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具有用于将信号光映射到探测器上的衍射光学元件的光学系统

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摘要

本发明涉及光学系统，具体地，所述光学系统能够实现对从光源(1)通过平玻璃衬底(11)传播的信号光的改进探测。通过第一衍射光学元件DOE(21)将这一信号光中通常会在所述衬底(11)的所述背面(10)处受到全内反射的SC模式耦合出来。为了将离开所述衬底(11)的所有信号光映射到单个目标位置(51)上，将聚焦透镜(31)和第二DOE(41)设置在处于所述衬底(11)后面的光路内。例如，所述DOE(21，41)可以是1D正弦光栅或2D闪耀光栅。具体地，可以将所述光学系统应用到用于探测荧光样本材料的多点的检验设备中。

著录项

公开/公告号CN101151519A

专利类型发明专利
公开/公告日2008-03-26

原文格式PDF
申请/专利权人皇家飞利浦电子股份有限公司;
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申请/专利号CN200680009989.6
发明设计人 M·巴利斯特雷里;D·J·W·克隆德;M·范赫佩恩;
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申请日2006-03-27
分类号G01N21/64;G02B27/00;
代理机构永新专利商标代理有限公司;
代理人王英
地址荷兰艾恩德霍芬
入库时间 2023-12-17 20:02:40

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2010-08-11

发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/64 公开日:20080326 申请日:20060327

发明专利申请公布后的驳回
2008-06-25

实质审查的生效

实质审查的生效
2008-03-26

公开

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1. 具有用于将信号光映射到探测器上的衍射光学元件的光学系统 [P] . 中国专利： CN101151519A . 2008-03-26
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