液晶面板测试模组及液晶面板失效模式分析方法

摘要

一种液晶面板测试模组及一种液晶面板失效模式分析方法，其中液晶面板测试模组包含：驱动电路、测试电路以及若干个开关。其中驱动电路包含：若干个信号输入线及若干个信号输出线，信号输出线包含第一信号输出线群组、第二信号输出线群组和第三信号输出线群组；测试电路包含第一测试信号线、第二测试信号线和第三测试信号线，分别与第一信号输出线群组、第二信号输出线群组和第三信号输出线群组电连接；以及若干个开关分别位于第一测试信号线、第二测试信号线和第三测试信号线与每一信号输出线之间。

说明书

技术领域

本发明是有关于一种液晶面板测试模组，特别是有关于一种液晶面板测试模组及一种液晶面板失效模式分析方法。

背景技术

液晶面板是现在显示科技的主流。液晶面板制造工艺中，在玻璃基板上完成像素阵列的制造后，须先对像素阵列进行测试。像素阵列的测试通过激光切割测试电路(Laser cut test circuit)或是栅极栅极薄膜晶体管测试电路(GG TFT test circuit)的结构来进行测试。

待像素阵列测试结束，液晶面板将运送至模组厂进行液晶面板模组的组装，液晶面板模组的组装须先将驱动晶片键合(bonding)于玻璃基板的接垫上，以驱动像素阵列来达到显示的功效。在完成驱动晶片的键合之后，液晶面板的显示需进行进一步的测试以确认液晶面板处于一良好的状态。

在此测试中，若发现液晶面板的显示出现异常时，会面临一个棘手的问题，那就是液晶面板显示的异常是起因于液晶面板像素阵列的不良？驱动晶片本身的不良？亦或是驱动晶片键合的不良？此时，必须导入一复杂的测试来确认导致液晶面板的显示出现异常的原因。对具有激光切割测试电路的液晶面板来说，由于测试电路已经被激光切割而与像素阵列断开，因此只能通过更换晶片进行检测，如此的检测方式将只能判断是否像素阵列因为键合过程受损而影响整体面板，却无法判断驱动晶片或是驱动晶片与像素阵列间的键合是否有问题。另一方面，对具有栅极栅极薄膜晶体管测试电路的液晶面板来说，虽然可以经由栅极栅极薄膜晶体管测试电路确定是像素阵列，亦或是驱动晶片及驱动晶片与像素阵列间的键合的问题，但仍须再更换晶片来确定究竟是驱动晶片及驱动晶片亦或是像素阵列间的键合的问题，较冗长的步骤为液晶面板测试的时间成本带来不小的负担。

因此，如何设计一个新的液晶面板测试模组及液晶面板失效模式分析方法，以快速而准确地在液晶面板产生异常时，找出确切的原因以除错，是业界亟待解决的问题。

发明内容

因此，本发明提供了一种液晶面板测试模组，其中液晶面板测试模组包含：驱动电路、测试电路以及若干个开关。其中驱动电路包含：若干个信号输入线及若干个信号输出线，信号输出线包含第一信号输出线群组、第二信号输出线群组和第三信号输出线群组；测试电路包含第一测试信号线、第二测试信号线和第三测试信号线，分别与第一信号输出线群组、第二信号输出线群组和第三信号输出线群组电连接；以及若干个开关分别位于第一测试信号线、第二测试信号线和第三测试信号线与每一信号输出线之间。

本发明的另一目的在于提供一种液晶面板失效模式分析方法，用于具有激光切割测试电路的液晶面板，液晶面板失效模式分析方法至少包含：提供驱动测试晶片，电连接于液晶显示面板之上，驱动测试晶片包含：驱动电路、测试电路以及若干个开关。其中驱动电路包含：若干个信号输入线以及若干个信号输出线；测试电路与信号输出线电连接；以及若干个开关分别位于测试电路与每一信号输出线之间；自信号输入线输入测试信号，当液晶显示面板有不良现象时，开启开关；自测试电路输入测试信号，当液晶显示面板无不良现象，则不良现象由驱动测试晶片所致，当液晶显示面板仍有不良现象，返工驱动测试晶片与液晶显示面板的电连接；以及再自测试电路输入测试信号，当液晶显示面板仍有不良现象，则不良现象由液晶显示面板的电路不良所致。

