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一种单根一维纳米材料光致荧光角度分辨测量系统

摘要

本发明公开了一种单根一维纳米材料光致荧光角度分辨测量系统,属于纳米材料光学表征技术领域。本发明系统包括光源,光学器件一,光学器件二,和光分析仪器;来自光源的激发光经光学器件一后激发一维纳米材料发射荧光,荧光经过光学器件二后传递至光分析仪器;其特征在于,光学器件一和光学器件二其一为显微物镜,另一为会聚透镜,或两者均为显微物镜。在该系统中,光学器件二固定,纳米材料的c轴和光学器件二的光轴的夹角与纳米材料的c轴和光学器件一的光轴的夹角其一固定,另一可变。本发明可用于研究光激发对单根一维纳米材料光致荧光的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN101672783A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-03-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学;

    申请/专利号CN200910235520.X

  • 发明设计人 高旻;程睿;李文亮;

    申请日2009-09-29

  • 分类号G01N21/64(20060101);

  • 代理机构北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人俞达成

  • 地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号北京大学

  • 入库时间 2023-12-17 23:40:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-04-04

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/64 公开日:20100317 申请日:20090929

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-04-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20090929

    实质审查的生效

  • 2010-03-17

    公开

    公开

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