅超过了上述某一定的值时多少会使重放信号的误码率发生恶化，但跟踪伺服会较稳定，所以，能够通过测试引导区域来较好地求取重放设定值的最佳值。

如此，能够使误码率为更良好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。此外，能够防止因上述光信息记录介质重放装置的光拾取器与光信息记录介质发生接触而导致光信息记录介质受损并无法再次重放信息的问题，也能够防止因上述光信息记录介质重放装置的光拾取器与光信息记录介质发生接触而导致光拾取器发生故障进而导致无法使用上述光信息记录介质重放装置的问题。

另外，本发明的光信息记录介质还具有了以下特征，即，上述光信息记录介质重放装置的重放激光的波长λ、上述光信息记录介质重放装置的物镜的开口率NA、上述信息信号区域的轨间距TPi、上述测试引导区域的轨间距TPt满足TPi＜TPt≤λ/NA这一关系。

根据上述结构，无论对本发明的光信息记录介质进行重放的光信息记录介质重放装置的跟踪误差检测方式是DPD方式还是推挽方式，与跟踪伺服的稳定性相关联的、测试引导区域的跟踪误差信号的振幅都大于信息信号区域的跟踪误差信号的振幅，所以，测试引导区域的跟踪伺服比信息信号区域的跟踪伺服更稳定。因此，求取重放时所需的设定值(重放功率值、焦距伺服偏移值、球面像差校正值、倾角中的至少一者)的最佳值时，能够更大地改变设定值。

如此，能够使误码率为更良好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。此外，能够防止因上述光信息记录介质重放装置的光拾取器与光信息记录介质发生接触而导致光信息记录介质受损并无法再次重放信息的问题，也能够防止因上述光信息记录介质重放装置的光拾取器与光信息记录介质发生接触而导致光拾取器发生故障进而导致无法使用上述光信息记录介质重放装置的问题。

另外，在上述结构中，测试引导区域的轨间距比信息信号区域的轨间距要宽，所以，能够降低测试引导区域的重放信号的串扰量(来自相邻轨道的泄漏信号量)。若串扰量较大，信号重放时的噪音成分便会增大，从而导致误码率发生恶化。也就是说，较之于测试引导区域的轨间距同等于信息信号区域的轨间距时的情况，通过上述结构能够降低噪音成分，所以，能够使测试引导区域的误码率成为良好，并能够求取更可靠的重放设定值之最佳值。

另外，本发明的光信息记录介质还具有以下特征，即，上述第2预坑列中上述最短标记长度的预坑相对于上述第2预坑列中所有预坑的存在几率低于上述第1预坑列中上述最短标记长度的预坑相对于上述第1预坑列中所有预坑的存在几率。

根据上述结构，第2预坑列中最短标记长度的预坑相对第2预坑列中所有预坑的存在几率低于第1预坑列中最短标记长度的预坑相对第1预坑列中所有预坑的存在几率。在本申请中，标记长度的存在几率是指，轨道1周内预坑列中的某特定标记长度的出现次数除以上述轨道1周内预坑列中的全种类标记长度的出现次数而得到的比率，即，上述轨道1周内预坑列中具有某特定标记长度的预坑的个数除以上述轨道1周内预坑列中所有预坑的个数而得到的比率。

最短标记长度的存在几率是使跟踪误差信号的振幅发生减小(也就是使跟踪伺服不稳定)的要因，而跟踪误差信号的振幅又与跟踪伺服的稳定性相关联。因此，当本发明的光信息记录介质重放装置的跟踪误差检测方式是DPD方式时，由于测试引导区域的最短标记长度的存在几率低于信息信号区域的最短标记长度的存在几率，所以，测试引导区域的跟踪伺服比信息信号区域的跟踪伺服更稳定，因此，在求取重放时所需的设定值(重放功率值、焦距伺服偏移值、球面像差校正值、倾角中的至少一者)的最佳值时，能够更大地改变设定值。

如此，能够使误码率为更良好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。此外，能够防止因上述光信息记录介质重放装置的光拾取器与光信息记录介质发生接触而导致光信息记录介质受损并无法再次重放信息的问题，也能够防止因上述光信息记录介质重放装置的光拾取器与光信息记录介质发生接触而导致光拾取器发生故障进而导致无法使用上述光信息记录介质重放装置的问题。

此外，根据上述结构，无需使测试引导区域的预坑形状不同于信息信号区域的预坑形状。仅通过改变最短标记长度的预坑的存在几率，便能够使跟踪伺服达到稳定。即，无需改变预坑制造时的母盘制作条件(保护膜厚等)，也无需改变光策略(即，在将记录用信号实际记录于光信息记录介质时，对应光信息记录介质的微差来改变记录方法的处理)，仅通过改变预坑的图案便能够使跟踪伺服达到稳定。因此，能够抑制生产成本。

另外，本发明的光信息记录介质还具有以下特征，即，上述第2预坑列中最长标记长度的预坑相对于上述第2预坑列中所有预坑的存在几率高于上述第1预坑列中最长标记长度的预坑相对于上述第1预坑列中所有预坑的存在几率。

根据上述结构，第2预坑列中最长标记长度的预坑相对于第2预坑列中所有预坑的存在几率高于第1预坑列中最长标记长度的预坑相对于第1预坑列中所有预坑的存在几率。

最长标记长度的存在几率是使跟踪误差信号的振幅发生增大(使跟踪伺服稳定)的要因，而跟踪误差信号的振幅与跟踪伺服的稳定性相关联。因此，当本发明的光信息记录介质重放装置的跟踪误差检测方式是DPD方式时，由于测试引导区域的最长标记长度的存在几率高于信息信号区域的最长标记长度的存在几率，所以，测试引导区域的跟踪伺服比信息信号区域的跟踪伺服更稳定，因此，在求取重放时所需的设定值(重放功率值、焦距伺服偏移值、球面像差校正值、倾角中的至少一者)的最佳值时，能够更大地改变设定值。

如此，能够使误码率为更良好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。此外，能够防止因上述光信息记录介质重放装置的光拾取器与光信息记录介质发生接触而导致光信息记录介质受损并无法再次重放信息的问题，也能够防止因上述光信息记录介质重放装置的光拾取器与光信息记录介质发生接触而导致光拾取器发生故障进而导致无法使用上述光信息记录介质重放装置的问题。

此外，根据上述结构，无需使测试引导区域的预坑形状不同于信息信号区域的预坑形状。仅通过改变最短标记长度的预坑的存在几率，便能够使跟踪伺服达到稳定。即，无需改变预坑制造时的母盘制作条件(保护膜厚等)，或无需改变光策略，仅通过改变预坑的图案，便能够使跟踪伺服达到稳定。因此能够抑制生产成本。

另外，本发明的光信息记录介质还具有以下特征，即，上述第1预坑列中的预坑深度Di、上述第2预坑列中的预坑深度Dt满足Di/2≤Dt＜Di这一关系。

根据上述结构，对本发明的光信息记录介质进行重放的光信息记录介质重放装置的跟踪误差检测方式是推挽方式时，由于与跟踪伺服的稳定性相关联的、测试引导区域的跟踪误差信号的振幅大于信息信号区域的跟踪误差信号的振幅，所以，测试引导区域的跟踪伺服比信息信号区域的跟踪伺服更稳定。因此，在求取重放时所需的设定值(重放功率值、焦距伺服偏移值、球面像差校正值、倾角中的至少一者)的最佳值时，能够更大地改变设定值。