本发明的又一目的在于提供一种液晶面板失效模式分析方法，用于具有激光切割测试电路的液晶面板，液晶面板失效模式分析方法至少包含：提供驱动测试晶片，电连接于液晶显示面板之上，驱动测试晶片包含：驱动电路、测试电路以及若干个开关。其中驱动电路包含：若干个信号输入线以及若干个信号输出线；测试电路与信号输出线电连接；以及若干个开关分别位于测试电路与每一信号输出线之间；自信号输入线输入测试信号，当液晶显示面板有不良现象时，自测试电路输入测试信号以开启开关，当液晶显示面板无不良现象，则不良现象由驱动测试晶片所致，当液晶显示面板仍有不良现象，返工驱动测试晶片与液晶显示面板的电连接；以及再自测试电路输入测试信号，当液晶显示面板仍有不良现象，则不良现象由液晶显示面板的电路不良所致。

本发明的再一目的在于提供一种液晶面板失效模式分析方法，用于具有栅极栅极薄膜晶体管测试电路的液晶面板，液晶面板失效模式分析方法至少包含：提供驱动测试晶片，电连接于液晶显示面板之上，驱动测试晶片包含：驱动电路、测试电路以及若干个开关。其中驱动电路包含：若干个信号输入线以及若干个信号输出线；测试电路与信号输出线电连接；以及若干个开关分别位于测试电路与每一信号输出线之间；自信号输入线输入测试信号，当液晶显示面板有不良现象时，开启开关；以及自测试电路输入测试信号，当液晶显示面板无不良现象，则不良现象由驱动测试晶片所致，当液晶显示面板仍有不良现象，自栅极栅极薄膜晶体管测试电路输入测试信号，当液晶显示面板仍有不良现象，则不良现象由液晶显示面板的电路不良所致。

本发明的更进一步的目的在于提供一种液晶面板失效模式分析方法，用于具有栅极栅极薄膜晶体管测试电路的液晶面板，液晶面板失效模式分析方法至少包含：提供驱动测试晶片，电连接于液晶显示面板之上，驱动测试晶片包含：驱动电路、测试电路以及若干个开关。其中驱动电路包含：若干个信号输入线以及若干个信号输出线；测试电路与信号输出线电连接；以及若干个开关分别位于测试电路与每一信号输出线之间；自信号输入线输入测试信号，当液晶显示面板有不良现象时自测试电路输入测试信号以开启开关，当液晶显示面板无不良现象，则不良现象由驱动测试晶片所致；以及当液晶显示面板仍有不良现象，自栅极栅极薄膜晶体管测试电路输入测试信号，当液晶显示面板仍有不良现象，则不良现象由液晶显示面板的电路不良所致。

应用本发明的优点在于通过液晶面板测试模组的设计，可以迅速地对液晶面板的失效模式进行分析以进行除错，更可提供驱动电路对静电的保护效果，而轻易地达到上述目的。

为让本发明内容能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合附图作详细说明如下：

附图说明

图1为本发明一个实施例中液晶面板测试模组的示意图；

图2为本发明另一实施例中液晶面板测试模组的示意图；

图3为本发明的又一实施例中液晶面板失效模式分析方法的流程图；

图4为本发明的再一实施例中液晶面板失效模式分析方法的流程图；

图5为本发明的一实施例中液晶面板测试模组的示意图；

图6为本发明的另一实施例中液晶面板测试模组的示意图；

图7为本发明的又一实施例中液晶面板失效模式分析方法的流程图；以及

图8为本发明的再一实施例中液晶面板失效模式分析方法的流程图。

图中涉及的附图标记和组成部分如下所示：

1、1’：液晶面板测试模组    10：驱动电路

100：信号输入线             102：信号输出线

104：管脚                   12：测试电路

120：第一测试信号线         122：第二测试信号线

124：第三测试信号线         126：启动信号线

14：开关                    16：晶片

18：玻璃基板                5、5’：液晶面板测试模组

50：驱动电路                500：信号输入线

502：信号输出线             504：管脚

52：测试电路                520：第一测试信号线

522：第二测试信号线         524：第三测试信号线

54：开关                    56：晶片

58：玻璃基板

具体实施方式

以下结合附图，具体说明本发明的实施方式。

图1为本发明一个实施例中液晶面板测试模组的示意图。请参见图1，液晶面板测试模组1包含：驱动电路10、测试电路12以及若干个开关14。驱动电路10包含：若干个信号输入线100以及若干个信号输出线102。测试电路12包含第一测试信号线120、第二测试信号线122和第三测试信号线124。信号输出线102实质上包含第一信号输出线群组、第二信号输出线群组和第三信号输出线群组，于图1中属于第一信号输出线群组的信号输出线102以实线表示，属于第二信号输出线群组的信号输出线102以一线段及二点组成的虚线表示，而属于第三信号输出线群组的信号输出线102以虚线表示。

