SLD光源内部温度监测的方法及装置

摘要

本发明具体实施方式提供了一种SLD光源内部温度监测的方法及装置。首先获取SLD光源内部热敏电阻的阻值；然后根据所获取的阻值，以及所述阻值和温度的对应关系曲线，就可以获得SLD光源的内部温度。这样就能够实现对SLD光源内部温度的监测，及时了解SLD光源内部管芯附近的温度状态，并进行更好的监控，有效防止了光源的意外损害，进而提高了SLD光源的使用性能。

说明书

技术领域

本发明涉及SLD光源技术领域，尤其涉及一种SLD光源内部温度监测方法 及装置。

背景技术

目前，光纤陀螺已成为惯性技术领域的主流陀螺，并在多种场合得到了成 功的应用。而光纤陀螺中比较关键的器件之一就是超辐射发光二极管(SLD) 光源，该SLD光源是与半导体激光光源类似的，介于激光二极管(LD)和发光 二极管(LED)之间的半导体光源。由于光纤陀螺目前大量应用于军事领域， 因此对其质量和可靠性的要求是比较高的，这样在工程化生产过程中，就对其 关键器件SLD光源的质量有更高的要求。

一般对SLD光源是采用环境应力筛选的技术来进行检验，在筛选过程中， 通过向产品施加合理的环境应力，将其内部的潜在缺陷加速变成故障，并通过 检验发现和排除该故障。由于SLD光源的管芯对温度很敏感，其输出光功率大 小及稳定性等性能受温度的影响也极大，这样在SLD光源老化筛选中，如果不 能对SLD光源的内部温度进行实时的监测，就有可能会造成SLD光源由于内部 局部温度过热而意外损害，使得SLD光源的性能下降，影响了正常的使用。

发明内容

本发明实施方式所要解决的技术问题在于提供一种SLD光源内部温度监 测的方法及装置，能够对SLD光源的内部温度进行监测，了解SLD光源内部管 芯附近的温度状态，从而更好的实施监控，防止光源的意外损害，提高SLD光 源的使用性能。

本发明具体实施方式是通过以下技术方案实现的：

一种SLD光源内部温度监测的方法，包括：

获取SLD光源内部热敏电阻的阻值；

根据所获取的阻值，以及所述阻值和温度的对应关系曲线，获得SLD光源 的内部温度。

所述获取SLD光源内部热敏电阻的阻值，具体包括：

若所述热敏电阻没有用于SLD光源的温控电路中，则通过外接测量电路利 用分压法对所述热敏电阻的阻值进行测量；

若所述热敏电阻用于SLD光源的温控电路中，则直接在温控电路中利用分 压法对所述热敏电阻的两端电压进行测量，并根据所述两端电压得到所述热敏 电阻的阻值。

所述根据所获取的阻值，以及所述阻值和温度的对应关系曲线，获得SLD 光源的内部温度，具体包括：

根据阻值和温度的对应关系曲线，分析得出SLD光源内部温度和所述热敏 电阻阻值的关系表达式；

将所获取的阻值带入所得到的关系表达式，获得所述SLD光源的内部温 度。

所述将所获取的阻值带入所得到的关系表达式，获得所述SLD光源的内部 温度，具体包括：

通过编程将所得到的关系表达式输入到终端处理设备中；

实时采集所述热敏电阻的阻值，并将实时采集到的阻值输入到所述终端处 理设备中；

利用所述终端处理设备实时计算获得所述SLD光源的内部温度。

所述阻值和温度的对应关系曲线是根据所述SLD光源的内部性能而设定 的。

所述终端处理设备包括：计算机设备或单片机设备。

本发明具体实施方式还提供了一种SLD光源内部温度监测的装置，所述装 置包括：

阻值获取单元，用于获取SLD光源内部热敏电阻的阻值；

内部温度监测单元，用于根据所获取的阻值，以及所述阻值和温度的对应 关系曲线，获得SLD光源的内部温度。

所述内部温度监测单元包括：终端处理设备；

所述终端处理设备用于根据实时获取到的阻值，以及所述内部温度与所述 热敏电阻阻值的关系表达式，实时计算获得所述SLD光源的内部温度。

另外，所述装置设置成单独的功能实体，和所述SLD光源保持电连接关系

由上述所提供的技术方案可以看出，首先获取SLD光源内部热敏电阻的阻 值；然后根据所获取的阻值，以及所述阻值和温度的对应关系曲线，就可以获 得SLD光源的内部温度。这样就能够对SLD光源的内部温度进行监测，了解SLD 光源内部管芯附近的温度状态，从而更好的实施监控，防止光源的意外损害， 提高了SLD光源的使用性能。

附图说明

图1为本发明具体实施方式所提供方法的流程示意图；

图2为热敏电阻未用于温控电路时的测量原理示意图；

图3为热敏电阻用于温控电路中时的测量原理示意图；

图4为本发明所举具体实施例中SLD光源内部热敏电阻的R-T曲线；

图5为本发明具体实施方式所提供装置的结构示意图。

具体实施方式

本发明实施方式提供了一种SLD光源内部温度监测的方法及装置。通过测 量SLD光源内部热敏电阻的阻值，然后再根据阻值-温度的关系曲线就可以获得 SLD光源的内部温度，这样就实现了对SLD光源内部温度的监测，从而了解了 SLD光源内部管芯附近的温度状态，并更好的实施监控，防止了光源的意外损 害，进而提高了SLD光源的使用性能。

