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衍射微透镜列阵与紫外焦平面列阵单片集成技术

摘要

衍射微透镜列阵与紫外焦平面列阵单片集成技术,是在紫外焦平面列阵制造完成后,在同一芯片的背面进行衍射微透镜列阵的制作,采用双面对准技术;组合多层镀膜与剥离的微细加工工艺制备衍射微透镜列阵。双面对准技术是指双面同时曝光;或单面曝光、反面用红外对准;或单面曝光、反面用分离视场对准的光刻技术;组合多层镀膜与剥离的微细加工工艺步骤是:直接在背照式紫外焦平面芯片的光入射面制备光刻掩模图形;在光刻掩模图形的表面淀积膜层;再将芯片浸入去胶剂中,通过摇晃或超声震动,将光刻胶上的膜层和光刻胶去除干净;重复上述步骤,可获得多台阶的表面浮雕结构。提高填充因子,可大大提高背照式紫外焦平面列阵和探测器列阵的光电性能。

著录项

  • 公开/公告号CN101304003A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-11-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN200710040514.X

  • 发明设计人 李毅;蒋群杰;胡双双;武斌;

    申请日2007-05-10

  • 分类号H01L21/82;H01L27/144;G02B3/00;G03F7/00;

  • 代理机构上海光华专利事务所;

  • 代理人宁芝华

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2023-12-17 21:06:40

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-07-02

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/82 授权公告日:20110504 终止日期:20130510 申请日:20070510

    专利权的终止

  • 2011-05-04

    授权

    授权

  • 2009-01-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-11-12

    公开

    公开

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