如此，能够使误码率为更良好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。此外，能够防止因上述光信息记录介质重放装置的光拾取器与光信息记录介质发生接触而导致光信息记录介质受损并无法再次重放信息的问题，也能够防止因上述光信息记录介质重放装置的光拾取器与光信息记录介质发生接触而导致光拾取器发生故障进而导致无法使用上述光信息记录介质重放装置的问题。

此外，根据上述结构，测试引导区域的预坑的深度比信息信号区域的预坑的深度要浅，因此，当将预坑从母盘转刻至压形器，再从压形器转刻至基板以在基板上形成预坑时，与测试引导区域的预坑深度和信息信号区域的预坑深度相同时的情况相比，本发明能够以良好的精度来转刻预坑。如此，能够减少该转刻时所出现的转刻斑以及毛刺等这些导致噪音成分的因素。因此，能够进一步使测试引导区域的误码率成为良好，并能够进一步以良好的精度来求取重放设定值的最佳值。

另外，本发明的光信息记录介质还具有以下特征，即，上述测试引导区域的轨间距TPt、上述第1预坑列中的预坑的坑点宽Wi、上述第2预坑列中的预坑的坑点宽Wt满足Wi＜Wt≤TPt/2这一关系。

根据上述结构，当对本发明的光信息记录介质进行重放的光信息记录介质重放装置的跟踪误差检测方式是推挽方式时，由于测试引导区域的跟踪误差信号的振幅大于信息信号区域的跟踪误差信号的振幅，所以，测试引导区域的跟踪伺服比信息信号区域的跟踪伺服更稳定，其中，跟踪误差信号的振幅与跟踪伺服的稳定性相关联。因此，在求取重放时所需的设定值(重放功率值、焦距伺服偏移值、球面像差校正值、倾角中的至少一者)的最佳值时，能够更大地改变设定值。

如此，能够使误码率为更良好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。此外，能够防止因上述光信息记录介质重放装置的光拾取器与光信息记录介质发生接触而导致光信息记录介质受损并无法再次重放信息的问题，也能够防止因上述光信息记录介质重放装置的光拾取器与光信息记录介质发生接触而导致光拾取器发生故障进而导致无法使用上述光信息记录介质重放装置的问题。

此外，根据上述结构，测试引导区域的预坑的坑点宽比信息信号区域的预坑的坑点宽要宽，因此，当将预坑从母盘转刻至压形器，再从压形器转刻至基板以在基板上形成预坑时，与测试引导区域的预坑坑点宽和信息信号区域的预坑坑点宽相同时的情况相比，能够以良好的精度来转刻预坑。如此，能够减少该转刻时所出现的转刻斑以及毛刺等这些导致噪音成分的因素。因此，能够使测试引导区域的误码率成为良好，并能够以良好的精度来求取重放设定值的最佳值。

另外，本发明的光信息记录介质重放装置能够对上述的任意光信息记录介质进行重放，其特征在于，具备：重放单元，对记录于上述光信息记录介质的期望位置上的信息进行重放；控制单元，根据上述重放单元读取上述光信息记录介质的测试引导区域中的预坑后所得到的重放信号来求取上述设定值的最佳值，并根据上述设定值的最佳值对上述重放单元进行控制。

根据上述结构，关于因设置时及移动时的机械性错位、各重放装置特性的不均、各超分辨率介质的特性不均等而导致成为不定设定值的情况，能够对应每一光信息记录介质，通过测试引导区域来求出该设定值的最佳值，然后再对记录有内容的信息信号区域进行重放，其中，上述设定值在进行重放时被使用。因此，能够按每一介质，对信息信号区域中的内容进行最佳的重放。

另外，本发明的光信息记录介质重放装置的控制方法用于控制对上述光信息记录介质进行重放的光信息记录介质控制装置，其特征在于包括，重放步骤，对记录于上述光信息记录介质的期望位置上的信息进行重放；控制步骤，根据在上述重放步骤读取上述光信息记录介质的测试引导区域中的预坑后所得到的重放信号，求取上述设定值的最佳值，并根据上述设定值的最佳值，对上述重放步骤所进行的上述重放进行控制。

根据上述结构，关于因设置时及移动时的机械性错位、各重放装置特性的不均、各超分辨率介质的特性不均等而导致成为不定设定值的情况，能够对应每一光信息记录介质，通过测试引导区域来求出该设定值的最佳值，然后再对记录有内容的信息信号区域进行重放，其中，上述设定值在进行重放时被使用。因此，能够按每一介质，对信息信号区域中的内容进行最佳的重放。

上述光信息记录介质重放装置也可以通过计算机来实现。此时，使计算机作为上述控制单元而发挥作用，从而由此以计算机来实现上述光信息记录介质重放装置的、光信息记录介质重放装置的控制程序以及记录有该控制程序的计算机可读取记录介质也包含于本发明的范畴内。

如上所述，对于本发明的光信息记录介质，其通过由形状为凸状和凹状的至少一者形成的预坑来记录信息，该信息通过光信息记录介质重放装置向上述预坑照射光来进行重放，且该光信息记录介质中被设置有信息信号区域和测试引导区域，该信息信号区域中记录有内容，该测试引导区域中记录有用于调整设定值的重放设定值调整信息，该设定值是在上述光信息记录介质重放装置进行上述重放时所使用的设定值；由多个形成于上述信息信号区域的预坑所构成的第1预坑列的最短标记长度低于上述光信息记录介质重放装置所具有的光学系统分辨极限长度；由多个记录于上述测试引导区域的预坑即多个用于进行上述调整的预坑所构成的第2预坑列中的标记长度的种类与上述第1预坑列中的标记长度的一部分种类或所有种类相同；上述第2预坑列中含有标记长度低于上述光信息记录介质重放装置所具有的光学系统分辨极限长度的预坑；上述第1预坑列以及上述第2预坑列中的标记长度有3种以上。

因此，通过本发明的光信息记录介质即、超分辨率光信息记录介质，能够按每一介质，对信息信号区域中的内容进行最佳的重放。

附图说明

图1表示了本发明的一实施方式，是表示超分辨率介质的概略结构的平面图。

图2是表示上述超分辨率介质结构的局部截面图。

图3是上述超分辨率介质的信息信号区域中预坑列的放大平面图以及沿着同平面图中的线21a-21b的截面图。

图4是上述超分辨率介质的测试引导区域中预坑列的放大平面图以及沿着同平面图中的线22a-22b的截面图。

图5是表示坑点深度与重放信号振幅之间关系以及坑点深度与推挽方式的跟踪误差信号之间关系的图表。

图6表示了本发明的一实施方式，是表示光记录介质重放装置的概略结构的框图。

图7是表示上述光记录介质重放装置的控制部的结构框图。

图8是表示上述光记录介质重放装置的处理动作流程的流程图。

(标号说明)

1        超分辨率介质(光信息记录介质)

2        基板

3        反射层

4        超分辨率重放层

5        覆盖层

11       信息信号区域

12       测试引导区域

21       预坑列(第1预坑列)

22       预坑列(第2预坑列)

100      重放装置(光信息记录介质重放装置)

101      半导体激光器

102      准直透镜

103      光束修整棱镜

104      光束分光器

105      物镜

106      光检测系统

107      主轴马达

108      光学头(重放单元)

109      控制部(控制单元)