请继续参照图1，测试电路12的第一测试信号线120与第一信号输出线群组电连接，第二测试信号线122与第二信号输出线群组电连接，第三测试信号线124与第三信号输出线群组电连接。其中，信号输入线100接收显示资料，以通过驱动电路10处理后进一步经由信号输出线102输出至像素阵列(未图示)。而若干个开关14分别位于第一测试信号线120、第二测试信号线122和第三测试信号线124与第一信号输出线群组、第二信号输出线群组和第三信号输出线群组的每一信号输出线102之间。于本实施例中，开关14为薄膜晶体管。

测试电路12实质上更包含启动信号线126，连接每一薄膜晶体管的栅极。于本实施例中，驱动电路10、测试电路12和开关14均集成于一晶片16上，而像素阵列形成于玻璃基板(未图示)上。各信号输入线100、信号输出线102、启动信号线126、第一测试信号线120、第二测试信号线122和第三测试信号线124实质上各包含一管脚(bump)104，以通过管脚104与玻璃基板上的焊垫(未图示)电连接。

图2为本发明的另一实施例所示的液晶面板测试模组1’的示意图。如图2所示，于本实施例中，仅有驱动电路10集成于晶片16上，而测试电路12和开关14位于玻璃基板18上。

图3为本发明的又一实施例所示的液晶面板失效模式分析方法的流程图。本实施例的液晶面板失效模式分析方法用于具有如图1所示的液晶面板测试模组1或是图2所示的液晶面板测试模组1’的液晶面板。其中，本实施例的液晶面板更具有一激光切割测试电路(图1及图2中未图示)。

请参照图3，本实施例的液晶面板失效模式分析方法包含下列步骤：于步骤301，提供一驱动测试晶片，电连接于一液晶显示面板之上。其中驱动测试晶片实质上即为图1或图2所示的液晶面板测试模组1或1’。接着于步骤302，自信号输入线100输入测试信号，检测液晶显示面板是否有不良现象。当液晶显示面板未有不良现象时，则进行步骤303，液晶显示面板通过测试。而当液晶显示面板有不良现象时，原因通常有三个，第一为驱动测试晶片本身的问题造成液晶显示面板有不良现象，第二为驱动测试晶片与玻璃基板的键合有问题而造成液晶显示面板有不良现象，第三则为驱动测试晶片与玻璃基板的键合时对液晶显示面板的电路(即包含像素阵列的电路)造成损坏而使液晶显示面板有不良现象。因此，本实施例的液晶面板失效模式分析方法用以分析出造成不良现象的原因。

接着，进行步骤304，通过启动信号线126输入启动信号以开启开关14。接着于步骤305，自测试电路12输入测试信号，检测液晶显示面板是否有不良现象。须注意的是，第一测试信号线120、第二测试信号线122和第三测试信号线124于本实施例中分别输入红、绿及蓝色测试信号，以分别进入信号输出线中的第一信号输出线群组、第二信号输出线群组和第三信号输出线群组，再进一步输入于像素阵列以进行测试。

步骤305中的测试信号由于不是经由驱动测试晶片的驱动电路10而进入像素阵列中，因此当液晶显示面板无不良现象时，则可进入步骤306，直接判断不良现象由驱动测试晶片所致。而当液晶显示面板仍有不良现象，尚须厘清造成液晶显示面板显示不良现象的原因为驱动测试晶片与玻璃基板的键合之问题亦或是像素阵列有损坏而造成的问题。

为能厘清当液晶显示面板仍有不良现象时究竟为驱动测试晶片与玻璃基板的键合之问题所致，亦或是像素阵列之损坏所致，在步骤305之后，进入步骤307，返工驱动测试晶片与液晶显示面板的电连接。

在完成驱动晶片的返工之后，进行步骤308，再自测试电路输入测试信号。此时，驱动测试晶片与玻璃基板间的键合已经重新设置，因此当液晶显示面板未有不良现象时，则可进入步骤309，判断不良现象为驱动测试晶片与玻璃基板上焊垫电连接不佳所致。若当液晶显示面板仍有不良现象时，则进入步骤310，判断不良现象由液晶显示面板的电路不良所致。

