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检测导电体在孔中的上升水平的方法的印刷线路板单元

摘要

本发明提供了一种用于检测导电体在孔中的上升水平的方法的印刷线路板单元。通孔穿透基板。所述通孔限定由绝缘壁表面包围的空间。在所述通孔中容纳电子元件的引线端子。导电体位于所述通孔中,以延伸到所述基板的表面处的暴露部分。辅助导电体暴露在所述通孔的所述空间中,以连接到所述导电体。所述辅助导电体延伸到所述基板的表面处的暴露部分。所述引线端子与所述通孔中的导电体相接触。检测所述引线端子与所述辅助导电体之间的电导,以检测所述导电体的上升水平。当检测到这种电导时,推定所述导电体达到所述辅助导电体的水平。

著录项

  • 公开/公告号CN101222822A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-07-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通株式会社;

    申请/专利号CN200710300456.X

  • 发明设计人 末广光男;

    申请日2007-12-27

  • 分类号H05K3/34;H05K13/00;G01R31/00;

  • 代理机构北京三友知识产权代理有限公司;

  • 代理人李辉

  • 地址 日本神奈川县川崎市

  • 入库时间 2023-12-17 20:23:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-02-26

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H05K3/34 授权公告日:20091202 终止日期:20121227 申请日:20071227

    专利权的终止

  • 2009-12-02

    授权

    授权

  • 2008-09-10

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-07-16

    公开

    公开

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