110A     激光控制电路

110B     信号处理电路

111      头放大器

112A     RF放大器

112B     RF信号处理电路

113      伺服处理电路

114      光拾取器用马达

115      光束扩展控制电路

116      光学头倾角控制电路

117      调节器

118      光束扩展器

119     倾角调整机构

131     访问位置控制部

132     信号处理部

133     介质识别部

134     重放条件调整部

134A    重放功率值调整部

134B    伺服偏移值调整部

134C    球面像差校正值调整部

134D    倾角调整部

具体实施方式

<实施方式1>

以下使用图1至图5来说明本发明实施方式的光信息记录介质。

图1是表示本实施方式的光信息记录介质的概略结构图，图2是表示上述光信息记录介质构造的局部截面图。

图1所示的超分辨率介质(光信息记录介质)1是重放专用的光信息记录介质，其断面结构是BD(Blu-ray Disc；蓝光盘)样式结构。在以下的说明中，重放装置(光信息记录介质重放装置)100(参照图6)是指在本实施方式外的其他实施方式中所述的、对超分辨率介质1和一般光信息记录介质这两者能够进行重放的光信息记录介质重放装置。

超分辨率介质1中设有信息信号区域11和测试引导区域12，信息信号区域11中记录有视频及/或音频等内容(contents)，测试引导区域12中记录有用以调整重放设定值的信息(重放设定值调整信息)。重放设定值是指重放功率、伺服偏移值、球面像差校正值、倾角中的至少一者或全部。

如图2所示，超分辨率介质1构成为：在基板2上设有反射层3(例如，若使用硅，那么厚度可为50nm)、使超分辨率重放成为可能的超分辨率重放层4(例如，若使用氧化锌，那么厚度为105nm)、具有透光性的覆盖层5(厚为100μm)。反射层3、超分辨率重放层4、覆盖层5的厚度都不限于上述括号内所示的厚度，能够随超分辨率介质1的设计而进行适当的设定。

来自重放装置100的重放激光从覆盖层5一侧照向超分辨率介质1。

关于基板2，能够使用公知的各种基板。作为此类基板2，例如可以使用聚烯烃类树脂或聚碳酸酯树脂等。

关于反射层3的材料，例如有硅或铝等。关于超分辨率重放层4的材料，例如有氧化锌等。但本发明并不限定于此，反射层3和超分辨率重放层4只要是能够使超分辨率重放成为可能的材料或结构即可，可以通过任何材料和结构来形成。另外，若仅通过超分辨率重放层4便能够实现超分辨率重放时，也可以省略反射层3。反射层3和超分辨率重放层4可以通过诸如溅射法或真空蒸镀法等来形成。

关于覆盖层5的材料，例如有聚碳酸酯树脂或紫外线硬化透明树脂等。使用紫外线硬化透明树脂来形成覆盖层5时，可使用旋涂法等来形成。另外，若使用聚碳酸酯树脂来形成覆盖层5时，例如可将厚度为100μm的聚碳酸酯膜贴附于超分辨率重放层4来形成。

图3的(a)是表示超分辨率介质1的信息信号区域11中的预坑列21的放大平面图，图3的(b)是沿着(a)中的线21a-21b的截面图。另外，图4的(a)是表示超分辨率介质1的测试引导区域12中的预坑列22的放大平面图，图4的(b)是沿着(a)中的线22a-22b的截面图。

在信息信号区域11，具有低于重放装置100之分辨极限长度的最短标记长度、且具有3种以上标记长度的成为凹状及/或凸状的预坑列(第1预坑列)21(参照图3)被预先以螺旋状或同心圆状形成在基板2上。

另外，在测试引导区域12，预坑列(第2预坑列)22(参照图4)被预先以螺旋状或同心圆状形成在基板2上。

在此要注意的是，测试引导区域12的预坑列22的标记长度与信息信号区域11的预坑21的标记长度大致相同。

为了对具有低于重放装置100之分辨极限长度的最短标记长度的、超分辨率介质进行重放，如以上所述，需要使用高于重放一般介质时所使用的重放功率。除此之外，对于超分辨率介质，重放信号的振幅为最大时的重放功率及/或焦距伺服偏移值等的最佳值或误码率为最好时的该最佳值会随标记长度不同而不同。其理由在于：重放信号的振幅为最大时的激光聚点尺寸、或误码率为最良好时的激光聚点尺寸会随标记长度不同而不同，所以，将会对激光聚点的模拟缩小程度产生影响的、重放功率值及/或焦距伺服偏移值也随标记长度不同而不同。

若测试引导区域12的预坑列22具有与信息信号区域11的预坑列21的标记长度大致相同的标记长度，测试引导区域的重放功率值及/或焦距伺服偏移值等的最佳值便与信息信号区域11的该最佳值大致相同。如此，能够以良好的精度来求取最佳的重放设定值，实现非常良好的误码率。

关于信息信号区域11内的预坑列21的预坑31，如图3的(a)及(b)所示，设坑点深为Di，坑点宽为Wi，轨间距为TPi。另外，关于测试引导区域12内的预坑列22的预坑32，如图4的(a)及(b)所示，设坑点深为Dt，坑点宽为Wt，轨间距为TPt。

在此，关于坑点宽Wi，如图3的(b)所示，其指在预坑31的底面与开口面的中间位置即从底面起高度为Dt/2的位置上的、预坑31在半径方向上的坑点长度。关于坑点宽Wt，如图4的(b)所示，其指预坑32的底面与开口面的中间位置即从底面起高度为Dt/2的位置上的、预坑32在半径方向上的坑点长度。

预坑列21中，包括最长标记长度以及低于重放装置100之分辨极限长度的最短标记长度在内的3种以上标记长度。在信息信号区域11中，视频及/或音频等内容(contents)通过该预坑列21而被记录。关于最短标记长度、最长标记长度、标记长度的种类数量，并不限定于此，但优选标记长度的种类为3种以上。

以下说明其理由。

一般而言，内容的数字信号被按一定规则进行编码，并通过预坑列21来进行记录，其中，预坑21具有多种标记长度。在此，若采取以2种以下的标记长度来对上述数字信号进行编码的编码方式，编码效率会恶化，信息密度也会降低。所以，采用这种编码方式不符合现实要求。

因此，信息信号区域11中记录的内容是通过其中具有3种以上标记长度的预坑列(例如，其中具有7种标记长度的预坑列)来进行记录的。

关于一般光信息记录介质中的标记长度的种类数，例如，重放专用式CD及重放专用式DVD的标记长度的种类有9种，其信息信号区域中所记录的内容是通过其中具有9种标记长度的预坑列来记录的。

另外，形成于信息信号区域11中的预坑列21的最短标记长度比重放装置100所具有的分辨极限长度要小。

关于一般介质的重放，若预坑列的最短标记长度低于重放装置100所具有的分辨极限，那么便无法重放信息信号区域中所记录的内容。因此，形成于一般介质上的预坑列的最短标记长度需为重放装置100所具有的分辨极限以上。

另一方面，在超分辨率介质1的信息信号区域11中，其最短标记长度低于重放装置100所具有的分辨极限长度，因此，比起一般介质，超分辨率介质1能够实现高密度记录。

如以上所述，若设重放装置100的重放激光波长为λ，重放装置100的物镜的开口率为NA，那么，在理论上重放装置100所具有的分辨极限可表示为λ/4NA。例如，若重放装置100的重放激光的波长λ为405nm，且物镜的开口率NA为0.85，那么，重放装置100所具有的分辨极限为λ/4NA＝119nm。另外，只要是低于上述重放装置100所具有的分辨极限，预坑列21的最短标记长度能够被设定成任意值。此时，若重放装置100所具有的分辨极限例如为119nm，那么可以将预坑列21的最短标记长度设定成小于上述重放装置100所具有的分辨极限的值，例如可以是116nm。