上述本发明的实施例的优点在于通过液晶面板测试模组的设计，可以先由测试电路输入测试信号厘清是否为驱动测试晶片的问题，如否，则通过返工驱动测试晶片与液晶显示面板的电连接，再由测试电路输入测试信号厘清面板的异常为驱动测试晶片与玻璃基板的键合所致，亦或是像素阵列的损坏所致。因此，上述本发明的实施例的液晶面板测试模组可迅速地对液晶面板的失效模式进行分析，以找出确切的失效原因以进行除错。

图4为本发明的再一实施例所示的液晶面板失效模式分析方法的流程图。本实施例的液晶面板失效模式分析方法用于具有如图1所示的液晶面板测试模组1或是图2所示的液晶面板测试模组1’的液晶面板。其中，本实施例的液晶面板更具有一栅极栅极薄膜晶体管测试电路(图1及图2中未图示)。

请参照图4，本实施例的液晶面板失效模式分析方法包含下列步骤：于步骤401，提供一驱动测试晶片，电连接于一液晶显示面板之上。其中驱动测试晶片实质上即为图1或图2所示的液晶面板测试模组1或1’。接着于步骤402，自信号输入线100输入测试信号，检测液晶显示面板是否有不良现象。当液晶显示面板未有不良现象时，进行步骤403，通过测试。而当液晶显示面板有不良现象时，原因通常有三个，第一为驱动测试晶片本身的问题造成液晶显示面板有不良现象，第二为驱动测试晶片与玻璃基板的键合有问题而造成液晶显示面板有不良现象，第三则为驱动测试晶片与玻璃基板的键合时对液晶显示面板的电路，即包含像素阵列的电路，造成损坏而使液晶显示面板有不良现象。因此，本实施例的液晶面板失效模式分析方法可分析出造成不良现象的原因。

接着，进行步骤404，通过启动信号线126输入启动信号以开启开关14。接着于步骤405，自测试电路12输入测试信号，检测液晶显示面板是否有不良现象。此时的测试信号由于不是经由驱动测试晶片的信号输入线100及信号输出线102而进入像素阵列中，因此当液晶显示面板无不良现象时，进行步骤406，直接判断不良现象由驱动测试晶片所致。而当液晶显示面板仍有不良现象，尚须厘清造成液晶显示面板显示不良现象的原因为驱动测试晶片与玻璃基板的键合的问题亦或是像素阵列有损坏而造成的问题。

本实施例中的液晶面板具有栅极栅极薄膜晶体管测试电路。与激光切割测试电路不同的是，激光切割测试电路在像素阵列测试结束后即以激光切割技术切割而无法再使用，而栅极栅极薄膜晶体管测试电路在像素阵列测试结束后，则可以因应需求再次开启栅极栅极薄膜晶体管测试电路使用。因此，于本实施例中，并不须如前一实施例须对驱动测试晶片与液晶显示面板的电连接进行返工，而可直接进行步骤407，自栅极栅极薄膜晶体管测试电路输入测试信号。如此的方式，可不经由驱动测试晶片输入测试信号。因此，当液晶显示面板未有不良现象，则可进行步骤408，判断不良现象为驱动测试晶片与玻璃基板上焊垫电连接不佳所致。若液晶显示面板仍有不良现象，则进行步骤409，判断不良现象由液晶显示面板的电路不良所致。

上述本发明的实施例的优点在于通过液晶面板测试模组的设计，可以先由测试电路输入测试信号厘清是否为驱动测试晶片的问题，如否，于本实施例中，更可直接通过栅极栅极薄膜晶体管测试电路输入测试信号厘清面板的异常为驱动测试晶片与玻璃基板的键合所致，亦或是像素阵列的损坏所致，而不须返工驱动测试晶片。因此，上述本发明的实施例中液晶面板测试模组可迅速地对液晶面板的失效模式进行分析，以找出确切的失效原因以进行除错。

图5为本发明的一实施例所示的液晶面板测试模组5的示意图。请参照图5，液晶面板测试模组5包含：驱动电路50、测试电路52以及若干个开关54。驱动电路50包含：若干个信号输入线500以及若干个信号输出线502。测试电路52包含第一测试信号线520、第二测试信号线522和第三测试信号线524。信号输出线502实质上包含第一信号输出线群组、第二信号输出线群组和第三信号输出线群组，于图5中属于第一信号输出线群组的信号输出线502以实线表示，属于第二信号输出线群组的信号输出线502以一线段及二点组成的虚线表示，而属于第三信号输出线群组的信号输出线502以虚线表示。

