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测量微小电容之间差异性的电路及方法

摘要

本发明公开了一种测量微小电容之间差异性的电路,第一组电路包括串联的电容C1和电容C2,电容C1一端连接输入电压,电容C2另一端接地,电容C1与电容C2连接处与晶体管栅极连接,晶体管漏极接地,源极连接电流源流出端,该连接处为输出电压,电流源另一端接地。第二组电路将第一组电路中加在电容C1端的电压加在电容C2上。本发明还公开一种测量微小电容之间差异性的方法,首先,对第一组电路测试多组输入输出电压值;根据上述数据计算输出电压随输入电压变化斜率;对第二组电路测试多组输入输出电压值;第四步,根据第三步数据计算输出电压随输入电压变化斜率;最后,计算微小电容之间差异。本发明能提高测量的精确度和效率。

著录项

  • 公开/公告号CN101178421A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2008-05-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹NEC电子有限公司;

    申请/专利号CN200610118046.9

  • 发明设计人 胡晓明;

    申请日2006-11-08

  • 分类号G01R27/26;G01R31/00;

  • 代理机构上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人顾继光

  • 地址 201206 上海市浦东新区川桥路1188号

  • 入库时间 2023-12-17 20:11:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-04

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R27/26 公开日:20080514 申请日:20061108

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2008-07-09

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-05-14

    公开

    公开

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