另外，关于预坑列21的最长标记长度，只要其值大于上述最短标记长度便可。因此，在上述情况时可以将预坑列21的最长标记长度设定成大于预坑列21之最短标记长度的值，比如为464nm。

此外，如图2所示，超分辨率介质1被设有超分辨率重放层4，因此能够对其具有低于重放装置100之分辨极限长度的最短标记长度的预坑列21、22进行重放。

如图1所示，测试引导区域12是被预先分配于信息信号区域11之内周侧的区域。在测试引导区域12，形成有预坑列22，预坑列22被用以调整在对信息信号区域11进行重放时所需的最佳重放设定值。

形成于测试引导区域12的预坑列22具有：与信息信号区域11的预坑列21的标记长度大致相同的标记长度(最短标记长度为116nm；最长标记长度为464nm；标记长度的种类为7种)。

较之于一般介质，超分辨率介质1的重放设定值的变化会给超分辨率介质1自身的特性(例如误码率)带来较大的影响。关于超分辨率介质1，由于在对信息信号区域11进行重放之前能够求取最佳的重放设定值，所以，与没有测试引导区域12的情况相比，能够使误码率成为良好，并能够扩大散焦容限等的容限幅度。

在此，即使测试引导区域12的预坑列22不具有信息信号区域11的预坑列21中所含的所有种类的标记长度，也能够求取重放设定值的实际最佳值。但优选测试引导区域12的预坑列22具有信息信号区域11的预坑列21所含的所有种类的标记长度。

其理由如下。

即，如以上所述，为了对超分辨率介质1的低于重放装置100之分辨极限长度的最短标记长度进行重放，需要使用高于重放一般介质时的重放功率，此外，重放信号的振幅为最大时、或误码率为最好时的最佳重放功率值以及焦距伺服偏移值等的重放设定值会随标记长度而不同。由于重放信号的振幅为最大时的激光聚点尺寸以及误码率为最好时的激光聚点尺寸会随标记长度而不同，且重放功率值及焦距伺服偏移值等会对激光聚点的模拟缩小程度产生影响，所以，该重放功率值及焦距伺服偏移值也会随标记长度不同而不同。

因此，为了分别确定出对应于信息信号区域11的最佳重放功率及/或焦距伺服偏移值等值，需要对预坑列21所可能具有的所有种类标记长度的预坑列进行综合性判断。例如，对预坑列21所可能具有的所有种类标记长度的预坑列，求取可使误码率为最低的重放功率值及/或焦距伺服偏移值。如此，较之于对不具有全种类标记长度的预坑列进行判断时的情况相比，能够对应地分别求取1个最佳的重放功率值及/或焦距伺服偏移值等。

在本实施方式中，虽然测试引导区域12设置于信息信号区域11的内周侧，但本发明并不限定于此，其也可以设置在信息信号区域11的外周侧或独立地设置在信息信号区域11的内部。

另外，在超分辨率介质1中，优选基于引入区域(无图示)的所设区域来决定用于设置测试引导区域12的区域。

引入区域是指，以预坑列的形式，记录有用以识别介质(重放专用式、1次性记录式、可擦写式、超分辨率介质等)的信息、推荐记录功率及重放功率等的信息的区域。另外，引入区域的重放功率通常是对一般介质进行重放时的重放功率，因此，引入区域的预坑列的最短标记长度优选大于重放装置100所具有的分辨极限长度。

当重放装置100对具有上述引入区域的超分辨率介质1进行重放时，重放装置100首先对引入区域进行重放。此时，重放装置100的重放顺序为：引入区域→测试引导区域12→信息信号区域11。

另外，引入区域一般是重放装置100所能够重放的超分辨率介质1上的区域，其被设置于信息信号区域11的内周侧区域。因此，优选测试引导区域12设置于信息信号区域11的内周侧，且进一步优选将测试引导区域12设置于引入区域的内部，这样，在重放完引入区域后，后述重放装置100的光拾取器的移动距离(从引入区域向测试引导区域12的移动距离)便会得到缩小。

因此，能够缩短到进行信息信号区域11的重放为止的时间，所以，能够立刻进行数据的重放，并能够抑制移动光拾取器时的功耗。

另外，根据光信息记录介质以及光信息记录介质重放装置的规格，引入区域有时会设置于信息信号区域11的外周侧，在设定要最先对该引入区域进行重放的情况下，可以将测试引导区域12设置于信息信号区域11的外周侧，更优选将其设置于引入区域的内部。由此，能够得到与引入区域及测试引导区域12被设置于信息信号区域11的内周侧时的情况相同的效果。

另外，在进行超分辨率介质1的重放时，若通过测试引导区域12来对重放功率进行最佳化的情况下，优选在信息信号区域11内部也设置测试引导区域12。

此时，与诸如仅在内周侧(或外周侧)设置测试引导区域12时的情况相比，往返于信息信号区域11的重放部分和测试引导区域12的距离得以缩小，因此，能够抑制移动光拾取器的功耗。

此外，当某区域位于信息信号区域11以外，且该区域具有低于重放装置100之分辨极限长度的最短标记长度，并具有3种以上的标记长度时，那么，在进行该区域的重放时，能够使用测试引导区域12来求取重放功率值等的最佳值。

例如，某预坑列具有低于重放装置100之分辨极限长度的最短标记长度、且标记长度种类为3种以上，通过该预坑列在引入区域中记录有用以表示信息信号区域11之位置的信息及/或可擦写式光信息记录介质的地址信息等，此时，通过测试引导区域12对重放功率进行最佳化，其后对上述引入区域的预坑列及/或地址信息的预坑列进行重放，如此，便能够使误码率成为良好，并能够使散焦容限等的容限得以扩大。

另外，当重放设定值成为一定的情况下，优选使测试引导区域12的跟踪误差信号的振幅大于信息信号区域11的跟踪误差信号的振幅。

根据上述结构，无论对超分辨率介质1进行重放的重放装置100的跟踪误差信号检测方式是DPD方式还是推挽方式，由于与跟踪伺服的稳定性相关联的、测试引导区域12的跟踪误差信号的振幅大于信息信号区域11的跟踪误差信号的振幅，所以，测试引导区域12的跟踪伺服比信息信号区域11的跟踪伺服更稳定。因此，在求取用于进行重放的设定值(重放功率值、焦距伺服偏移值、球面像差校正值、倾角中的至少一者)的最佳值时，能够更大地改变设定值。

在此，信息信号区域11的跟踪误差信号的振幅不可过大。其理由在于，使信息信号区域11的跟踪误差信号的振幅较大时，虽跟踪伺服会较稳定，但该振幅超过某一定的值时，信息信号区域11的重放信号的误码率便会发生恶化。

与之相比，测试引导区域12的目的在于求取重放设定值的最佳值。虽然在跟踪误差信号的振幅超过了上述某一定的值时多少会使重放信号的误码率发生恶化，但跟踪伺服会较稳定，因此能够较好地求取重放设定值的最佳值。

如此，能够进一步使误码率为更良好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。此外，能够防止因重放装置100的光拾取器与超分辨率介质1发生接触而导致超分辨率介质1受损并无法再次重放信息的问题，也能够防止因光拾取器与超分辨率介质1发生接触而导致光拾取器发生故障进而导致无法使用重放装置100的问题。