请继续参照图5，测试电路52的第一测试信号线520与第一信号输出线群组电连接，第二测试信号线522与第二信号输出线群组电连接，第三测试信号线524与第三信号输出线群组电连接。其中，信号输入线500接收显示资料，以通过驱动电路50处理后进一步经由信号输出线502输出至像素阵列(未图示)。而开关54分别位于第一测试信号线520、第二测试信号线522和第三测试信号线524与每一信号输出线502之间。

于本实施例中，开关54为二极管，因此不须如第二实施例的液晶面板测试模组中，必须以启动信号来开启开关54，而直接输入测试信号即可使二极管启动。于本实施例中，驱动电路50、测试电路52和开关54均集成于一晶片56上，而像素阵列形成于玻璃基板(未图示)上。各信号输入线500、信号输出线502、启动信号线526、第一测试信号线520、第二测试信号线522和第三测试信号线524实质上各包含一管脚504，以通过管脚504与玻璃基板上的焊垫(未图示)电连接。

图6为本发明的另一实施例所示的液晶面板测试模组5’的示意图。如图6所示，于本实施例中，仅有驱动电路50集成于56晶片上，而测试电路52和开关54位于玻璃基板58上。

图7为本发明的又一实施例所示的液晶面板失效模式分析方法的流程图。本实施例的液晶面板失效模式分析方法用于具有如图5所示的液晶面板测试模组5或是图6所示的液晶面板测试模组5’的液晶面板。其中，本实施例的液晶面板更具有一激光切割测试电路(图5和图6中未图示)。

请参照图7，本实施例的液晶面板失效模式分析方法包含下列步骤：于步骤701，提供一驱动测试晶片，电连接于一液晶显示面板之上。其中驱动测试晶片实质上即为图5或图6所示的液晶面板测试模组5或5’。接着于步骤702，自信号输入线500输入测试信号，检测液晶显示面板是否有不良现象。当液晶显示面板未有不良现象时，进入步骤703，通过测试。而当液晶显示面板有不良现象时，原因通常有三个，第一为驱动测试晶片本身的问题造成液晶显示面板有不良现象，第二为驱动测试晶片与玻璃基板的键合有问题而造成液晶显示面板有不良现象，第三则为驱动测试晶片与玻璃基板的键合时对液晶显示面板的电路，即包含像素阵列的电路，造成损坏而使液晶显示面板有不良现象。因此，本实施例的液晶面板失效模式分析方法可分析出造成不良现象的原因。

接着，进入步骤704，自测试电路52输入测试信号以开启开关54，检测液晶显示面板是否有不良现象。由于本实施例的开关54为二极管，因此不须如第三及第四实施例的液晶面板失效模式分析方法中，必须以启动信号来开启开关54，而直接输入测试信号即可使二极管启动。须注意的是，第一测试信号线520、第二测试信号线522和第三测试信号线524于本实施例中分别输入红、绿及蓝色测试信号，以分别进入信号输出线中的第一信号输出线群组、第二信号输出线群组和第三信号输出线群组，再进一步输入于像素阵列以进行测试。

此时的测试信号由于不是经由驱动测试晶片的信号输入线500及信号输出线502而进入像素阵列中，因此当液晶显示面板无不良现象时，进入步骤705，直接判断不良现象由驱动测试晶片所致。而当液晶显示面板仍有不良现象，尚须厘清造成液晶显示面板显示不良现象的原因为驱动测试晶片与玻璃基板的键合的问题亦或是像素阵列有损坏而造成的问题。

为能厘清当液晶显示面板仍有不良现象时究竟为驱动测试晶片与玻璃基板的键合之问题所致，亦或是像素阵列的损坏所致，因此在步骤705之后，进入步骤706，返工驱动测试晶片与液晶显示面板的电连接。

在完成驱动晶片的返工之后，进入步骤707，再自测试电路输入测试信号。此时，驱动测试晶片与玻璃基板间的键合已经重新设置，因此当液晶显示面板未有不良现象时，则可进入步骤708，判断不良现象为驱动测试晶片与玻璃基板上焊垫电连接不佳所致。若液晶显示面板仍有不良现象时，则进入步骤709，判断不良现象由液晶显示面板的电路不良所致。

上述本发明的实施例之优点在于通过液晶面板测试模组的设计，可以先由测试电路输入测试信号厘清是否为驱动测试晶片的问题，如否，则通过返工驱动测试晶片与液晶显示面板的电连接，再由测试电路输入测试信号厘清面板的异常为驱动测试晶片与玻璃基板的键合所致，亦或是像素阵列的损坏所致。因此，上述本发明的实施例的液晶面板测试模组可迅速地对液晶面板的失效模式进行分析，以找出确切的失效原因以进行除错。

