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液晶面板测试模组及液晶面板失效模式分析方法

摘要

一种液晶面板测试模组及一种液晶面板失效模式分析方法,其中液晶面板测试模组包含:驱动电路、测试电路以及若干个开关。其中驱动电路包含:若干个信号输入线及若干个信号输出线,信号输出线包含第一信号输出线群组、第二信号输出线群组和第三信号输出线群组;测试电路包含第一测试信号线、第二测试信号线和第三测试信号线,分别与第一信号输出线群组、第二信号输出线群组和第三信号输出线群组电连接;以及若干个开关分别位于第一测试信号线、第二测试信号线和第三测试信号线与每一信号输出线之间。

著录项

  • 公开/公告号CN101609635B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200910055341.8

  • 发明设计人 王孝林;李春;

    申请日2009-07-24

  • 分类号

  • 代理机构上海翼胜专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人翟羽

  • 地址 215021 江苏省苏州市苏州工业园区苏虹中路398号

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-06-15

    授权

    授权

  • 2010-02-17

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-12-23

    公开

    公开

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