首页> 中国专利> 基于反卷积的篡改图像盲检测方法

基于反卷积的篡改图像盲检测方法

摘要

一种基于反卷积的篡改图像盲检测方法,属于图像信息安全领域。本发明利用反卷积和维纳滤波技术实现降晰篡改图像的盲检测,首先人为初步确定待检测图像的篡改区域位置,提取剩余未篡改区域的多个规则子图像,利用多个子图像构建一个近似满足完全卷积关系的数据块,采用交替迭代盲反卷积方法从该数据块中估计出未篡改区域的降晰函数,最后,利用估计的降晰函数对整幅图像做维纳滤波,并利用滤波结果辨别待检测图像是否经过篡改和具体的篡改区域。本方法简单、有效,在图像信息安全领域具有一定的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN101452568A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-06-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN200810203998.X

  • 发明设计人 王睿;方勇;

    申请日2008-12-04

  • 分类号G06T1/00;

  • 代理机构上海上大专利事务所(普通合伙);

  • 代理人何文欣

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2023-12-17 22:06:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-07-20

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06T1/00 公开日:20090610 申请日:20081204

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2009-08-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-06-10

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号