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应用不同的呈现角度评估器件的表面结构

摘要

本申请涉及一种光学地检测器件(110)的表面结构(111)的方法。该方法具有以下步骤:(a)在器件(110)的方向上发射照射光线(102);(b)通过在器件(110)和照射光线(102)之间的相对移动来扫描器件(110),其中,以第一角度来照射器件(110),并且其中,测量光线(107)被接收,该测量光线由器件(110)至少部分地回散射到光线探测器(106)上;以及,(c)通过在器件(110)和照射光线(102)之间的再一次的相对移动来再一次扫描器件(110),其中,以与第一角度不同的第二角度来照射器件(110)并且测量光线(107)被再一次接收,该测量光线由器件(110)至少部分地回散射到光线探测器(106)上。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-02-06

    专利权的视为放弃 IPC(主分类):G01B11/25 放弃生效日:20081217 申请日:20080610

    专利权的视为放弃

  • 2010-07-21

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/25 申请日:20080610

    实质审查的生效

  • 2009-09-02

    专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移) 变更前: 变更后: 登记生效日:20090731 申请日:20080610

    专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)

  • 2008-12-17

    公开

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