关于使测试引导区域12的跟踪误差信号的振幅大于信息信号区域11的跟踪误差信号的振幅的方法，其可以采用任何方法。

以下，就上述方法的一个例子进行说明。

测试引导区域12的预坑列22的最短标记长度的存在几率优选低于信息信号区域11的预坑列21的最短标记长度的存在几率。

在本申请中，存在几率是指，轨道1周内的预坑列中的某特定种类标记长度的出现次数除以上述轨道1周内的预坑列中的所有种类标记长度的出现次数而得到的比率，即、轨道1周内的某特定标记长度的存在几率。例如，最短标记长度的存在几率是指，轨道1周内的预坑列中的最短标记长度的出现次数除以上述轨道1周内的预坑列中的所有种类标记长度的出现次数而得到的比率。

最短标记长度的存在几率是使与跟踪伺服的稳定性相关联的跟踪误差信号的振幅发生减小(也就是说，使跟踪伺服不稳定)的要因。因此，当重放装置100的跟踪误差检测方式为DPD方式时，通过使测试引导区域12的最短标记长度的存在几率低于信息信号区域11的最短标记长度的存在几率，可以使测试引导区域12的跟踪伺服比信息信号区域11的跟踪伺服更稳定，因此，在求取重放设定值的最佳值时，能够更大地改变设定值。

因此，能够使误码率为更良好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。此外，能够防止因重放装置100的光拾取器与超分辨率介质1发生接触而导致超分辨率介质1受损并无法再次重放信息的问题，也能够防止因光拾取器与超分辨率介质1发生接触而导致光拾取器发生故障进而导致无法使用重放装置100的问题。

当重放装置的跟踪误差检测方式为DPD方式时，若最短标记长度的存在几率较低时，跟踪误差信号的振幅便较小。在此，就其原因进行说明。

首先对跟踪误差检测方式进行说明。

关于光信息记录介质的跟踪误差检测方式，目前广泛运用的有上述DPD方式和推挽方式。例如，对于重放专用式DVD所广泛使用的是DPD方式，对于记录式DVD所广泛使用的是推挽方式。

在DPD方式中，通过4分割光探测器来检测坑点的衍射光的光量分布，将对角受光面上的和信号的相位差作为跟踪误差信号。另外，在推挽方式中，通过2分割光探测器来检测坑点以及导槽的衍射光的光量分布，将2分割检测信号的差作为跟踪误差信号。另外，被用于CD-R(CompactDisk Recordable)以及CD-RW(Compact Disk Rewritable)的DPP方式(Differential Push-Pull：差分推挽方式)是属于推挽方式的。

在DPD方式中，重放信号的振幅会较大地影响跟踪误差信号的振幅。

也就是说，重放信号的振幅越大，跟踪误差信号的振幅就越大。另外，由于预坑列21及预坑列22的最短标记长度低于重放装置所具有的分辨极限长度，所以，最短标记长度的重放信号的振幅比其他标记长度的重放信号的振幅要小。也就是说，最短标记长度的存在几率越小、即轨道1周内的最短标记长度的出现次数越小，跟踪误差信号的振幅便越大。因此，当重放装置的跟踪误差检测方式为DPD方式时，若最短标记长度的存在几率较低，那么跟踪误差信号的振幅便较小，所以跟踪伺服便更稳定。

一般来说，记录编码方式被决定后，编码后的数据所对应的各标记长度的存在几率便大致成为一定，因此，很难降低预坑列21的最短标记长度在记录有编码后的内容信息的信息信号区域11中的存在几率。

与之相比，测试引导区域12中的预坑列22无需作为编码化后的信息，其仅被用以求取预坑列22的重放功率值等的最佳值而形成，因此，只要预坑列22具有预坑列21所具有的所有种类标记长度，便能够根据改变重放功率值等时的误码率以及重放信号的振幅来求取重放功率值等的最佳值。

如此，通过使测试引导区域12的预坑列22的最短标记长度的存在几率低于信息信号区域11的预坑列21的最短标记长度的存在几率，便能够对应于重放功率值等的变化，使预坑列22的跟踪伺服比预坑列21的跟踪伺服更稳定。

另外，无需使测试引导区域12的预坑列22中的预坑32的形状不同于信息信号区域11的预坑列21中的预坑31的形状，仅通过改变测试引导区域12的预坑列22中最短标记长度的预坑32的存在几率，就能够使跟踪伺服达到稳定。即，无需改变预坑22及32的制造时的、光信息记录介质生产用母盘的制作条件(保护膜厚等)，也无需改变光策略，仅通过改变预坑32的图案便能够使跟踪伺服达到稳定，因此能够抑制生产成本，其中，上述母盘是基板2的基础。

测试引导区域12的预坑列22的最长标记长度的存在几率优选高于信息信号区域11的预坑列21的最长标记长度的存在几率。

最长标记长度的存在几率是使跟踪误差信号的振幅发生增大的要因，而跟踪误差信号的振幅与跟踪伺服的稳定性相关联。因此，当重放装置100的跟踪误差检测方式为DPD方式时，通过使测试引导区域12的最长标记长度的存在几率高于信息信号区域11的最长标记长度的存在几率，可以使测试引导区域12的跟踪伺服比信息信号区域11的跟踪伺服更稳定，因此，在求取重放设定值的最佳值时，能够更大地改变设定值。

因此，能够使误码率为更良好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。此外，能够防止因重放装置100的光拾取器与超分辨率介质1发生接触而导致超分辨率介质1受损并无法再次重放信息的问题，也能够防止因重放装置100的光拾取器与超分辨率介质1发生接触而导致光拾取器发生故障进而导致无法使用重放装置100的问题。

当重放装置100的跟踪误差检测方式为DPD方式时，若最长标记长度的存在几率较高时，跟踪误差信号的振幅便较大。以下，就其原因进行说明。

即，由于最长标记长度的重放信号振幅比其他标记长度的重放信号振幅要大，因此，最长标记长度的存在几率即轨道1周内的最长标记长度的出现次数越多，跟踪误差信号的振幅便越大，所以跟踪伺服便更稳定。

另外，无需使测试引导区域12的预坑列22中的预坑32的形状不同于信息信号区域11的预坑列21中的预坑31的形状，仅通过改变测试引导区域12的预坑列22中的、最短标记长度的预坑32的存在几率，便能够使跟踪伺服达到稳定。即，无需改变预坑31及预坑32的制造时的、上述母盘的制作条件(保护膜厚等)，也无需改变光策略，仅通过改变预坑32的图案便能够使跟踪伺服达到稳定。因此，能够抑制生产成本。

另外，预坑列21中的预坑的坑点深度Di、预坑列22中的预坑的坑点深度Dt优选满足Di/2≤Dt＜Di这一关系。

在满足上述关系的情况下，当重放装置100的跟踪误差检测方式为推挽方式时，测试引导区域12的跟踪误差信号的振幅会大于信息信号区域11的跟踪误差信号的振幅。由于跟踪误差信号的振幅与跟踪伺服的稳定性相关联，所以，测试引导区域12的跟踪伺服会比信息信号区域11的跟踪伺服更稳定，因此，在求取重放设定值的最佳值时，能够更大地改变设定值。

因此，能够使误码率为更好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。此外，能够防止因重放装置100的光拾取器与超分辨率介质1发生接触而导致超分辨率介质1受损并无法再次重放信息的问题，也能够防止因重放装置100的光拾取器与超分辨率介质1发生接触而导致光拾取器发生故障进而无法使用重放装置100的问题。