同时在SLD光源未加温控电流的工作情况下，通过监测其内部温度，还可 以得到SLD光源工作时内部温度与环境温度之间的温度差，这样就对分析SLD 光源内部结构的热特性有极大的作用。

为更好的描述本发明实施方式，现结合附图对本发明的具体实施方式进行 说明，如图1所示为本发明实施方式所提供方法的流程示意图，所述方法包括：

步骤11：获取SLD光源内部热敏电阻的阻值。

具体来说，可以通过特定的功能模块监测SLD光源内部热敏电阻，测量该 热敏电阻的阻值。这里根据热敏电阻是否用于温控电路，有不同的测量方法， 若所述热敏电阻没有用于SLD光源的温控电路中，则通过外接测量电路利用分 压法对所述热敏电阻的阻值进行测量；若所述热敏电阻用于SLD光源的温控电 路中，则直接在温控电路中利用分压法对所述热敏电阻的两端电压进行测量， 并根据所述两端电压得到所述热敏电阻的阻值。

举例来说，当SLD光源中热敏电阻未用于温控电路时，SLD中的热敏电阻 可单独采用外接电路进行测量，测量方案如下：热敏电阻阻值采用分压法进行 测量，如图2所示为热敏电阻未用于温控电路时的测量原理示意图，图中：对 SLD光源内部的热敏电阻增加了一个外接电路，同时考虑到热敏电阻长时间通 电后由于自身发热会造成自身阻值的变化，因此在本实施例中还采用了多路依 次选通的测量方式来减少单只热敏电阻连续通电的时间，这样就减少了自身发 热所造成的误差影响。

当SLD光源中热敏电阻用于温控电路中时，为防止对温控电路效果造成影 响，因此直接结合温控电路进行测量。如图3所示为热敏电阻用于温控电路中 时的测量原理示意图，图中：热敏电阻Rt用于温控桥路中，同样利用分压法， 对U2端的电压值进行测量，然后在得到U2端的电压值后就可以得出热敏电阻 Rt的阻值了。

在经过以上步骤的操作，获得SLD光源内部热敏电阻的阻值之后，就可以 再进行以下步骤的操作了。

步骤12：根据所获取的阻值，以及所述阻值和温度的对应关系曲线，获得 SLD光源的内部温度。

具体来说，在获取到SLD光源内部热敏电阻的阻值之后，就可以根据所述 阻值和温度的对应关系曲线，获得SLD光源的内部温度。这里所述阻值和温度 的对应关系曲线是根据所述SLD光源的内部性能而设定的。

举例来说，如图4所示为SLD光源内部热敏电阻的R-T曲线，由于SLD光源 内部热敏电阻随温度变化其电阻阻值发生变化，其阻值-温度关系曲线(R-T曲 线)在20℃左右内是线性关系，但在较大温度范围内R-T曲线为非线性。图4 为所设定的SLD内部热敏电阻在20℃～120℃范围内的R-T曲线；根据该曲线， 对其进行拟合分析，就可以得到其R-T曲线的关系表达式：

r＝F(t)

然后再进一步获得温度T的表达式：

t＝F^-1(r)

再将所获取的阻值带入所得到的关系表达式，就可以获得所述SLD光源的 内部温度。

另外，在以上的处理过程中，还可以利用终端处理设备来对SLD光源的内 部温度进行实时监控，具体来说，可以通过编程将所得到的关系表达式输入到 终端处理设备中；然后再实时采集所述热敏电阻的阻值，并将实时采集到的阻 值输入到所述终端处理设备中；再利用所述终端处理设备实时计算获得所述 SLD光源的内部温度，实现对SLD光源的内部温度的实时监测。以上所述的终 端处理设备可以是计算机设备，也可以是单片机设备等具有计算功能的设备。

通过以上技术方案的实施，就可以实现对SLD光源内部温度的监测，从而 及时了解SLD光源内部管芯附近的温度状态，更好的实施监控，有效防止了光 源的意外损害，进而提高了SLD光源的使用性能。

本发明具体实施例还提供了一种SLD光源内部温度监测的装置，如图5所 示为所提供装置的结构示意图，所述装置包括阻值获取单元和内部温度监测单 元，其中所述的阻值获取单元用于获取SLD光源内部热敏电阻的阻值，具体的 获取方式如上方法实施例中所述。

所述的内部温度监测单元用于根据所获取的阻值，以及所述阻值和温度的 对应关系曲线，获得SLD光源的内部温度，具体获得内部温度的方式如上方法 实施例中所述。

另外，所述内部温度监测单元还可以包括终端处理设备；所述终端处理设 备用于根据实时获取到的阻值，以及所述内部温度与所述热敏电阻阻值的关系 表达式，实时计算获得所述SLD光源的内部温度。

以上所述装置可以设置成单独的功能实体，和所述SLD光源保持电连接关 系；也可以集成设置于SLD光源的老化筛选系统中。

综上所述，本发明具体实施方式可以实现对SLD光源内部温度的监测，及 时了解SLD光源内部管芯附近的温度状态，并进行更好的监控，有效防止了光 源的意外损害，进而提高了SLD光源的使用性能。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局 限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明实施例揭露的技术范围内， 可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明 的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。