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透镜测量装置、透镜测量方法及透镜制造方法

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本发明公开了一种透镜测量装置、透镜测量方法及透镜制造方法。透镜测量装置(1)包括：在以不改变透镜(7)的状态的方式支撑该透镜(7)的情况下使该透镜(7)在XY平面内移动的工作台(3)，对通过工作台(3)移动的透镜(7)的一个透镜面(71)上的点在Z轴方向上的位置进行测量的第一位置测量仪(4)，对通过工作台(3)移动的透镜(7)的另一个透镜面(72)上的点在Z轴方向上的位置进行测量的第二位置测量仪(5)，以及根据利用工作台(3)使透镜(7)产生移动的移动量、以及第一及第二位置测量仪(4、5)的测量结果求出透镜(7)的形状的控制装置(10)。因此，能够以高精度且高效的方式测量透镜的形状。

著录项

公开/公告号CN101545750A

专利类型发明专利
公开/公告日2009-09-30

原文格式PDF
申请/专利权人松下电器产业株式会社;
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申请/专利号CN200910130185.7
发明设计人田中慎治;小西章雄;
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申请日2009-03-24
分类号G01B5/20;G01B5/06;C03B11/08;G02B3/00;
代理机构上海市华诚律师事务所;
代理人杨暄
地址日本国大阪府门真市大字门真1006番地
入库时间 2023-12-17 22:40:15

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2015-02-11

发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B5/20 申请公布日:20090930 申请日:20090324

发明专利申请公布后的驳回
2011-04-13

实质审查的生效 IPC(主分类):G01B5/20 申请日:20090324

实质审查的生效
2009-09-30

公开

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