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硅整流器件的电泳法玻璃钝化工艺

摘要

本发明涉及一种硅整流器件的玻璃钝化工艺,特别涉及一种硅整流器件的电泳法玻璃钝化工艺,首先用混酸将经光刻后的扩散硅片腐蚀出PN结沟槽,然后将丙酮、玻璃粉、硝酸按比例混合,配制成电泳液。使用电泳装置,利用电泳法将玻璃粉均匀的沉积在硅PN结台面沟槽中,最后在温度820℃的纯氧气条件下,将电泳处理后硅片进行玻璃烧成。该工艺能有效地控制硅PN结沟槽玻璃钝化层厚度,使制成的器件的反向电性能稳定。

著录项

  • 公开/公告号CN101055839A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2007-10-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津中环半导体股份有限公司;

    申请/专利号CN200710057091.2

  • 申请日2007-04-06

  • 分类号H01L21/18(20060101);H01L21/316(20060101);H01L21/308(20060101);C03C17/00(20060101);C03C15/00(20060101);C03C17/02(20060101);

  • 代理机构12105 天津中环专利商标代理有限公司;

  • 代理人胡京生

  • 地址 300384 天津市新技术产业园区华苑产业区(环外)海泰东路12号

  • 入库时间 2023-12-17 19:16:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-11-23

    专利权质押合同登记的生效 IPC(主分类):H01L21/18 登记号:2016120000064 登记生效日:20161027 出质人:天津中环半导体股份有限公司 质权人:天津中环电子信息集团有限公司 发明名称:硅整流器件的电泳法玻璃钝化工艺 授权公告日:20090218 申请日:20070406

    专利权质押合同登记的生效、变更及注销

  • 2009-02-18

    授权

    授权

  • 2007-12-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-10-17

    公开

    公开

说明书

技术领域

本发明涉及一种硅整流器件的玻璃钝化工艺,特别涉及一种硅整流器件的电泳法玻璃钝化工艺。

技术背景

当前,硅整流器件的芯片多采用玻璃钝化,而方法有几种,较为普遍的是刀刮法、光阻玻璃法等,其中刀刮法工艺相对简单,但由于是人工涂敷玻璃粉,玻璃钝化膜薄厚均匀性较难控制;而光阻玻璃法在进行钝化时引用光刻胶,受光刻胶材料纯度的影响,其产品稳定性不易控制,器件反向漏电流不稳定,可靠性差。

发明内容

鉴于以上技术上存在的不足,本发明提供一种硅整流器件的电泳法玻璃钝化工艺,其技术方案是:该方法包括以下工艺步骤:

(1).将扩散后硅片在高温1120℃下分别通干氧、湿氧、干氧,进行氧化;

(2).再将氧化后硅片进行涂胶、前烘、曝光、显影、坚膜等光刻过程,做好光刻图形;

(3).将硝酸、氢氟酸、乙酸按以下的比例配制成混酸腐蚀液:

硝酸:30~65%

氢氟酸:15~30%

乙酸:10~45%

然后将光刻后的硅片进行腐蚀,刻蚀出PN结沟槽;

(4).配制电泳液:将丙酮、玻璃粉、硝酸按照以下的比例配制成电泳液:

丙酮:80~97%

玻璃粉:2~19%

硝酸:0.005~1%

(5).将装有电泳液的石英方杯放置在电泳装置中,启动超声波进行超声15min,即可进行电泳;

(6).将电泳后的硅片在温度为820℃的氧气氛围下进行玻璃烧成。

本发明的特点是:该工艺能有效地控制硅PN结沟槽玻璃钝化层厚度,使制成器件的反向电性能稳定。

具体实施方式

下面根据具体实例描述本发明实施过程:

将扩散后硅片放在温度为1120℃的氧化炉中,在干氧、湿氧、干氧的气氛下生长保护膜,时间分别为干氧20min、湿氧60min、干氧20min,氧化膜厚度为8000埃——9000埃,将生长氧化膜的硅片进行光刻。

将硝酸、氢氟酸、乙酸按以下的比例:

硝酸:2500mL

氢氟酸:1000mL

乙酸:1500mL

依次倒入腐蚀槽。将光刻后硅片放入混酸液中腐蚀出PN结台面,并超声清洗干净。

将丙酮、玻璃粉(SiO2、PbO)、硝酸按照以下的比例配制成电泳液:

丙酮:5100g

玻璃粉:840g

硝酸:60mg

依次倒入石英杯中,配制成电泳液,超声15min。

将腐蚀出沟槽的硅片装到电泳架上,将电泳架安到电泳装置上,并设定电泳时间为5min,进行电泳,使玻璃粉沉积到硅片沟槽中。

电泳结束后,取出硅片,放到石英舟中。

烧成炉的温度调到820℃,接通氧气,将放有电泳后硅片的石英舟放到烧成炉中,使玻璃粉熔融,时间为20min。

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