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低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置及方法

摘要

一种低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的装置及方法,属于分析检测技术领域,包括以下步骤:(1)选取汞的检测波长与背景校正波长;(2)绘制汞标准工作曲线;(3)测定待测溶液的汞含量;低温等离子体原子发射光谱测定微量汞的方法所采用的装置,包括蒸气发生进样系统、低温等离子体发生室、高频高压电源和光谱仪。本发明的有益效果是:介质阻挡放电的低温等离子体激发光源,无高温环境存在,大大降低了能耗,并使其供能系统简单,造价低廉且日常运行消耗很低。

著录项

  • 公开/公告号CN101281135A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东北大学;

    申请/专利号CN200810011420.4

  • 发明设计人 王建华;于永亮;杜卓;陈明丽;

    申请日2008-05-16

  • 分类号G01N21/73;

  • 代理机构沈阳东大专利代理有限公司;

  • 代理人朱光林

  • 地址 110004 辽宁省沈阳市和平区文化路3号巷11号

  • 入库时间 2023-12-17 20:53:53

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-07-18

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/73 公开日:20081008 申请日:20080516

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2008-12-03

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-10-08

    公开

    公开

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