此外，由于测试引导区域12的预坑列22中的预坑32的深度比信息信号区域11的预坑列21中的预坑31要浅，因此，当将预坑31及预坑32从上述母盘转刻至压形器，再从压形器转刻至基板2，并在基板2上形成预坑列21及预坑列22时，与测试引导区域12的预坑列22中的预坑32的深度相同于信息信号区域11的预坑列21中的预坑31的深度时的情况相比，本发明能够以良好的精度来转刻预坑列21及预坑列22。如此，能够减少该转刻时所出现的转刻斑以及毛刺等这些导致噪音成分的因素。因此，能够进一步使测试引导区域12的误码率成为良好，并能够进一步以良好的精度来求取重放设定值的最佳值。

通过使坑点深度Di以及Dt满足上述关系，可以使得与跟踪伺服的稳定性相关联的、测试引导区域12的跟踪误差信号的振幅大于信息信号区域11的跟踪误差信号的振幅。关于其理由，以下通过图5来进行说明。

图5是表示坑点深度与重放信号振幅间的关系以及坑点深度与推挽方式的跟踪误差信号间的关系的图表。

坑点深度Di虽然可以适当地设定成任意的值，但将该重放装置100的重放激光的波长设为λ、将光衍射发生部分的材料折射率设为n时，优选所形成的坑点深度Di大致等于λ/4n。这是由于：如图5所示，因坑点的有无而产生光强度变化，坑点深度为λ/4n时，光强度变化成为最大即重放信号的振幅成为最大。

例如，以目前市场销售的光信息记录介质为例，若该光信息记录介质是重放专用式DVD，为优先实现增大记录密度的目的，以可实现最佳信号质量的λ/4n即、约100nm的坑点深度为前提来设计规格(λ＝650nm；基板的折射率n＝1.58)。

由于超分辨率介质1以提高信息量为目的，因此其与重放专用式DVD同样，优选使信息信号区域11的预坑列的深度Di大致等于λ/4n。

然而，从图5可以看出，当坑点深度大致为λ/4n时，推挽方式的跟踪误差信号几乎会变成0，跟踪伺服会变得不稳定。

在测试引导区域12中，较为重要的是：通过改变重放功率值等来使跟踪伺服稳定并实现功能，因此，通过使重放信号成为最佳振幅来增大跟踪误差信号的振幅也是很重要的。所以，使测试引导区域12的预坑深度Dt大致满足λ/8n≤Dt＜λ/4n即、满足Di/2≤Dt＜Di。

如此，通过图5可知，虽然测试引导区域12的重放信号的振幅比信息信号区域11小，但跟踪误差信号的振幅较大，因此，测试引导区域12的跟踪伺服比信息信号区域11稳定。

另外，即使坑点深度Dt大于坑点深度Di，与坑点深度Dt小于坑点深度Di时同样，跟踪误差信号的振幅也能增大。

然而通常情况下，与形成较浅的坑点相比，形成较深的坑点会给上述母盘的制作带来困难。另外，预坑列21及预坑列22从上述母盘向基板2的转刻也会变得困难。也就是说，坑点深度形成的越深，基板2的制作便越困难。因此，所形成的坑点深度Dt优选比坑点深度Di浅。

另外，通过图5可以得知，在跟踪误差信号的振幅为相同的情况下，比起坑点深度Dt小于坑点深度Di/2的这个范围，坑点深度Dt大于坑点深度Di/2且小于坑点深度Di的这个范围能够得到较大的重放信号振幅。在跟踪误差信号的振幅为相同时，振幅为较大的那一方的重放信号有利于最佳功率值等的求取，因此，坑点深度Dt优选大于坑点深度Di/2。

另外，测试引导区域12的轨间距TPt、上述预坑列22的坑点宽Wt、上述预坑列21的坑点宽Wi优选满足Wi＜Wt≤TPt/2这一关系。

在满足上述关系的情况下，当重放装置100的跟踪误差检测方式为推挽方式时，测试引导区域12的跟踪误差信号的振幅会大于信息信号区域11的跟踪误差信号的振幅。由于跟踪误差信号的振幅与跟踪伺服的稳定性相关联，所以测试引导区域12的跟踪伺服会比信息信号区域11的跟踪伺服更稳定，因此，在求取重放设定值的最佳值时，能够更大地改变设定值。

由此，能够使误码率为更良好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。此外，能够防止因重放装置100的光拾取器与超分辨率介质1发生接触而导致超分辨率介质1受损并无法再次重放信息的问题，也能够防止因重放装置100的光拾取器与超分辨率介质1发生接触而导致光拾取器发生故障进而导致无法使用重放装置100的问题。

此外，由于测试引导区域12的预坑列22中的预坑32的坑点宽比信息信号区域11的预坑列21中的预坑31的坑点宽要宽，因此，当将预坑31及预坑32从上述母盘转刻至压形器，再从压形器转刻至基板2，并在基板2上形成预坑列21及预坑列22时，与测试引导区域12的预坑列22中的预坑32的坑点宽相同于信息信号区域11的预坑列21中的预坑31的坑点宽时的情况相比，本发明能够以良好的精度来转刻预坑列21及预坑列22。如此，能够减少该转刻时所出现的转刻斑以及毛刺等这些导致噪音成分的因素。因此，能够进一步使测试引导区域12的误码率成为良好，并能够进一步以良好的精度来求取重放设定值的最佳值。

通过使轨间距TPt、坑点宽Wt、坑点宽Wi满足上述的关系，可以使与跟踪伺服的稳定性相关联的、测试引导区域12的跟踪误差信号的振幅大于信息信号区域11的跟踪误差信号的振幅。以下说明其理由。

在跟踪误差检测方式是推挽方式的情况下，通过标量衍射计算法，对跟踪误差信号的振幅与坑点宽之间的关系进行了计算。通过计算可知：当坑点长度为无限大时，若坑点宽为Tp/2，则跟踪误差信号的振幅为最大；当坑点长度小于光束径时，若坑点宽大于Tp/2，则跟踪误差信号的振幅为最大。也就是说，坑点宽越小于Tp/2，跟踪误差信号的振幅便越小。由于信息信号区域11的预坑列21具有各种各样的标记长度，因此，虽与跟踪误差信号的振幅最适配的坑点宽仍不明，但至少可知：在小于Tp/2的坑点宽范围中，坑点宽越宽跟踪误差信号的振幅便越大。

一般情况下，信息信号区域11的预坑宽Wi要小于TPi/2。这是由于：如果要形成其预坑宽Wi为TPi/2的较宽坑点，便需增大成本。

以目前市场销售的光信息记录介质为例，若该光信息记录介质是重放专用式CD，则轨间距为1.60μm、坑点宽为0.3μm至0.6μm；若该光信息记录介质是重放专用式DVD，则轨间距为0.74μm、坑点宽为0.3μm，即，坑点宽的值小于轨间距值的一半。

其详细内容将在以后叙述。由于优选使测试引导区域12的轨间距TPt比信息信号区域11的轨间距TPi宽，所以，信息信号区域11的预坑宽Wi需要小于TPt/2。如此，通过使测试引导区域12的预坑宽Wt满足Wi＜Wt≤TPt/2，跟踪误差信号的振幅变大，因此，测试引导区域12的跟踪伺服比信息信号区域11要稳定。

另外，重放装置100的重放激光波长λ、重放装置100的物镜的开口率NA、测试引导区域12的轨间距TPt、信息信号区域11的轨间距TPi优选满足TPi＜TPt≤λ/NA这一关系。

如此，无论重放装置100的跟踪误差检测方式是DPD方式还是推挽方式时，测试引导区域12的跟踪误差信号的振幅都会大于信息信号区域11的跟踪误差信号的振幅，且由于跟踪误差信号的振幅与跟踪伺服的稳定性相关联，所以，测试引导区域12的跟踪伺服比信息信号区域11的跟踪伺服更稳定，由此，在求取重放设定值的最佳值时，能够更大地改变设定值。