图8为本发明的再一实施例所示的液晶面板失效模式分析方法的流程图。本实施例的液晶面板失效模式分析方法用于具有如图5所示的液晶面板测试模组5或是图6所示的液晶面板测试模组5’的液晶面板。其中，本实施例的液晶面板更具有一栅极栅极薄膜晶体管测试电路(图5及图6中未图示)。

请参照图8，本实施例的液晶面板失效模式分析方法包含下列步骤：于步骤801，提供一驱动测试晶片，电连接于一液晶显示面板之上。其中驱动测试晶片实质上即为图5或图6所示的液晶面板测试模组5或5’。接着于步骤802，自信号输入线500输入测试信号，检测液晶显示面板是否有不良现象。当液晶显示面板未有不良现象时，进入步骤803，通过测试。而当液晶显示面板有不良现象时，原因通常有三个，第一为驱动测试晶片本身的问题造成液晶显示面板有不良现象，第二为驱动测试晶片与玻璃基板的键合有问题而造成液晶显示面板有不良现象，第三则为驱动测试晶片与玻璃基板的键合时对液晶显示面板之电路，即包含像素阵列之电路，造成损坏而使液晶显示面板有不良现象。因此，本实施例的液晶面板失效模式分析方法可分析出造成不良现象的原因。

接着，进入步骤804，自测试电路52输入测试信号以开启开关54，检测液晶显示面板是否有不良现象。由于本实施例的开关54为二极管，因此不须如第三及第四实施例的液晶面板失效模式分析方法中，必须以启动信号来开启开关54，而直接输入测试信号即可。此时的测试信号由于不是经由驱动测试晶片之信号输入线500及信号输出线502而进入像素阵列中，因此当液晶显示面板无不良现象时，进入步骤805，直接判断不良现象由驱动测试晶片所致。而当液晶显示面板仍有不良现象，尚须厘清造成液晶显示面板显示不良现象的原因为驱动测试晶片与玻璃基板的键合的问题亦或是像素阵列有损坏而造成的问题。

本实施例中的液晶面板具有栅极栅极薄膜晶体管测试电路。与激光切割测试电路不同的是，激光切割测试电路在像素阵列测试结束后即以激光切割技术切割而无法再使用，而栅极栅极薄膜晶体管测试电路在像素阵列测试结束后，则可以因应需求再次开启栅极栅极薄膜晶体管测试电路使用。因此，于本实施例中，并不须如前一实施例须对驱动测试晶片与液晶显示面板的电连接进行返工，而可直接进入步骤806，自栅极栅极薄膜晶体管测试电路输入测试信号。如此的方式，将可不经由驱动测试晶片，但仍经由驱动测试晶片与玻璃基板间的键合处输入测试信号。因此，当液晶显示面板未有不良现象，则可进入步骤807，判断不良现象为驱动测试晶片与玻璃基板上焊垫电连接不佳所致。若液晶显示面板仍有不良现象，则进入步骤808，判断不良现象由液晶显示面板的电路不良所致。

上述本发明的实施例的优点在于通过液晶面板测试模组的设计，可以先由测试电路输入测试信号厘清是否为驱动测试晶片的问题，如否，于本实施例中，更可直接通过栅极栅极薄膜晶体管测试电路输入测试信号厘清面板的异常为驱动测试晶片与玻璃基板的键合所致，亦或是像素阵列的损坏所致，而不须返工驱动测试晶片。因此，上述本发明的实施例的液晶面板测试模组可迅速地对液晶面板的失效模式进行分析，以找出确切的失效原因以进行除错。

应用本发明的优点除了通过液晶面板测试模组的设计，可以迅速地对液晶面板的失效模式进行分析以找出确切的失效原因以进行除错外，如图1、图2、图5及图6所示的液晶面板测试模组，更可提供驱动电路对静电的保护效果。通过液晶面板测试模组中的测试电路的阻抗设计，将可使静电产生时，优先导往测试电路的方向，而不会直接对驱动电路造成冲击。如此将静电分流的效果，将可使驱动电路受到保护，而不易因静电的影响造成损坏。

虽然本发明已用较佳实施例揭露如上，然其并非用以限定本发明，本发明所属技术领域中的技术人员，在不脱离本发明之精神和范围内，当可作各种变动与润饰，因此本发明之保护范围当以权利要求为准。