测试序列优化方法以及设计工具

摘要

公开了一种用于定义测试序列以测试包括集成电路的多个电子设备的方法。定义了设备的参考组(110)，之后使在所述组中的设备经受考虑之下的所有可用测试(120)。收集针对每个测试的测试结果，从中提取针对设备组的测试的故障覆盖度量(130)。接下来，计算每个测试的测试益处(140)，该测试益处是所述测试的故障覆盖度量和测试持续时间之间的比。通过基于测试益处将测试反复添加至测试序列来构建所述测试序列(160)，直到所述测试序列的整个故障覆盖达到预定阈值(170)。因此，获得了在测试成本方面进行了优化的测试序列。