因此，能够使误码率为更良好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。此外，能够防止因重放装置100的光拾取器与超分辨率介质1发生接触而导致超分辨率介质1受损并无法再次重放信息的问题，也能够防止因重放装置100的光拾取器与超分辨率介质1发生接触而导致光拾取器发生故障进而无法使用重放装置100的问题。

此外，由于测试引导区域12的轨间距比信息信号区域11的轨间距要宽，所以能够降低测试引导区域12的重放信号的串扰量。若串扰量较大，信号重放时的噪音成分便会增大，从而导致误码率发生恶化。也就是说，与测试引导区域12的轨间距相同于信息信号区域11的轨间距时的情况相比，通过上述的结构能够降低噪音成分，所以能够使测试引导区域12的误码率成为良好，并能够求取更可靠的重放设定值的最佳值。

通过使开口率NA、轨间距TPt、轨间距TPi满足上述关系，可以使与跟踪伺服的稳定性相关联的、测试引导区域12的跟踪误差信号的振幅大于信息信号区域11的跟踪误差信号的振幅。以下说明其理由。

重放装置100的重放激光的光束径一般大约表示成NA/λ。

在此，若轨间距小于光束径NA/λ，那么无论跟踪误差检测方式是DPD方式还是推挽方式，跟踪误差信号都会受相邻轨道的干扰。因此，轨间距越小，跟踪误差信号的振幅便越小。

另一方面，若轨间距大于光束径NA/λ，那么无论跟踪误差检测方式是DPD方式还是推挽方式，跟踪误差信号都不会受相邻轨道的干扰。所以，跟踪误差信号的振幅不受轨间距的左右，且大致为一定值。但是，轨间距越大记录密度就会越小。

如此，通过使测试引导区域12的轨间距TPt满足TPi＜TPt≤λ/NA，测试引导区域12的跟踪误差信号的振幅会大于信息信号区域11的跟踪误差信号的振幅，其中，跟踪误差信号的振幅与跟踪伺服的稳定性相关联。

另外，当将引入区域的轨间距设为TP1时，优选TP1＜TPt。为实现高密度化，也可以使信息信号区域11的轨间距TPi小于引入区域的轨间距TP1。此时，测试引导区域12的轨间距TPt可以大于引入区域的轨间距TP1，如此，跟踪伺服更稳定，所以在求取重放设定值的最佳值时，能够更大地改变设定值。因此，能够使误码率为更良好，并能够使散焦容限等的容限得以进一步扩大。

<实施方式2>

以下根据图6至图8来说明本发明的其他实施方式。

图6是表示本实施方式的光信息记录介质重放装置的概略结构的框图。

图6所示的重放装置(光信息记录介质重放装置)100是能够对上述超分辨率介质1以及一般介质进行重放的重放装置。

重放装置100具有主轴马达107、光学头(光拾取器、重放单元)108、控制部(控制单元)109、激光控制电路110A、信号处理电路110B、头放大器111、RF放大器112A、RF信号处理电路112B、伺服处理电路113、光拾取器用马达114、光束扩展控制电路115、光学头倾角控制电路116。

另外，光学头108由半导体激光器101、准直透镜102、光束修整棱镜103、光束分光器104、物镜105、光检测器106、调节器117、光束扩展器118、倾角调整机构119所构成。

在本实施方式中，半导体激光器101的波长λ为405nm，物镜105的开口率NA为0.85。但本发明的半导体激光器101的波长λ以及物镜105的开口率NA并不限定于上述值，其能够对应于重放装置100的设计而进行适宜的设定。另外，图6中的光信息记录介质200既可以是超分辨率介质1又可以是一般介质。

在重放装置100中，首先通过主轴马达107来使光信息记录介质200旋转，然后通过控制部109来控制光拾取器用马达114，以使光学头108移动。接着，通过激光控制电路110A，将要从半导体激光器101射出的重放激光的重放设定值设定成预定的重放设定值(一般介质的重放设定值)，并使半导体激光器101发射出重放激光。此时，激光控制电路110A所输出的信号被送至信号处理电路110B，以进行各种信号的处理。

从半导体激光器101发射出的上述重放激光通过准直透镜102被大致变换成平行光，然后该平行光通过光束修整棱镜103再被大致修整成圆形的光强度分布，其后透射过光束分光器104，并通过物镜105被聚光于光信息记录介质200。光信息记录介质200上的反射光被光束分光器104反射后导至光检测器106。

光检测器106基于被导至其自身的上述反射光的、偏光方向变化以及反射光强度变化等而输出电信号。该电信号被头放大器111所放大后被送至伺服处理电路113、光束扩展控制电路115、光学头倾角控制电路116。当输入了经头放大器111放大的电信号后，伺服处理电路113通过调节器117来对物镜105进行各种伺服控制；光束扩展控制电路115通过光束扩展器118来对光学头108进行光束径的调整处理；光学头倾角控制电路116通过倾角调整机构119来对物镜105进行倾角的调整处理。另外，经头放大器111放大的电信号还被送至控制部109。

图7表示了控制部109的结构。如图7所示，控制部109具备访问位置控制部131、信号处理部(识别信息取得单元)132、介质识别部(介质识别单元)133、重放条件调整部(重放条件调整单元)134。

访问位置控制部131对光拾取器用马达114进行控制，使光学头108对光信息记录介质200上的期望位置进行访问。

另外，关于记录有用以识别介质的介质识别信息的区域，若构成该区域的预坑列所具有的最短标记长度高于重放装置100所具有的分辨极限，那么访问位置控制部131优选根据介质识别部133所判断的、光信息记录介质200的识别结果来控制光拾取器用马达114。在本实施方式中，上述介质识别信息被记录于上述引入区域中。即，上述介质识别信息通过具有其最短标记长度高于重放装置100之分辨极限的预坑列来进行记录。

另外，关于引入区域，优选其除了记录有上述介质识别信息，还与专利文献2所揭示的超分辨率介质同样，预先记录有重放设定值的最佳推荐值。如此，在之后对测试引导区域12中记录的信息进行读取时，能够根据最佳重放设定值来读取测试引导区域12中所记录的信息。但上述推荐值也可省略。在本实施方式中，引入区域中进一步记录有上述推荐值。

信号处理部132对头放大器111发送来的含有介质识别信息的信号进行处理，并发送给介质识别部133。介质识别部133根据信号处理部132发来的上述信号，进行光信息记录介质200的识别。

重放条件调整部134根据介质识别部133所判断的、光信息记录介质200的识别结果，对重放设定值进行调整。在本实施方式中，重放条件调整部134具备：重放功率值调整部134A，向激光控制电路110A发出用以调整重放功率值的信号；伺服偏移值调整部134B，向伺服处理电路113发出用以调整伺服偏移值的信号；球面像差校正值调整部134C，向光束扩展控制电路115发出用以调整球面像差校正值的信号；倾角调整部134D，向光学头倾角控制电路116发出用以调整倾角的信号。

以下，基于图8来说明重放装置100的处理动作。图8表示了重放装置100的处理动作流程。

当光信息记录介质200被装设到重放装置100后，通过控制部109的访问位置控制部131来控制光拾取用马达114，然后，半导体激光器101以一般介质的重放设定值发出重放激光，该重放激光对光信息记录介质200的重放初始访问位置即、引入区域进行照射，其中，上述一般介质的重放设定值是预先设定的重放初始设定值(S1)。

