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在X射线CT中进行散射校正的方法和应用该方法的CT

摘要

按照本发明建议,在总是要测量的正弦图的基础上按照带有下列方法步骤的两个阶段的方法对散射进行估计:1.根据正弦图中的对象切线(ST)为每条测量射线(SM)确定可能的散射位置(Z);以及2.根据到达所述散射位置(Z)上的原始辐射以及所述散射射线(SS)、对象切线(ST)和测量射线(SM)的角度关系计算散射的强度。此外,本发明还提出了一种用于产生断层造影照片的X射线CT(1),其包括至少两个焦点-检测器系统(2,3,4,5)以及一个控制和计算单元(10),其控制和计算单元(10)包含程序代码(Prgx),在执行所述程序代码时实施上述方法。

著录项

  • 公开/公告号CN101061957A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-10-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西门子公司;

    申请/专利号CN200710100917.9

  • 申请日2007-04-28

  • 分类号A61B6/03(20060101);G01T1/16(20060101);G01N23/04(20060101);G06T7/00(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人谢强

  • 地址 德国慕尼黑

  • 入库时间 2023-12-17 19:20:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-12-23

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-10-31

    公开

    公开

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