然后，重放在引入区域中所记录的上述介质识别信息的信号(S2)。

上述介质识别信息的信号经由光检测器106、头放大器111，然后被控制部109的信号处理部132所处理，其后由介质识别部133进行光信息记录介质200的识别(S3)。

若介质识别部133的识别结果是一般介质(在S3中为“否”)，重放装置100便根据上述一般介质的重放条件值，对一般介质的信息信号区域进行访问(S6)。然后，介由光检测器106、头放大器111、RF放大器112A、RF信号处理电路112B来对信息信号区域中记录的内容进行重放(S7)。

另一方面，若介质识别部133的识别结果是超分辨率介质1(在S3中为“是”)，控制部109的访问位置控制部131便对光拾取器用马达114进行控制，另外，来自半导体激光器101的重放激光被设定成引入区域中所记录的上述重放设定值的最佳推荐值。

上述推荐值的设定方法并不限于上述方法。例如，当引入区域中未记录有上述推荐值时，可以在主轴马达107驱动旋转光信息记录介质200之前，通过用以识别重放设定值(特别是重放功率值)之信息的单元来在对光信息记录介质200进行重放之前设定出所要的重放设定值。关于此方法，例如可以在光信息记录介质200的一部分上、或在用以保护光信息记录介质200的卡盘的一部分上形成切口，然后重放装置100通过机械性地识别该切口来设定所要的重放设定值等等。

将半导体激光器101的重放设定值设定成上述推荐值，半导体激光器101的重放激光对光信息记录介质即、超分辨率介质1的测试引导区域12进行照射(S4)。然后，重放装置100对超分辨率介质1的测试引导区域12中的预坑32进行读取。读取预坑32后而得到的重放信号经由光检测器106、头放大器111、信号处理部132被送至控制部109的重放条件调整部134。

重放条件调整部134根据上述重放信号，将重放设定值调整成最适于超分辨率介质1的值(S5)。具体为，重放功率调整部134A根据上述重放信号，对激光控制电路110A进行控制，以控制半导体激光器101的激光强度，从而将重放功率值调整成最适于超分辨率介质1的值。伺服偏移值调整部134B根据上述重放信号，对伺服处理电路113进行控制，以控制调节器117，从而将伺服偏移值调成最适于超分辨率介质1的值。球面像差校正值调整部134C根据上述重放信号，对光束扩展控制电路115进行控制，以控制光束扩展器118，从而将球面像差校正值调整成最适于超分辨率介质1的值。倾角调整部134D根据上述重放信号，对光学头倾角控制电路116进行控制，以控制倾角调整机构119，从而将倾角调整成最适于超分辨率介质1的值。

关于通过测试引导区域12来求取最适于超分辨率介质1的重放设定值的方法，例如有，改变重放设定值使误码率成为最佳的方法；或改变重放设定值使各标记长度的重放信号的振幅都超过预先所定的阈值等的方法。

其后，重放装置100使用和最适于超分辨率介质1的重放设定值相对应的重放激光，对信息信号区域11进行访问(S6)。然后，通过光检测器106、头放大器111、RF放大器112A以及RF信号处理电路112B，对信息信号区域11的内容进行重放(S7)。

另外，若介质识别部133的识别结果是一般介质，且该一般介质中预先记录有重放设定值的最佳推荐值的情况下，重放装置100也可通过重放条件调整部134，将重放设定值调整成该推荐值，然后再对该一般介质的信息信号区域进行访问。

由此，对于因设置时及移动时的机械性错位、各重放装置特性的不均、各超分辨率介质特性的不均等而不是一定值的重放设定值而言，特别是对于重放功率值的最佳值，通过上述结构，该些最佳值能够根据每一光信息记录介质1，通过测试引导区域12来求出重放设定值，然后再对记录有内容的信息信号区域11进行重放。

因此，能够提供误码率成为良好，散焦容限等容限成为较广的光信息记录介质。

另外，在对信息信号区域11进行重放的过程中，当超分辨率介质1的特性(误码率等)因其机械性错位而发生变化时，也可以再次通过测试引导区域12来求取重放功率值等的最佳值，然后再对信息信号区域11进行重放。

由此，能够使得因机械性错位而在重放中恶化的超分辨率介质的特性再次变为良好，并能够再次扩大散焦容限等的容限范围。

另外，本发明的光信息记录介质重放装置的结构并不限定为本实施方式的结构。只要本发明的光信息记录介质重放装置是具有以下特征的光信息记录介质重放装置便可，即，在对超分辨率介质1进行重放时，通过测试引导区域12来求取重放设定值的最佳值，然后对信息信号区域11进行重放。

此外，光信息记录介质重放装置除了可以是重放专用或记录专用的装置，还可以是既能够进行重放又能够进行记录的装置，也可根据其使用用途，分为固定配置或便携式等的装置，对此并不作限定。

最后，重放装置100中的控制部109的各功能块可由硬件逻辑来构成，也可通过利用CPU以软件来实现。

即，重放装置100具有：执行用于实现各功能之控制程序命令的CPU(central processing unit：中央处理器)；存储上述程序的ROM(read onlymemory：只读存储器)；展开上述程序的RAM(random access memory：随机存取存储器)；存储上述程序及各种数据的存储器等存储装置(记录介质)。另外，向重放装置100提供记录介质，该记录介质可由计算机读取且记录有重放装置100中控制部109的控制程序的、程序代码(执行形式程序、中间代码程序、源程序)，所述控制程序是用于实现以上所述功能的软件，通过由计算机(或CPU、MPU)读出并执行记录介质中所记录的程序代码，也能够实现本发明的目的。

关于上述记录介质，例如可以是磁带、盒式带等的带类；也可以是包括软盘(注册商标)、硬盘等磁盘以及CD-ROM、MO、MD、DVD、CD-R等光盘的盘类；也可以是IC卡(包括存储卡)、光卡等的卡类；或是掩模型ROM、EPROM、EEPROM、闪存ROM等半导体存储器类。

另外，重放装置100也能够连接通信网络，上述程序代码也能够借助于通信网络来提供。关于上述通信网络，并没有特别的限制，例如，可以利用互联网(internet)、内联网(intranet)、外联网(extranet)、LAN、ISDN、VAN、CATV通信网、虚拟专用网络(virtual private network)、电话回线网络、移动通信网络、卫星通信网络等。另外，关于用以构成通信网络的传输介质，并没有特别的限制，例如，可以利用IEEE1394、USB、电力线、电缆电视回线、电话线、ADSL回线等的有线通信，也可以利用诸如IrDA或遥控器等的红外线、Bluetooth(注册商标)、802.11无线通信、HDR、便携式电话网络、卫星回线、地面数字广播网络(terrestrial digital net)等无线通信。另外，即使是通过电子传输而实现了上述程序代码的、载置于载波的计算机数字信号，也可以实现本发明。

另外，关于光信息记录介质，例如有CD-ROM(Compact Disk ReadOnly Memory)、CD-R、CD-RW、DVD-ROM(Digital Versatile Disk Read OnlyMemory)、DVD-RW(Digital Versatile Disk Rewritable)、BD、BD-ROM等光学读取式盘，或光磁性盘、相转换型盘等各种光盘，其在本发明中并不被限定记录方式或大小。

本发明并不限于上述各实施方式，可以根据权利要求所示的范围进行各种的变化，适当地组合不同实施方式记述的技术手段而得到的实施方式也包含于本发明的技术范围之内。

(工业上的可利用性)

本发明的光信息记录介质能够适用于例如以超分辨率重放来进行信息处理的光信息记录介质。